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德國EPK（Elektrophysik）公司
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征：
型號1100210031004100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)）111099
每個應用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值）1500
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)1
數(shù)據(jù)總量100001000010000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar√√√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar√√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值√√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間√√√
其他功能
設置極限值 √√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 √√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)√√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值 √√
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭量程低端
分辨率誤差zui小曲率半徑
（凸/凹）zui小測量
區(qū)域直徑zui小基
體厚度探頭尺寸
磁
感
應
法F050-500μm0.1μm±（1%±0.7μm）1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F2/900-2000μm0.2μm±（1%±1μm）平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F30-3000μm0.2μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±（1%±10μm）5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±（1%±10μm）10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±（3%±50μm）50/200mm300mm2mmφ45x70mm
兩
用FN1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面30mmF0.5mm/N50μmφ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm
電
渦
流
法N020-200μm0.1μm±（1%±0.5μm）1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±（1%±1μm）2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N20-2000μm0.2μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mm50μmφ15x62mm
N2/900-2000μm0.2μm±（1%±1μm）平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N100-10mm10μm±（1%±25μm）25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±（1%±50μm）25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±（1%±0.3mm）100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±（1%±1μm）平面7mm無限制φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0～2000μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（O.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高（O.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（O.1μm）
F2/90
0～2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
N2
0～2000μm,φ5mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（O.1μm）
N2/90
0～2000μm,φ5mm
磁性測頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測量
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
