美國(guó)菲希爾*X射線儀器*X射線熒光測(cè)量法 真正*,*,一站集成,*。真正*,*,一站集成,*。 :http://www.china-mro.com :order@china-mro.com
傳真 王
*的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件)
典型的應(yīng)用范圍如下: •單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
•二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
•三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
•雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
•雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
•zui多24種鍍層(使用WinFTM® V.6軟件)。
•分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
•分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。