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      晶振頻率測(cè)試儀GDS-80

      參考價(jià) 12800
      訂貨量 ≥1臺(tái)
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廣州智慧源電子有限公司
      • 品       牌其他品牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地廣州市
      • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
      • 更新時(shí)間2025/2/24 10:29:19
      • 訪問次數(shù)25
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      聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是 智能制造網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!

      2005年創(chuàng)立于深圳,是我國(guó)早的石英鐘表測(cè)試儀、時(shí)鐘測(cè)試儀、晶振測(cè)試儀、晶體阻抗計(jì)、秒表檢定儀、時(shí)間檢定儀生產(chǎn)供應(yīng)商之一,多年來致力于多種電子測(cè)量?jī)x器的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售,擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的核心技術(shù)。歷經(jīng)多年成長(zhǎng),公司已相繼開發(fā)出多款時(shí)鐘測(cè)試儀、晶振測(cè)試儀、晶體阻抗計(jì),頻率范圍從32K到100M之 間任意頻點(diǎn)都可預(yù)定,結(jié)合各電子工廠生產(chǎn)線環(huán)境的不同,不斷優(yōu)化儀器抗干擾性能和探測(cè)靈敏度。以適應(yīng)不同電子產(chǎn)品對(duì)時(shí)鐘測(cè)量的要求?,F(xiàn)銷往全國(guó)三十多個(gè)市及海外多個(gè)國(guó)家。按國(guó)網(wǎng)要求我國(guó)電能表時(shí)鐘精度必須滿足日誤差不超過0.02秒 ,現(xiàn)我司推出的GDS-5B電能表時(shí)鐘測(cè)試儀日誤差精確到0.001秒*符合國(guó)網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn) ,儀器附帶上位機(jī)軟件,連接電腦統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)修正時(shí)鐘誤差,所有儀器出廠都經(jīng)過釹鐘源頻標(biāo)校準(zhǔn),按客戶要求可出國(guó)家計(jì)量證書,我司*技術(shù)人員*為企業(yè)研發(fā) 工程師提供時(shí)鐘產(chǎn)品技術(shù)支持,幫助工程師解決研發(fā)過程中遇到的難題。

      秒表檢定儀,時(shí)間檢定儀,晶振測(cè)試儀,晶體阻抗計(jì),日差檢定儀,時(shí)鐘測(cè)試儀,時(shí)鐘誤差測(cè)試儀,時(shí)鐘精度測(cè)試儀
      精度 ±5ppm 保修 一年
      頻率范圍 10KHz-100MHz
      晶振頻率測(cè)試儀GDS-80是智慧源推出的一款高性能晶振頻率測(cè)試儀,專為滿足實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線上對(duì)晶振元件的高精度測(cè)試需求而設(shè)計(jì)。它采用了網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和智能算法,能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量晶振的各項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù),如串聯(lián)諧振頻率(Fs)、負(fù)載諧振頻率(FL)、串聯(lián)諧振電阻(Rs)、負(fù)載諧振電阻(RL)、負(fù)載電容(CL)、動(dòng)態(tài)電容(C1)、動(dòng)態(tài)電感(L1)、品質(zhì)因數(shù)(Q)、靜電容(C0)以及頻率牽引力(Ts)。
      晶振頻率測(cè)試儀GDS-80 產(chǎn)品信息

      智慧源晶振頻率測(cè)試儀GDS-80:精準(zhǔn)測(cè)試,品質(zhì)之選

      在電子制造與研發(fā)領(lǐng)域,對(duì)晶振頻率的精確測(cè)量至關(guān)重要。智慧源晶振頻率測(cè)試儀 GDS-80 以其性能和豐富的功能,成為眾多專業(yè)人士工具。

      一、基本介紹

      晶振頻率測(cè)試儀GDS-80 是智慧源推出的一款高性能晶振頻率測(cè)試儀,專為滿足實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線上對(duì)晶振元件的高精度測(cè)試需求而設(shè)計(jì)。它采用了網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和智能算法,能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量晶振的各項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù),如串聯(lián)諧振頻率(Fs)、負(fù)載諧振頻率(FL)、串聯(lián)諧振電阻(Rs)、負(fù)載諧振電阻(RL)、負(fù)載電容(CL)、動(dòng)態(tài)電容(C1)、動(dòng)態(tài)電感(L1)、品質(zhì)因數(shù)(Q)、靜電容(C0)以及頻率牽引力(Ts)等。該儀器支持多種類型的晶振測(cè)試,包括無源晶振和有源晶振,頻率范圍覆蓋了從 10KHz 到 100MHz,能夠滿足大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)景的需求。其簡(jiǎn)潔直觀的操作界面和便捷的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,使得用戶能夠輕松地進(jìn)行測(cè)試操作和數(shù)據(jù)分析,大大提高了工作效率。

      二、性能特點(diǎn)

      1. 高精度測(cè)量:運(yùn)用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測(cè)量,采用直接阻抗法測(cè)試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。在串聯(lián)諧振頻率 Fs 的測(cè)量方面,精度可達(dá)±5ppm;負(fù)載諧振頻率 FL 的測(cè)量精度為±5ppm+時(shí)基+0.5Pf*頻率牽引力 Ts,能夠滿足各種高精度測(cè)試需求。例如在通信設(shè)備的研發(fā)中,對(duì)晶振頻率的精度要求高,GDS-80 的高精度測(cè)量功能可以有效保證通信信號(hào)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

      2. 寬頻率范圍:測(cè)量頻率范圍為 10KHz-100MHz,可廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備中不同頻率晶振的測(cè)試,無論是低頻的時(shí)鐘晶振還是高頻的通信晶振,都能輕松應(yīng)對(duì)。比如在消費(fèi)電子產(chǎn)品中,不同功能的芯片可能需要不同頻率的晶振來提供穩(wěn)定的時(shí)鐘信號(hào),GDS-80 的寬頻率范圍使其能夠適用于多種產(chǎn)品的測(cè)試。

      3. 多功能參數(shù)測(cè)試:除了基本的串聯(lián)諧振頻率和負(fù)載諧振頻率測(cè)量外,還能同時(shí)測(cè)量串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、負(fù)載電容、動(dòng)態(tài)電容、動(dòng)態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)、靜電容以及頻率牽引力等多個(gè)參數(shù),全面評(píng)估晶振的性能。在半導(dǎo)體芯片的研發(fā)過程中,通過對(duì)這些參數(shù)的綜合分析,可以優(yōu)化晶振的設(shè)計(jì)和選型,提高芯片的整體性能。

      4. 快速測(cè)試:具備快速的測(cè)試能力,能夠在短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)晶振的各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試,提高生產(chǎn)效率。這對(duì)于大規(guī)模的生產(chǎn)線上的晶振檢測(cè)尤為重要,可以有效縮短測(cè)試時(shí)間,降低生產(chǎn)成本。例如在智能手機(jī)生產(chǎn)線上,快速準(zhǔn)確的晶振測(cè)試能夠保證產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)進(jìn)度。

      5. 良好的兼容性:支持多種類型的晶振樣品測(cè)試,包括插件式和貼片式等不同封裝形式的晶振,且無需復(fù)雜的適配程序,方便用戶使用。同時(shí),儀器還配備了多種接口,如 USB 接口和 RS-232 接口,可方便地與其他設(shè)備進(jìn)行連接和數(shù)據(jù)傳輸,便于集成到自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中。

      三、技術(shù)參數(shù)

      1. 中心頻率范圍:10KHz-200KHz、1MHz-200MHz 任意設(shè)定,可根據(jù)不同的測(cè)試需求靈活選擇合適的頻率范圍。

      2. 掃描范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm),能夠在一定范圍內(nèi)對(duì)頻率進(jìn)行精確掃描,確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。

      3. 負(fù)載電容范圍:1-100pF 任意設(shè)定,滿足不同負(fù)載電容條件下的晶振測(cè)試要求。

      4. 串聯(lián)諧振頻率 Fs 測(cè)量范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm),測(cè)量精度高。

      5. 串聯(lián)諧振電阻 Rs:在 1MHz-100MHz 范圍內(nèi)為 1Ω-1000Ω(2±10%R Ω),在 10KHz-200KHz 范圍內(nèi)為 10K-300K(2±10%R KΩ)。

      6. 負(fù)載諧振電阻 RL:在 1MHz-100MHz 范圍內(nèi)為 1Ω-1000Ω(2±10%R Ω),在 10KHz-200KHz 范圍內(nèi)為 10K-300K(2±10%R KΩ)。

      7. 負(fù)載電容 CL 測(cè)量范圍:1-200pF,可準(zhǔn)確測(cè)量不同負(fù)載電容下的晶振參數(shù)。

      8. 時(shí)基:±1ppm,保證了測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性。

      9. 品質(zhì)因數(shù) Q:能夠測(cè)量晶振的品質(zhì)因數(shù),評(píng)估其性能優(yōu)劣。

      10. 頻率牽引力 Ts:可測(cè)量晶振的頻率牽引力,對(duì)于一些對(duì)頻率穩(wěn)定性要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景具有重要意義。

      四、使用說明

      1. 連接設(shè)備:將晶振樣品連接到 GDS-80 測(cè)試儀的相應(yīng)測(cè)試端口,確保連接穩(wěn)固可靠。如果需要外接其他設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸或控制,可通過 USB 接口或 RS-232 接口進(jìn)行連接。

      2. 設(shè)置參數(shù):打開儀器電源后,根據(jù)被測(cè)晶振的類型和規(guī)格,在儀器的操作界面上設(shè)置中心頻率、負(fù)載電容等測(cè)試參數(shù)。可以選擇手動(dòng)設(shè)置或調(diào)用已保存的測(cè)試方案。

      3. 開始測(cè)試:設(shè)置好參數(shù)后,點(diǎn)擊“測(cè)試”按鈕,儀器將自動(dòng)對(duì)晶振進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試過程中,可以在屏幕上實(shí)時(shí)觀察到各項(xiàng)參數(shù)的測(cè)量值和變化曲線。測(cè)試完成后,儀器會(huì)顯示詳細(xì)的測(cè)試結(jié)果報(bào)告,包括串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、負(fù)載電容、動(dòng)態(tài)電容、動(dòng)態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)、靜電容、頻率牽引力等參數(shù),并根據(jù)預(yù)設(shè)的合格標(biāo)準(zhǔn)判斷晶振是否合格。

      4. 數(shù)據(jù)分析與存儲(chǔ):對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,如果需要,可以將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到儀器的內(nèi)部存儲(chǔ)器中,以便后續(xù)查詢和處理。也可以通過 USB 接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中,進(jìn)行更深入的數(shù)據(jù)分析和處理。

      五、采購(gòu)須知

      1. 選擇正規(guī)渠道:為確保購(gòu)買到智慧源 GDS-80 晶振頻率測(cè)試儀及獲得良好的售后服務(wù),建議選擇智慧源網(wǎng)站、經(jīng)銷商或正規(guī)的儀器儀表銷售平臺(tái)進(jìn)行采購(gòu)。避免購(gòu)買到偽劣產(chǎn)品,影響測(cè)試結(jié)果和設(shè)備的使用壽命。

      2. 了解產(chǎn)品配置:在采購(gòu)前,詳細(xì)了解產(chǎn)品的標(biāo)配和選配附件,根據(jù)自己的實(shí)際需求選擇合適的配置。例如,如果需要測(cè)試貼片式晶振,可以選擇配備貼片式測(cè)試座的套餐;如果需要進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試,可以考慮購(gòu)買帶有通信軟件的版本。

      3. 關(guān)注價(jià)格與性價(jià)比:比較不同供應(yīng)商的價(jià)格和產(chǎn)品服務(wù)質(zhì)量,選擇性價(jià)比高的產(chǎn)品。不要僅僅追求低價(jià),而忽略了產(chǎn)品的質(zhì)量和售后服務(wù)。同時(shí),要注意市場(chǎng)價(jià)格的波動(dòng)情況,適時(shí)采購(gòu)可以節(jié)省成本。

      4. 培訓(xùn)與支持:詢問供應(yīng)商是否提供相關(guān)的培訓(xùn)服務(wù)和技術(shù)支持。智慧源通常會(huì)為客戶提供專業(yè)的培訓(xùn),幫助用戶更好地使用和維護(hù)儀器。及時(shí)的技術(shù)支持可以在遇到問題時(shí)快速解決,減少設(shè)備的停機(jī)時(shí)間,提高使用效率。


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