TL-200 推力測(cè)試機(jī)是針對(duì)物聯(lián)網(wǎng)RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行芯片推力測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一款設(shè)備,測(cè)試的數(shù)據(jù)能與帶電腦控制的推拉力測(cè)試機(jī)相當(dāng),經(jīng)濟(jì)實(shí)惠,用于實(shí)驗(yàn)室和自動(dòng)化生產(chǎn)線上非常適合。
TL-200 推力測(cè)試機(jī)
特點(diǎn):
1》采用連續(xù)變倍顯微鏡;
2》定制化的推刀;
3》采用進(jìn)口推拉力測(cè)試儀;
4》天線的固定方便快捷,天線吸附帶有真空吸附功能;
5》整體加工零件表面采用硬質(zhì)化處理,大方美觀。
操作流程:
1》固定天線到預(yù)定位置,打開(kāi)真空;
2》調(diào)整顯微鏡,能很清晰看到芯片位置;
3》微調(diào)推力測(cè)試儀至芯片正前方,確定推刀高度;
4》前移推力測(cè)試儀,推芯片;
5》察看推力測(cè)試儀記錄的大推力值,記錄下來(lái)作為終測(cè)試數(shù)值;
6》如此循環(huán)上面的操作。