高利通生產(chǎn)的INF3000P在線薄膜測(cè)厚儀，是一種薄膜材料（包括光學(xué)鍍膜、半導(dǎo)體鍍膜、新能源電池絕緣膜、膠涂層以及其它平板狀透明材料等）厚度的非破壞性測(cè)量?jī)x器。

INF3000P由主機(jī)和光纖探頭組成，主機(jī)包括穩(wěn)定的寬光譜光源和高精度的光纖光譜儀。使用時(shí)，將光纖探頭垂直安裝于被測(cè)薄膜材料的上方或下方即可。

INF3000P利用光學(xué)干涉原理，通過(guò)測(cè)量寬光譜光的相位差而計(jì)算薄膜材料兩個(gè)平行表面之間的厚度。

在測(cè)量過(guò)程中，一束寬光譜光從空氣中射入薄膜表面，由于薄膜的存在，光束被薄膜的上下表面多次反射形成的多個(gè)光束疊加后，形成了干涉條紋。該干涉條紋的相位差與被測(cè)物體表面薄膜的厚度和折射率有關(guān)。

當(dāng)薄膜厚度發(fā)生變化時(shí)，其不同表面反射光的光程差發(fā)生了變化，從而導(dǎo)致干涉條紋相位的改變。根據(jù)干涉條紋相位的變化，可以計(jì)算出薄膜厚度和折射率。

●穩(wěn)定性、可靠性更強(qiáng)，分析更加準(zhǔn)確

●軟件控制儀器，功能完善，操作便捷和維護(hù)方便

●優(yōu)異的一致性