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意大利JULIGHT公司的自混頻干涉型激光測(cè)振儀 產(chǎn)品介紹
在一些特殊情況下，比如測(cè)試物體不能直接觸及，或者傳統(tǒng)的接觸式傳感器（加速度傳感器）不能派上用場(chǎng)時(shí)，非接觸式振動(dòng)測(cè)量就顯得尤其至關(guān)重要。下列情況：
- 測(cè)試件本身很輕 （壓電傳感器，喇叭薄膜）
- 測(cè)試物件處于高溫
- 測(cè)試物件在旋轉(zhuǎn)
- 操作者為了節(jié)省時(shí)間，不想把時(shí)間浪費(fèi)在加速度傳感器粘貼上。
意大利JULIGHT公司的自混頻干涉型激光測(cè)振儀
Julight公司為不需接觸被測(cè)件表面的遠(yuǎn)距離振動(dòng)測(cè)量提供了兩個(gè)系列產(chǎn)品。
一．.激光測(cè)振儀
激光測(cè)振儀
1. 原理
Julight 公司的激光測(cè)振儀是基于新穎的自混頻干涉結(jié)構(gòu)而成的，可以對(duì)粗糙發(fā)散的表面（比如未拋光的金屬，塑料，橡皮，紙質(zhì)，纖維等）進(jìn)行極易而精確的非接觸振動(dòng)測(cè)量。激光測(cè)振儀提供模擬的電信號(hào)輸出，這些電信號(hào)就是在某一頻率的目標(biāo)位移的復(fù)制品（ 1mv/um響應(yīng)率，對(duì)應(yīng) 1mm/V）。頻率范圍從DC到50KHZ ,zui小的可測(cè)位移為0.4nm (1HZ噪聲寬帶)，zui大的振動(dòng)幅值（峰峰值）可以大于20mm,zui大的速率可以使1 m/s .
Julight公司的激光測(cè)振儀的zui顯著的特點(diǎn)就是具有非常小的光學(xué)頭：
-標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)頭，帶斑點(diǎn)追蹤功能（大?。?05mm x 60mm x 40mm)，有定焦和自動(dòng)對(duì)焦兩個(gè)版本。
-可選的超小的光學(xué)頭，不帶斑點(diǎn)追蹤和自動(dòng)對(duì)焦功能（大?。洪L(zhǎng)50 mm,直徑 15mm）
處理干涉信號(hào)的簡(jiǎn)單二有效的電子系統(tǒng)可以做得和精致，一臺(tái) VSM400(或 VSM4000)儀器能夠支持4個(gè)光學(xué)頭（也就是說(shuō)4個(gè)獨(dú)立的光學(xué)通道），因此，這樣的話，就可以進(jìn)行同時(shí)測(cè)量不同點(diǎn)的振動(dòng)，而無(wú)需使用掃描系統(tǒng)來(lái)完成。
激光測(cè)振儀系列產(chǎn)品參數(shù)比較表
型號(hào) 指標(biāo) |
VSM100
|
VSM100+
|
VSM400
|
VSM1000
|
VSM4000
|
VSM100-US
|
VSM300-3D-US
|
性能參數(shù) |
25.5 mm |
49.2 mm |
25.5 mm |
25.5 mm |
25.5 mm |
2 um |
2 um |
測(cè)量zui大值 （峰-峰） | |||||||
zui大速度 | ＞1 m/s | ＞ 0.3 m/s | ＞ 1 m/s | ＞ 1 m/s | ＞ 1 m/s |
| ＞ 60 m/s |
輸出信號(hào) | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號(hào) 光信號(hào)輸出 （模擬量） 斑點(diǎn)追蹤 （數(shù)字信號(hào)） |
輸出信號(hào)響應(yīng)率 |
位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） |
位移：0.5V/mm 速度：5V/（m/s） |
位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） |
位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） |
位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） |
5V/um |
位移：1V/um 速度：0.01/（m/s） |
分辨率 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
噪聲對(duì)等位移 | 0.1nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-500KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) |
輸出信號(hào)精度 | 1% | 1% | 1% | 1% | 1% | 5% | 5% |
橫向截?cái)喾謩e率 |
100 um |
100 um |
100 um |
100 um |
100 um |
100um |
100 um |
目標(biāo)物表面
| 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 |
工作距離
| 標(biāo)準(zhǔn)：40厘米 +/-2厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：80厘米 +/-10厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：40厘米 +/-2厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：10厘米 -120厘米(自動(dòng)對(duì)焦模式) 20，40,100厘米 （固定焦距模式） | 標(biāo)準(zhǔn)：10厘米 -120厘米(自動(dòng)對(duì)焦模式) 20，40,100厘米 （固定焦距模式） | 標(biāo)準(zhǔn)：20厘米 +/-2厘米
| 標(biāo)準(zhǔn)：15厘米 |
物理參數(shù) |
Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型)
| Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) |
激光發(fā)射 | |||||||
激光等級(jí) |
3 B | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) |
3 B | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) | 3 B | 3 B |
激光頭尺寸 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 155 毫米*145毫米*80毫米 |
控制器尺寸 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 24.6毫米* 15.5毫米*29.6毫米 |
供電 | 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
|
耗電 |
< 5 W | < 5 W （zui大20W） | < 5 W /通道 （zui大20W） | < 5 W （zui大20W） | < 5 W /通道 （zui大20W） |
< 5 W |
< 15 W |
輸入/輸出（I/O） |
RS 485 |
RS 485 |
RS 485 |
RS 485 |
RS 485 |
RS 485 |
RS 485 |
重量 |
4 kg |
4 kg |
6 kg |
4 kg |
6 kg |
4 kg |
4 kg |
操作溫度
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ）
| 光學(xué)頭 0 °C to +80 °C 控制器 0°C to +60 °C ）
|
特 點(diǎn) | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8. 2 級(jí)激光 9.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 9.4個(gè)獨(dú)立通道 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 9.2級(jí)激光 10.自動(dòng)對(duì)焦 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 9.2級(jí)激光 10.自動(dòng)對(duì)焦 11.4個(gè)獨(dú)立通道 | 1.自混頻構(gòu)造 2.微小振動(dòng) （0.02Nm到1 um） 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.位移模擬輸出 7.頻率范圍：20KHZ-10MHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 9.NDT運(yùn)用 | 1.自混頻構(gòu)造 2.微小振動(dòng) （0.02Nm到1 um） 3.全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤 4.光線對(duì)中簡(jiǎn)單容易 5.本底噪聲小 6.3維振動(dòng)測(cè)量 7.頻率范圍：20KHZ-10MHZ 8.對(duì)所有的漫射表面均可以測(cè)量 9.位移/速度模擬量輸出 |
|
2. 使用
光學(xué)頭必須放在工作距離在0.2到1米間的振動(dòng)表面的前端。測(cè)量的電信號(hào)從電子單元的BNC端口輸出。信號(hào)可以輸出給示波器/ 數(shù)采系統(tǒng)，或給FFT分析儀進(jìn)行頻域分析。
LED-BAR指示儀實(shí)時(shí)測(cè)量反散射光信號(hào)長(zhǎng)度，以便避免由于散斑圖樣影響而引起的信號(hào)衰落。
全自動(dòng)斑點(diǎn)跟蹤允許可以允許對(duì)漫射表面的無(wú)隨員操作：系統(tǒng)可以全自動(dòng)跟蹤目標(biāo)表面的亮點(diǎn)，消除信號(hào)衰落 。
3. 運(yùn)用
? 位移和振動(dòng)的非接觸測(cè)量（在非常低的頻率處）
? 對(duì)小，軟和精致的結(jié)構(gòu)的無(wú)質(zhì)量負(fù)載的振動(dòng)測(cè)量
? 材料和結(jié)構(gòu)分析
? 汽車(chē)，航天和能源工業(yè)（發(fā)動(dòng)機(jī)和汽輪機(jī)監(jiān)測(cè)，有效性測(cè)量）
? 喇叭，壓電陶瓷和MEMS測(cè)量/特性定義
? 模態(tài)分析
? 工廠在線過(guò)程控制
? 機(jī)器的狀態(tài)監(jiān)測(cè)
? 質(zhì)量測(cè)試
