中山LED芯片高低溫沖擊試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；

GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

GJB150.5-86溫度沖擊試驗；

GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式

IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

GB/T 2423.22-2002溫度變化

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

高低溫沖擊試驗箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫或極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在更短的時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或無理傷害，常用于：電子、電路板、汽車、PCB板、LED燈、LED顯示屏、液晶屏、食品、航天、航空、塑料、橡膠、醫(yī)藥、五金、建材、高校以及軍事、科工集團研發(fā)和品質(zhì)檢測之用。

中山LED芯片高低溫沖擊試驗箱參數(shù)：

型  號：  KW-TS-80  

內(nèi)箱尺寸（W*H*D）mm：500*400*400  

蓄熱升溫時間：RT~200℃約45分鐘

蓄冷降溫時間：RT~-75℃約100分鐘

測試區(qū)高溫時間：+60~150℃；測試區(qū)低溫時間：-10

℃~-40℃/-55℃/-65℃

溫度恢復(fù)時間/轉(zhuǎn)換時間：≤5min/≤5sec

特點:

1.低溫沖擊機分為高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，待測物放在吊籃中，通過吊籃移動到高低溫區(qū)進行溫度沖擊。

2.產(chǎn)品測試時為移動式，可由測試孔外加負(fù)載配線。

3.該設(shè)備適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復(fù)沖擊，試驗出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。

4.采用KW-900數(shù)控式彩色液晶（LCD）顯示人機界面控制器熒幕畫面。操作簡單，容易學(xué)習(xí)，中、英文顯示完整操作狀況，執(zhí)行及設(shè)定程式曲線。

5.具有RS-232通訊界面及連線軟體，可于電腦熒幕上設(shè)計程式，收集測試資料與記錄，呼叫程式執(zhí)行，遙控機械開關(guān)機等功能。

6.可在預(yù)約開機時間控制中自動提前預(yù)熱，預(yù)冷待機，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開始循環(huán)或沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動除霜等功能。

7.具備全自動、高精密系統(tǒng)回路，任一機件動作，*由P.L.C鎖定處理,溫度控制精度高,全部采用P.I.D自動演算控制。

8.出風(fēng)口與回風(fēng)口感知器檢知控制，風(fēng)向閘門切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。

9.運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，熒幕上即刻自動顯示故障原因及提供排除故障的方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置。

10.冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，冷凍機組采用歐美*壓縮機，并使用環(huán)保冷媒。

                    采用法國*泰康牌壓縮機

11.箱體內(nèi)外部材質(zhì)采用不銹鋼板（SUS304#），外箱為冷軋鋼板烤漆，以增外觀質(zhì)感及潔凈度。

12.箱體左側(cè)有一直徑50mm之測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。

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