GX5295:動態(tài)數(shù)字 I/O含每通道可編程邏輯電平和 PMU的PXI 板卡
概述GX5295采用緊湊型3U PXI外形尺寸提供的數(shù)字測試功能和通道密度。提供性能數(shù)字和模擬測試功能,GX5295為每個(gè)引腳架構(gòu)提供了具有成本效益的測試儀,使該卡成為高吞吐量混合信號組件測試應(yīng)用的理想選擇。每個(gè)數(shù)字通道可以單獨(dú)編程為驅(qū)動器,驅(qū)動器,感測信號,感測電流和負(fù)載值(具有換向電壓電平)。 此外,每個(gè)通道提供參數(shù)測量單元(PMU),為用戶提供在DUT(待測設(shè)備)上執(zhí)行并行直流測量的能力。 GX5295支持深度模式存儲器,提供256 MB的板載矢量內(nèi)存,動態(tài)每個(gè)引腳方向控制,測試速率高達(dá)100 MHz。該板支持激勵(lì)/響應(yīng)和實(shí)時(shí)比較操作模式,允許用戶限度地提高測試吞吐量,以便對需要深度內(nèi)存測試模式的組件和UUT進(jìn)行不間斷測試。 單板設(shè)計(jì)支持主和從功能,無需使用附加模塊。 | ![]() |
特征
GX5295的引腳電子資源在每個(gè)通道基礎(chǔ)上是獨(dú)立的,并且包括用于DUT的DC特性的全功能PMU。PMU可以執(zhí)行強(qiáng)制電壓/測試電流或強(qiáng)制電流測試電壓的模式。此外,驅(qū)動器和接收器可以配置為支持來自/到UUT的差分輸入和輸出信號。 一種開窗方法用于存儲器訪問,這將每個(gè)板的所需PCI存儲器空間限制為僅16 MB,從而保留測試系統(tǒng)資源。還支持直接模式,用于測試系統(tǒng)控制器與GX5295的I / O引腳之間的連續(xù)數(shù)據(jù)傳輸。 GX5295提供256 MB的矢量內(nèi)存,每通道64 Mb??删幊蘄 / O寬度允許矢量深度的交易矢量寬度。 在軟件控制下,GX5295的向量存儲器可以配置為支持32,16,8,4,2和1的通道寬度,對應(yīng)的矢量深度為64 Mb,128Mb,256 Mb,512 Mb,1024 Mb和2048 Mb。 | GX5295提供可編程LVTTL輸出時(shí)鐘和選通,并支持外部時(shí)鐘和頻閃??删幊蘌LL(鎖相環(huán))提供可配置的時(shí)鐘頻率和延遲。 另外,另外4個(gè)額外的引腳電子資源可用作定時(shí)和/或控制資源—提供從-2到+7V的可編程驅(qū)動和感測電平。 GX5295的音序器可以通過整個(gè)內(nèi)存定義的地址或循環(huán)停止或暫停,也可以在定義的地址范圍或定義的內(nèi)存塊上循環(huán)。還支持兩種模式的數(shù)字測試 - 激勵(lì)/響應(yīng)和實(shí)時(shí)比較模式。 激勵(lì)/響應(yīng)模式用于驅(qū)動和捕獲數(shù)據(jù)。 或者,對于需要長測試向量的數(shù)字測試,實(shí)時(shí)比較模式可用于通過實(shí)時(shí),預(yù)期測試結(jié)果和僅記錄故障向量和合成測試結(jié)果(通過或失?。┻M(jìn)行比較來顯著縮短總體測試時(shí)間。 |
軟件GX5295隨DIOEasy一起提供,它提供強(qiáng)大的圖形矢量開發(fā)/波形顯示工具,以及虛擬儀表板,32位DLL驅(qū)動程序庫和文檔。虛擬面板可用于從顯示儀器當(dāng)前設(shè)置和狀態(tài)的窗口交互式地控制和監(jiān)視儀器。 此外,各種接口文件可以訪問儀器的功能庫,用于編程工具和語言,如ATEasy,C / C ++,Microsoft VisualBasic®,Delphi和LabVIEW。 可選地,DtifEasy可用于使用GX5295。 DtifEasy提供了一個(gè)完整的LASAR后處理器和測試執(zhí)行環(huán)境,用于后處理和執(zhí)行LASAR生成的.tap文件。 | 應(yīng)用
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