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      德國(guó)20場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱浙江普津儀器科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地嘉興市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2018/12/27 10:02:36
      • 訪問次數(shù)545
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            浙江普津儀器科技有限公司專業(yè)提供從基礎(chǔ)型到專業(yè)化的實(shí)驗(yàn)室、生命科學(xué)、計(jì)量?jī)x器和工業(yè)檢測(cè)儀器。多年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)分析領(lǐng)域,為各級(jí)實(shí)驗(yàn)室提供世界優(yōu)良品質(zhì)的檢測(cè)儀器,并以專業(yè)、全面的支持和售后服務(wù)贏得了良好聲譽(yù),是國(guó)內(nèi)*實(shí)力的實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)儀器集成供應(yīng)商,擁有廣泛而穩(wěn)固的客戶群體和分銷網(wǎng)絡(luò)。目前,總部設(shè)在浙江嘉興,并在杭州、寧波、金華、衢州等設(shè)有聯(lián)絡(luò)處,業(yè)務(wù)覆蓋全國(guó)。 

             公司自創(chuàng)建伊始,即致力于科學(xué)儀器。目前擁有十多個(gè)歐、美、日、國(guó)內(nèi)品牌,產(chǎn)品資源豐富,種類齊全。品牌包括有Metrohm、磐諾Panna、Brookfield、普析通用Persee、Merck millipore、Hach、Analytik Jena、Netzsch、Perkinelme、Agilent、Shimadzu、Thermo、SDL Atlas、Mahr、Sartorius、Bio-Rad、Bruker、Anton Paar、Quantachrome、Phenom、Zeiss等國(guó)內(nèi)外的一級(jí)代理權(quán),并與Metrohm、磐諾Panna、Brookfield、Perkinelme、Analytik Jena、Sartorius等多家品牌合作,同時(shí)設(shè)有多家廠商在浙江省的維修聯(lián)絡(luò)處,產(chǎn)品涵蓋實(shí)驗(yàn)室分析儀器、生命科學(xué)儀器、計(jì)量檢測(cè)儀器、化學(xué)分析、物性測(cè)試、生化測(cè)試等,涉及從化工、制藥、日化、食品、涂料、建材、電子、汽車到農(nóng)業(yè)、商檢、質(zhì)檢、衛(wèi)生防疫以及高校、研究單位等各行各業(yè)的各級(jí)實(shí)驗(yàn)室。 普津科技,多年來(lái)穩(wěn)步發(fā)展,憑借驕人的銷售業(yè)績(jī)而享受全面的*和支持,為廣大客戶提供更廣闊的選擇空間、更合適的產(chǎn)品,也為每一位客戶提供及時(shí)周到的售后服務(wù),確保耗材和配件的*供應(yīng)。

      液相色譜儀,熱重分析儀,差示掃碼量熱議
      精確度 1%
      德國(guó)20場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡是一款擁有第三代GEMINI鏡筒的高性能場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡,它有的擺動(dòng)緩沖系統(tǒng),并結(jié)合了5軸驅(qū)動(dòng)載物臺(tái),通過不斷變換電壓可以獲得很高的分辨率。對(duì)于使用者來(lái)說,SUPPRA 55 SAPPHIRE的系統(tǒng)功能強(qiáng)大,可以在性對(duì)不穩(wěn)定的環(huán)境下完成檢測(cè),*分析型的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡探針電流可達(dá)到20nA,適用范圍如材料領(lǐng)域、半導(dǎo)體技術(shù)、生命科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域等。
      德國(guó)20場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      德國(guó)20場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡全部采用新一代鏡筒(GEMINI)設(shè)計(jì),具有優(yōu)良的高、低加速電壓性能。創(chuàng)新的InLens設(shè)計(jì)是目前世界上真正的內(nèi)置鏡筒電子束光路上二次電子探測(cè)器,具有靈敏度和高的接收效率,而且只接收來(lái)自樣品表面的二次電子,因此具有業(yè)界高等級(jí)的分辨率和圖像質(zhì)量。二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器均內(nèi)置于鏡筒電子束光路上,試樣的工作距離不受背散射探測(cè)器的影響,可以非常接近極靴,這樣可以同時(shí)獲得高的二次電子像分辨率和背散射電子像分辨率,且接收的背散射電子的能量可以控制。ZEISS的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡創(chuàng)造性的采用電磁、靜電復(fù)合式物鏡,雜散磁場(chǎng)小,可對(duì)鐵磁體樣品進(jìn)行高分辨率
      產(chǎn)品應(yīng)用:
      掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測(cè)量。
       

      德國(guó)20場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)
      分 辨 率:   0.8nm@ 15KV   
                             1.6nm @ 1KV          
                             2.0nm @ 30KV(VP mode)
      放大倍數(shù):  12 - 1,000,000x
      加速電壓:   0.02 - 30 KV
      探針電流:   4 pA - 20 nA (12pA - 100 nA 可選)
      樣 品 室:   330 mm (φ) x 270 mm (h)
      樣 品 臺(tái):   5軸優(yōu)中心全自動(dòng)
                             X = 130mm
                             Y = 130 mm
                             Z = 50mm
                             T = -3 to 70°
                             R = 360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)
      系統(tǒng)控制:  基于Windows XP 的SmartSEM操作系統(tǒng),可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制

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