同軸式檢測，鏡面下角度兼容性±45°

- 可完成透明、鏡面、高反光等幾乎所有材質(zhì)表面的高精度3D測量

- 一次掃描即可記錄詳細(xì)原始數(shù)據(jù)并生成多種形式的2D/3D圖

- 0.1μm Z軸重復(fù)精度，X方向分辨率1.1μm

- 2048點/線掃描密度，35000線/秒超高速掃描

- 完備的SDK及一站式軟件支持服務(wù)

- 可應(yīng)用于工業(yè)智造、精密測量和科學(xué)研究領(lǐng)域

①該數(shù)值為3σ值，是在我司無塵實驗室光學(xué)平臺下測得的鏡面標(biāo)準(zhǔn)塊的數(shù)值，輪廓數(shù)200000，積分時間200μs，手動調(diào)光信號強度至20%；
②此速率下X方向掃描點數(shù)為1024點，2048點時全量程掃描速率為2500Hz；
③此速率下X方向掃描點數(shù)為1024點，2048點時全量程掃描速率為3100Hz；
④此時Z方向量程為全量程的1/8；