多波長阿貝折光儀 型號:JP61M/DR-M2
庫號:M295524
折射指數(shù)或阿貝數(shù)(v d 或 v e)可依據(jù)450 至 1,100nm范圍內(nèi)的不同波長來衡量。
DR-M2能在液晶屏幕上數(shù)字顯示折射指數(shù)與阿貝數(shù)。
藉由邊界線與相交線交叉點的比對進行測量。本折射儀能與數(shù)字打印機DP-21 ( A )做連結(jié)(選購)。 多波長阿貝折光儀 型號:JP61M/DR-M2
測量范圍 波長 450nm:折射指數(shù)1.3277 至 1.7379
波長 589nm: 折射指數(shù)1.3000 至 1.7100
波長 680nm: 折射指數(shù)1.2912 至 1.7011
波長 1,100nm: 折射指數(shù)1.2746 至 1.6843
zui小顯示單位 折射指數(shù)0.0001
阿貝數(shù)0.1 型號:JP61M/DR-M2
測量準確度 折射指數(shù) ± 0.0002
阿貝數(shù) ± 0.1 型號:JP61M/DR-M2
溫度測量范圍 5 至 50° C
尺寸重量 折射儀 13x29x31公分, 6.0公克
光源組件 15x33x11公分, 3.0公克