輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)

GTEM吉赫茲?rùn)M電磁波室

GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)*IEC61000-4-3（GB/T17626.3），為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)。GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及操控軟件和GTEM室體組成。

輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)介紹

用GTEM（吉赫茲?rùn)M電磁波）進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來(lái)電磁兼容領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)。由于GTEM的寬頻帶特性（從直流到微波），低造價(jià)（只相當(dāng)電波暗室造價(jià)的百分之幾），既可用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)（EMS試驗(yàn)。有時(shí)也稱抗擾度試驗(yàn)），又可用于電磁輻射試驗(yàn)（EMI試驗(yàn)）而且所用儀器（相對(duì)在電波暗室中做試驗(yàn)來(lái)說(shuō)）有配置簡(jiǎn)單，成本便宜和可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn)，所以越來(lái)越受到和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。其中尤以對(duì)待小設(shè)備的測(cè)試，GTEM小室的測(cè)量方案是性能價(jià)格比的測(cè)試方案。

需要重點(diǎn)指出的是：目前IEC61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)中已在附錄中取消GTEM室的內(nèi)容，轉(zhuǎn)而通過(guò)單列IEC61000-4-20標(biāo)準(zhǔn)重新描述GTEM小室技術(shù)，目前在電表標(biāo)準(zhǔn)中引用的為IEC61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)，即意味著zui終檢測(cè)認(rèn)定須在暗室內(nèi)測(cè)試環(huán)境下評(píng)定，但GTEM室在射頻輻射抗擾度測(cè)試項(xiàng)目中對(duì)小體積設(shè)備測(cè)試的應(yīng)用測(cè)試結(jié)果的*性已為很多檢測(cè)機(jī)構(gòu)認(rèn)同，加之其擁有暗室測(cè)量系統(tǒng)*的高性價(jià)比，使更多企業(yè)能夠進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)，所以目前還是許多企業(yè)進(jìn)行射頻輻射抗擾度測(cè)試的*方案。

試驗(yàn)?zāi)康?/strong>

為評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電子磁場(chǎng)干擾的能力建立一個(gè)共同的依據(jù)。

 GTEM小室

隨著技術(shù)的發(fā)展，電磁環(huán)境的惡化，測(cè)試頻率已從早期的27～500MHz擴(kuò)展到今天的80～1000MHz。其中高頻段的擴(kuò)展與的普遍使用有關(guān)。如它的工作頻率已擴(kuò)展到900 MHz（甚至更高）。對(duì)80 MHz的下部分將由GB/T17626.6-1998（對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)為IEC61000-4-6：1995）以傳導(dǎo)的方式進(jìn)行補(bǔ)充。

GTEM室常用試驗(yàn)儀器

信號(hào)發(fā)生器（注意其帶寬，要求調(diào)幅功能，能自動(dòng)掃描，在掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可控，信號(hào)輸出幅度可控）；

功率放大器（注意其帶寬，另外zui大輸出功率應(yīng)與試驗(yàn)的場(chǎng)強(qiáng)相匹配）；

天線（輻射天線）

場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭；

場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)備。

為完成自動(dòng)測(cè)量，還要增加計(jì)算機(jī)相應(yīng)的控制軟件。

 試驗(yàn)的嚴(yán)酷度等級(jí)

分三級(jí)：        

    1級(jí) 1V/m

    2級(jí) 3V/m

    3級(jí) 10V/m

    其中：1級(jí)為 低輻射環(huán)境，如離電臺(tái)電視臺(tái)1km以上附近只有小功率在使用。2級(jí)為中等輻射環(huán)境，如不在近于1m處使用小功率，是典型的 商業(yè)環(huán)境。3級(jí)是較為嚴(yán)酷的輻射環(huán)境，如在1m左右處使用；或附近有大功率發(fā)射機(jī)在工作，為典型的工業(yè)環(huán)境。

GTEM小室

    GTEM小室是在橫電磁波室（TEM室）的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)一種新型電磁兼容測(cè)試設(shè)備。后者本身具有結(jié)構(gòu)封閉，不向外輻射電磁能量，不影響操作人員健康和不干擾其它儀器的工作；由于結(jié)構(gòu)封閉的特點(diǎn)，亦不受外界環(huán)境及干擾的影響；工作頻率較寬，可從DC～1000MHz，甚至更高；場(chǎng)強(qiáng)范圍大，從強(qiáng)場(chǎng)（如300V/m）至弱場(chǎng)（如10μV/m）均可測(cè)試，且場(chǎng)值控制容易。

吉赫芝橫電磁中心處的電場(chǎng)強(qiáng)度為

E＝PoRcd ( V/m)

式中，E：  電磁場(chǎng)強(qiáng)度的垂直分量

      Po： 饋至赫芝橫電磁波室的射頻功率

      Rc： 吉赫芝橫電磁波室的特性阻抗

      D：  芯板與上下板之間的垂直距離

從式中可見(jiàn)較小赫芝橫電磁波室的芯板與上、下底板間的尺寸，可獲得較大的場(chǎng)強(qiáng)值。

用GTEM小室構(gòu)成輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)。

用GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)如圖2所示，主要由信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及軟件和GTEM小室組成。

用GTEM小室的輻射敏感度測(cè)試系統(tǒng)主要性能指標(biāo)：

頻率范圍：     DC－18GHz（系統(tǒng)配置頻率根據(jù)儀器指標(biāo)確定）

輸入阻抗：50Ω±5Ω（典型值：50Ω±2Ω）

電壓駐波比：≤1.75（典型值：≤1.5）

zui大輸入功率： 1000W

電場(chǎng)強(qiáng)度范圍：0.01-200V/m（根據(jù)輸入功率大小）

同軸接頭：L16（N型）

zui大外型尺寸：約6m×3m×2m（6米小室）

4m×2.5m×2m（4米小室）

GTEM室射頻：

技術(shù)指標(biāo)： 頻率范圍：2GHz

zui大電場(chǎng)強(qiáng)度范圍：>500V/m

zui大外型尺寸：約6m×3.2m×2.1m

zui小精準(zhǔn)測(cè)試試品尺寸：20cm×20cm×20cm(長(zhǎng)×寬×高)

zui大試品高度：40cm-125cm