光學膜厚控制儀(器材) 型號:MN66-GM-X03 庫號:M12664
真空鍍膜,膜厚控制儀
本儀器是相位鎖定放大器,用于光學鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道,參考信號通道和的四階低Q濾波組成,有很強的諧波抑制能力和動態(tài)儲備,能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。
采用進品高精密元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測試,確保儀器具有可靠的質(zhì)量和*的性能。
高穩(wěn)定性。操作簡便,實用性強
參數(shù):
GM-X03
主信號通道:電壓單端輸入
滿程靈敏度:0.5mV~500mV
頻率范圍:1KHz,±5%
鎖相噪聲:≦4nV
線性誤差:≦1%
零點漂移:0.2%(小時)
參考信號通道:電壓單端輸入
輸入幅度:20mV~700mV
頻率范圍:1KHz,±5%
相位鎖定范圍:≧320°
電源電壓:220VAC/50Hz
外形尺寸:寬482x高89x深322(mm)/標準2U面板
凈重:7.5Kg
光學膜厚控制儀(器材) 型號:MN66-GM-X03