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韓國先鋒XRF-2000X射線鍍層測厚儀
基本技術(shù)參數(shù)：
1、測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可滿足的測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳等
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底料。
三、設(shè)備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量
定點自動定位分析
光徑對準(zhǔn)全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時效
1、主機箱：
輸入電壓：AC220V±10%，50/60Hz
溝通方法：RS-232C
溫度控制：前置放大及機箱溫度控制
對焦：激光自動對焦
樣品對位：激光對位
安全裝置：若測量中箱門打開，X射線會在0.5秒內(nèi)自動關(guān)閉
表面泄露：少于1SV
2、多通道分析：
通道數(shù)量：1024ch
溫度控制：自動前置放大溫度控制
脈沖處理：微電腦高速控制處理器
3、X射線源：
X射線管：油冷、超微細對焦
高壓：0-50Kv（程控）
管電流：0-1mA（程控）
目標(biāo)靶：W靶（可選Mo或Be）
4、準(zhǔn)直器：
固定種類大?。?.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五個可選
可測六層.誤差大約如下:
*層(5%).
第二層(8%).
第三層(15%).
第四層(20%).
第五層(25%)
第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.
以下是一些應(yīng)用參考.
XRF-2000鍍層測厚儀可測範(fàn)圍
Au 0.4-120uinch. Ni 10-400uinch.
Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch
Sn 100% 40-3500uinch.
Sn 60% 40-1500uinch.
Sn 90% 40-2000uinch
Au 0.5-320uinch
Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch
Sn 40-2500uinch.
韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號
不同型號各種功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計,可檢測大型樣品
檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
儀器功能
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
XRF2000電鍍鍍層測厚儀/電鍍膜厚測試儀
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*?？蓽y量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：
電腦,液晶顯示器，
彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計功能
