一、可編程高低溫溫度循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù)
容量/內(nèi)部尺寸(HxDmm)/外部尺寸(HxDmm)
80L/400X500X400/970X1360X9700
150L/500X600X500/1070X1450X1070
225L/500X750X600/1070X1610X1180
408L/600X850X800/1170X1710X1280
800L/1000X1000X800/1650X1950X1280
1000L/1000X1000X1000/1650X1950X1700
溫度范圍:-75℃,-60℃,-40℃,-20℃,0℃,+150℃
降溫速率:RT~-20℃/45min(空載下)
升溫速率:RT~+150℃/40min(空載下)
溫度波動度:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃
內(nèi)箱材質(zhì):測試區(qū)內(nèi)箱選擇優(yōu)質(zhì)不銹鋼板 ( SUS # 304 )。
外箱材質(zhì):烤漆或者不銹鋼板可選。
二、可編程高低溫溫度循環(huán)試驗箱執(zhí)行與滿足標準
GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗;
GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。
GB11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部:高溫試驗
GJB150.4A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部:低溫試驗
三、安裝場地:
設備周圍無強烈振動;地面平整,通風良好。
設備周圍無強電磁場影響;無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵。
設備周圍留有適當?shù)氖褂眉熬S護空間,
供電條件:要求用戶在安裝現(xiàn)場配置相應容量的空氣或動力開關,并且此開關必須是獨立供本設備使用220V電源單相兩線+保護地線
zui大電流功耗:電流(25)A 功率:5.5KW
其他:試驗過程中打開試驗箱的門,會造成箱內(nèi)的溫、濕度波動;在試驗過程中如果多次打開門或長時間敞開門或試驗樣品散發(fā)濕氣,可能會造成制冷系統(tǒng)換熱器結(jié)冰而無法正常工作。
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