LYRA雙束聚焦離子束掃描電鏡的設(shè)計(jì)適用于各種各樣的SEM應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于EDX、WDX、EBSD、3維斷層掃描等分析應(yīng)用。借助于高性能軟件，TESCAN的FIB-SEM已成為適合電子束/離子束光刻、TEM樣品制備等應(yīng)用的強(qiáng)大工具。LYRA3聚焦離子束掃描電子顯微鏡配備了XM與GM兩種樣品室。

現(xiàn)代電子光路

*的大視野光路設(shè)計(jì)提供各種工作與顯示模式

以電磁的方式改變物鏡光闌——中間鏡的作用如同“光闌轉(zhuǎn)換器”

結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計(jì)軟件的實(shí)時(shí)電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)，可模擬和優(yōu)化電子束

全自動(dòng)鏡筒設(shè)置與對(duì)中

成像速度很快

3維電子束技術(shù)提供實(shí)時(shí)立體圖像

可選的電子束遮沒裝置提供了電子束光刻技術(shù)

高性能離子光路

高性能CANION FIB設(shè)備提供既快又精確的切片與TEM樣品制備技術(shù)

可選的高分辨率COBRA-FIB離子束設(shè)備在成像與銑削過(guò)程中依然保持很高的分辨率

聚焦離子束裝置

裝有兩套差異泵的*離子束裝置使離子散射效應(yīng)較更低

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器

電子束遮沒裝置與法拉第筒作為標(biāo)配

同時(shí)可以進(jìn)行離子刻蝕/沉積與SEM成像

FIB的操作軟件集成在SEM軟件

軟件工具欄包括了基本形狀與可編程的參數(shù)

微/納米加工

離子束光刻

LYRA雙束聚焦離子束掃描電鏡維修簡(jiǎn)單

只需要很短的停機(jī)檢修時(shí)間，就能使得電鏡*保持在優(yōu)化的狀態(tài)。每個(gè)細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)得非常仔細(xì)，使得儀器的效率大化，操作簡(jiǎn)化。

自動(dòng)程序

自動(dòng)設(shè)置和許多其他的自動(dòng)化操作是設(shè)備的特點(diǎn)之一。除此之外，電鏡還有樣品臺(tái)自動(dòng)導(dǎo)航與自動(dòng)分析 程序，能明顯減少操作員的操作時(shí)間。通過(guò)內(nèi)置腳本語(yǔ)言 (Python)可進(jìn)入操作軟件的大多數(shù)功能，包括顯微鏡控制、樣品臺(tái)控制、圖像采集、處理與分析。通過(guò)腳本語(yǔ)言用戶還可以編程其自己的自動(dòng)操作程序。

用戶界面友好的軟件與軟件工具

多用戶和多語(yǔ)言操作界面

圖像管理與報(bào)告生成

內(nèi)置的系統(tǒng)檢查與系統(tǒng)診斷

網(wǎng)絡(luò)操作與遠(yuǎn)程進(jìn)入/診斷

模塊化的軟件結(jié)構(gòu)

標(biāo)準(zhǔn)的軟件模塊包括：自動(dòng)離子束控制、電子束寫入基本版、同時(shí)的FIB/SEM成像、預(yù)定義FIB工作模式等軟件工具

可選軟件包括了：顆粒度分析標(biāo)準(zhǔn)版/專家版、3維表面重建等模塊

電子束寫入軟件使聚焦離子束掃描電子顯微鏡成為能進(jìn)行電子束曝光、電子束沉積、電子束刻蝕、離子束沉積、離子束減薄的強(qiáng)大工具

可選的3D Tomography軟件提供使用FIB時(shí)的全自動(dòng)連續(xù)SEM圖像，三維重構(gòu)與三維可視化