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愛疆科技BIPV太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀

參考價(jià)	￥ 400000
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱武漢愛疆科技有限公司
品牌愛疆科技 AI JIANG TECHNOLOGY
型號(hào)BIPV3624
所在地武漢市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/11/15 15:18:57
訪問次數(shù)109

產(chǎn)品標(biāo)簽:

IV測(cè)試儀光伏組件測(cè)試鈣鈦礦電池 BIPV電池檢測(cè)太陽(yáng)光模擬器

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

愛疆科技成立于2015年，致力于光伏檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)，主要產(chǎn)品涵蓋：高效太陽(yáng)能電池/組件測(cè)試設(shè)備、高效太陽(yáng)能電池缺陷檢測(cè)設(shè)備、鈣鈦礦電池/組件測(cè)試設(shè)備、柔性太陽(yáng)能電池/組件測(cè)試設(shè)備、航空航天電池/組件測(cè)試解決方案、新能源教學(xué)解決方案、新能源教學(xué)實(shí)訓(xùn)系統(tǒng)、工業(yè)自動(dòng)化配套解決方案。

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公司產(chǎn)品基于IV、EL、視覺及PL檢測(cè)技術(shù)研發(fā)出全自動(dòng)單片分選機(jī)、AAA太陽(yáng)光模擬器、高效組件測(cè)試儀、太陽(yáng)能組件EL缺陷檢測(cè)儀、PL測(cè)試儀等系列離線、在線及實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)設(shè)備。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

光譜范圍	300~1200nm	測(cè)試幅面	2400mm*3600mm
測(cè)量對(duì)象	PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件	測(cè)試間隔	＜25s（100ms）＜35s（150ms）
光源方向	下打光光源	上料方式	手動(dòng)（選配手動(dòng)滑軌上料模組）
光源壽命	＞10W次	測(cè)試參數(shù)	Isc,Voc,Pmax,Vm,Im,FF,EFF,Temp,Rs,Rsh
設(shè)備尺寸	5200mm×3550mm×1400mm

產(chǎn)品介紹
BIPV-3624系列BIPV太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀是用于BIPV組件電性能測(cè)試的專用設(shè)備。其測(cè)試幅面達(dá)2400mm*3600mm，滿足IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)：不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均優(yōu)于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。光譜范圍滿足300-1200nm范圍，滿足各種類型電池的光譜測(cè)試。太陽(yáng)電池組件采用四線連接，以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保了太陽(yáng)電池電流測(cè)量的準(zhǔn)確性。

愛疆科技BIPV太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀產(chǎn)品信息

產(chǎn)品介紹

BIPV-3624系列BIPV太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀是用于BIPV組件電性能測(cè)試的專用設(shè)備。其測(cè)試幅面達(dá)2400mm*3600mm，滿足IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)：不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均優(yōu)于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。光譜范圍滿足300-1200nm范圍，滿足各種類型電池的光譜測(cè)試。太陽(yáng)電池組件采用四線連接，以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保了太陽(yáng)電池電流測(cè)量的準(zhǔn)確性。紅外無接觸式測(cè)溫，準(zhǔn)確測(cè)出組件溫度，確保了溫度修正的準(zhǔn)確性。設(shè)備可增加自動(dòng)導(dǎo)軌用于流水線，滿足各類產(chǎn)線配線要求。

測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽(yáng)能電池組件（PERC、N型、TOPcon以及HJT等）、薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。

性能特點(diǎn)

u AAA標(biāo)準(zhǔn)：滿足IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)

u 300-1200nm光譜：滿足各類電池測(cè)試要求

u 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式

u 測(cè)量對(duì)象：PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件

u 可測(cè)量參數(shù)：I-V曲線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，定電壓點(diǎn)電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻

技術(shù)指標(biāo)

設(shè)備型號(hào)	BIPV-3624
生產(chǎn)指標(biāo)
測(cè)試間隔	＜25s（100ms）＜35s（150ms）
可測(cè)面積	3600mm×2400mm
光源方向	下打光光源
上料方式	手動(dòng)（選配手動(dòng)滑軌上料模組）
測(cè)量指標(biāo)
太陽(yáng)模擬器光源等級(jí)	AAA
太陽(yáng)模擬器等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)	IEC 60904-9 2020
校準(zhǔn)方式	標(biāo)準(zhǔn)組件單次自動(dòng)校準(zhǔn)光強(qiáng)
光譜匹配	0.75-1.25 (1級(jí))
幅照度不穩(wěn)定性	STI＜0.5% ,LTI＜2%(1級(jí))
幅照度不均勻性	＜2% (1級(jí))
光譜范圍	300-1200nm