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      可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測(cè)試箱

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地東莞市
      • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
      • 更新時(shí)間2016/1/29 12:08:58
      • 訪問次數(shù)494
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      產(chǎn)銷產(chǎn)品

      東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司主要生產(chǎn)與銷售的產(chǎn)品有:交變濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱、紫外光試驗(yàn)箱、氙燈老化箱恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室、沙塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱鹽水噴霧試驗(yàn)箱、各種振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)拉力試驗(yàn)機(jī)、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、按健壽命試驗(yàn)機(jī)紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、工業(yè)烘烤箱等模擬環(huán)境檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備系列產(chǎn)品。

      冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,氙燈耐候試驗(yàn)箱,紫外線耐老化試驗(yàn)箱,多功能氙燈老化試驗(yàn)機(jī),高低溫恒溫試驗(yàn)箱,步入式恒溫恒濕測(cè)試房,大型步入室燒機(jī)房
      可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測(cè)試箱5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏,中英文操作畫面任意選擇,觸控式屏幕面板,操作簡(jiǎn)單,美觀大方,程序編輯容易。
      可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測(cè)試箱 產(chǎn)品信息

      可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測(cè)試箱技術(shù)參數(shù):
      高/低溫試驗(yàn)箱 AP-GD-80    AP-GD-150    AP-GD-225    AP-GD-408
      內(nèi)箱尺寸(mm)    400×500×400    500×600×500    500×750×600    600×850×800
      運(yùn)行方式:程序運(yùn)行,可編定多個(gè)程序循環(huán)做試驗(yàn)
      技術(shù)參數(shù)
      高低溫度范圍:0~150℃;-20~150℃;-40~150℃;-60~150℃;-70~150℃
      溫度波動(dòng)度:±0.5℃
      溫度均勻度:≤2.0℃
      溫度偏差:±2℃
      溫度控制器:原裝韓國進(jìn)口三元品牌的TEMI880智能型控制系統(tǒng)
      溫度傳感器:Pt100鉑電阻
      制冷系統(tǒng)
      制冷壓縮機(jī)/方式    進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)組/單級(jí)壓縮制冷,二元復(fù)疊壓縮制冷
      冷卻方式:風(fēng)冷
      安全保護(hù)措施:超壓、漏電、超溫、過載、短路等保護(hù)
      材料:箱體/保溫材料:外殼高級(jí)不銹鋼板靜電噴塑、內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板、保溫材料:聚氨酯泡沫
      標(biāo)準(zhǔn)配置:¢50測(cè)試孔一個(gè)(多個(gè)或者更大直徑請(qǐng)下單時(shí)說明),試品擱板二套,照明燈

      可程式控制器的主要功能:
      1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏,中英文操作畫面任意選擇,觸控式屏幕面板,操作簡(jiǎn)單,美觀大方,程序編輯容易。
      2、zui大具有120組可編定的程序容量,每組可記憶100段溫度自行操作。
      3、具有多項(xiàng)擴(kuò)充功能,控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī),也可定制USB導(dǎo)出數(shù)據(jù),可連接打印機(jī)打印高低溫度曲線監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)。
      4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實(shí)時(shí)顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
      5、故障報(bào)警,并顯示排除故障的方法。
      6、采用*的微處理器芯片,可靠性高,抗*力強(qiáng)。

      可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測(cè)試箱指的是工業(yè)成品、半成品、產(chǎn)業(yè)界零配件、原材料做科學(xué)研究實(shí)驗(yàn)的基本設(shè)備之一。根據(jù)科學(xué)研究實(shí)驗(yàn)的目的,盡可能地排除外界環(huán)境不同高低溫氣候的影響,突出主要溫度并利用高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備人為地設(shè)定變溫、控制或模擬環(huán)境氣溫,使一些的產(chǎn)品在生產(chǎn)或者使用(或過程)發(fā)生或再現(xiàn)真實(shí)性環(huán)境實(shí)驗(yàn),從而去測(cè)試、試驗(yàn)、對(duì)比、檢測(cè)因自然界的環(huán)境現(xiàn)象、氣候性質(zhì)、物理傷害等效果評(píng)估。

      執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
      GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
      GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
      GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
      GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法;
      GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;
      GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;。
      MIL-STD810D方法502.2 美國標(biāo)準(zhǔn);
      IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
      EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

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