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產品簡介 |
TT230時代渦流測厚儀 TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量;可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域;該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。 符合以下標準: GB/T 4957-1985 渦流方法 JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》 JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀 涂層測厚儀功能特點 采用了渦流測厚法,可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 (如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層) 可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE) 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內的所有數據 設有五個統(tǒng)計量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差 具有米、英制轉換功能 具有打印功能,可打印測量值、統(tǒng)計值 具有欠壓指示功能 操作過程有蜂鳴聲提示 具有錯誤提示功能 具有自動關機功能 涂層測厚儀技術參數 測頭類型:N 測量原理:電渦流 測量范圍: 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻) 低限分辨力:1µm(10um以下為0.1um) 探頭連接方式:一體化 示值誤差: 一點校準(um):±[3%H+1.5] 兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1.5] 測量條件: zui小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10 基體zui小面積的直徑(mm):ф5 zui小臨界厚度(mm):0.3 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH 統(tǒng)計功能:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE) 上下限設置:無 存儲能力:15個測量值 打印/連接計算機:可選配打印機/能連接電腦 關機方式:自動 電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池 外形尺寸:150×55.5×23mm 重量:150g 涂層測厚儀基本配置 主機 鋁基體 標準片一套|五片 充電器 使用說明書 涂層測厚儀可選附件 TA230打印機 |