產(chǎn)品介紹
ZQ150系列缺陷檢測(cè)用于太陽(yáng)能晶體硅組件/電池片的缺陷檢測(cè)與維修,可人工對(duì)缺陷進(jìn)行標(biāo)記,保存在本地或遠(yuǎn)端數(shù)據(jù)庫(kù)中,PC控制軟件可通過(guò)以太網(wǎng)接口實(shí)現(xiàn)與客戶系統(tǒng)對(duì)接,傳輸測(cè)試結(jié)果和報(bào)警信息,并可依據(jù)客戶需求定制功能。
性能特點(diǎn)
u 操作簡(jiǎn)單
采用無(wú)蓋設(shè)計(jì),無(wú)需開(kāi)蓋合蓋,操作方便,層壓前利于返修檢測(cè)
u 半自動(dòng)化測(cè)試
在離線模式時(shí),可加裝滑軌,提高人工測(cè)試效率
u 可測(cè)缺陷
黑心片、微隱裂、裂片、破洞、斷柵、焊接缺陷等
技術(shù)指標(biāo)
設(shè)備型號(hào) | ZQ150 |
生產(chǎn)指標(biāo) | |
產(chǎn)能 | 5s/pcs(離線典型值) |
可測(cè)面積 | 2500mm×1500mm |
適用工序 | 層壓前、后組件測(cè)試 |
上料方式 | 手動(dòng) |
測(cè)量指標(biāo) | |
相機(jī)分辨率 | 2400W |
相機(jī)類型 | COMS |
曝光時(shí)間 | 1~30S(可調(diào)) |
顯示器 | 43英寸屏幕 |
電源類型 | 可調(diào)電源 |