型號 | CCI |
測量方法 | 相關(guān)相干干涉(CCI) |
Z軸分辨率 | 0.01nm |
Z軸測量范圍 | 2.2nm |
RMS重復(fù)性 | <0.02nm |
測量面積(X.Y) | 6.6x6.6mm |
特點 | 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸控制,提高精度,不易損壞 |
應(yīng)用范圍 | MEMS, 芯片,膜厚,鏡頭和玻璃表面分析,磨損測試和摩擦學(xué),材料分析,太陽能電池,等 |
北京瑞普能貿(mào)易有限公司秉承“誠信,專業(yè),服務(wù)”的理念,為國內(nèi)企業(yè)提供國外企業(yè)的精密計量測試儀器,三豐圓度儀,泰勒圓度儀,zygo白光干涉儀,機床設(shè)備附件等。我們的產(chǎn)品廣泛用于機械,電子,航天,航空,汽車,通訊等領(lǐng)域。希望我們的高精度設(shè)備能幫助您控制和提高產(chǎn)品質(zhì)量,增強市場競爭力。我們的服務(wù)理念!秉承“誠信,專業(yè),服務(wù)”的理念,為國內(nèi)企業(yè)提供國外企業(yè)的精密計量測試儀器,實驗室儀器,機床設(shè)備附件等。我們的產(chǎn)品廣泛用于機械,電子,航天,航空,汽車,通訊等領(lǐng)域。
非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓形貌儀 產(chǎn)品信息
Talysurf CCI非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓儀,一臺的光學(xué)儀,采用了創(chuàng)新的相關(guān)相干算法,對拋光的、粗糙的、曲面的、平面的、或者臺階的表面進行掃描,獲取表面的三維形貌數(shù)據(jù)。
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