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      RMTImaging固體核徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海見(jiàn)馳輻射檢測(cè)設(shè)備有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地上海
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/7/18 13:52:17
      • 訪問(wèn)次數(shù)169
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      上海見(jiàn)馳輻射檢測(cè)設(shè)備有限公司是一家專業(yè)從事核工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域內(nèi)智能儀器儀表相關(guān)產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司生產(chǎn)的便攜式核輻射檢測(cè)儀器、輻射環(huán)境檢測(cè)儀器、核勘測(cè)儀器、通道式核輻射檢測(cè)系統(tǒng)以及在線式輻射監(jiān)測(cè)系統(tǒng)主要應(yīng)用于環(huán)保、出入境檢疫站、核電、放射醫(yī)療、冶金、建材、機(jī)場(chǎng)、食品等關(guān)鍵領(lǐng)域。見(jiàn)馳輻射成立于2013年,公司從成立之初就注重研發(fā)投入,堅(jiān)持自主創(chuàng)新,公司技術(shù)實(shí)力雄厚,擁有一批從事十余年核應(yīng)用相關(guān)行業(yè)的專家,在此基礎(chǔ)上為完善公司技術(shù)創(chuàng)新與研發(fā)實(shí)力同清華大學(xué)、浙江大學(xué)、東華理工大學(xué)等高校教授課題研究組合作研發(fā)行業(yè)內(nèi)及國(guó)際上具備前端性的解決方案和產(chǎn)品,目前上海見(jiàn)馳輻射檢測(cè)設(shè)備有限公司自主研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品主要有:個(gè)人輻射報(bào)警儀、中子巡測(cè)儀、高壓電離室、場(chǎng)所輻射監(jiān)測(cè)儀、表面污染檢測(cè)儀、放射性核素識(shí)別儀、無(wú)人機(jī)輻射巡檢系統(tǒng)以及放射源監(jiān)控管理系統(tǒng)等。上海見(jiàn)馳輻射檢測(cè)設(shè)備有限公司一直堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新并大力探索行業(yè)前沿技術(shù),公司始終秉持“生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)精品儀器,為廣大客戶提供高性價(jià)比行業(yè)解決方案及放心優(yōu)質(zhì)的售后保障”之樸實(shí)經(jīng)營(yíng)理念,見(jiàn)馳輻射已然成為中國(guó)核輻射檢測(cè)事業(yè)一股強(qiáng)大的中堅(jiān)力量。
      多功能輻射檢測(cè)儀
      RMTImaging固體核徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)是基于核徑跡分析技術(shù)發(fā)展的高性能全自動(dòng)圖像測(cè)量及分析系統(tǒng),用于測(cè)量及分析各類塑料徑跡探測(cè)器,例如CR39、PN3。系統(tǒng)的顯微鏡模塊采用了高質(zhì)量Nikon光學(xué)器件和超快3D機(jī)動(dòng)控制系統(tǒng),保證了系統(tǒng)的高測(cè)量效率、高精度及低本底等優(yōu)異性能。系統(tǒng)適用于中子測(cè)量、氡濃度監(jiān)測(cè)、聚變研究、α粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領(lǐng)域教學(xué)
      RMTImaging固體核徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

      1、本產(chǎn)品具有以下特點(diǎn):

      ●  全自動(dòng)聚焦,全自動(dòng)掃描點(diǎn)碼和蝕刻徑跡;

      ●  自動(dòng)測(cè)讀批量探測(cè)器;

      ●  快速測(cè)讀,測(cè)讀時(shí)間為30~60秒(與參數(shù)設(shè)置相關(guān));

      ●  自動(dòng)修正探測(cè)器響應(yīng)衰退,保證探測(cè)器可用于12個(gè)月的長(zhǎng)期監(jiān)測(cè);

      ●  高度精密的圖像分析技術(shù),可區(qū)分徑跡與本底特征;

      ●  全自動(dòng)本底評(píng)估(對(duì)每個(gè)探測(cè)器);

      ●  掃描數(shù)據(jù)自動(dòng)轉(zhuǎn)換為中子劑量/氡濃度,數(shù)據(jù)可導(dǎo)出excel文件。

      2、設(shè)備配置

      2.1 徑跡分析單元             1臺(tái)

      2.2 蝕刻單元                 1

      2.3 軟件系統(tǒng)                 1

      2.4 工作站                   1套

      2.5 打印機(jī)                   1臺(tái)

      2.6 掃描/蝕刻架             2個(gè)

      2.7 蝕刻籃(容納6個(gè)蝕刻盤(pán)) 1個(gè)

      2.8 探測(cè)器(2.5*2.5cm)     400個(gè)

      2.9 氡劑量盒                100個(gè)

      2.10 氡杯                    100個(gè)                        

      2.11中子劑量盒              100個(gè)

      2.12 中子劑量檢測(cè)附件        1

      2.13 計(jì)量部門(mén)出具的校準(zhǔn)證書(shū)  1份

      2.14 NaOH固體AR分析純      10瓶

      2.15 冰醋酸                  2瓶

      3、技術(shù)參數(shù)

      3.1 探測(cè)器

      3.1.1 類型:聚丙烯二甘醇碳酸酯,簡(jiǎn)稱PADCCR39

      3.1.2 性能:應(yīng)用于中子及氡的測(cè)量,為高靈敏度、低本底,對(duì)γ射線、β射線不靈敏

      3.1.3 尺寸:可根據(jù)客戶需求制作成各種尺寸(例如2.5cm×2.5cm,探測(cè)器上刻有數(shù)字編碼及孔碼

      3.1.4 體蝕刻速率:98℃的6.25mol/L氫氧化鈉溶液中,≥10μm/h。

      3.1.5 徑跡蝕刻速率與體蝕刻速率比值的值≥12;當(dāng)α粒子在探測(cè)器中射程≤4μm時(shí),比值≥8;當(dāng)α粒子在探測(cè)器中射程≤10μm時(shí),比值≥6。

      3.1.6 測(cè)量范圍:氡為5Bq/m3-15MBq/m3,中子為200keV-14MeV,可拓展至中子熱能區(qū)

      3.1.7 本底:<20tracks/cm²

      3.2 蝕刻單元

      3.2.1 蝕刻架:耐腐蝕不銹鋼蝕刻架,也用作掃描架,單個(gè)蝕刻架可容納49枚2.5cm×2.5cm探測(cè)器,或≥144枚1cm×1cm探測(cè)器,并且可定制其他規(guī)格。

      3.2.2 蝕刻籃:金屬材質(zhì),可容納6個(gè)蝕刻架。

      3.2.3 蝕刻速率:蝕刻溫度為75℃時(shí),速率≥1.8μm/h;蝕刻溫度為98℃時(shí),速率≥10μm/h。

      3.2.4 蝕刻條件:對(duì)于氡,當(dāng)蝕刻溫度為98℃時(shí),蝕刻時(shí)間1小時(shí)。對(duì)于中子,當(dāng)蝕刻溫度為85℃時(shí),蝕刻時(shí)間≤2小時(shí)50分鐘

      3.2.5蝕刻水浴槽加熱溫度范圍不低于99℃,帶攪拌功能

      3.2.6兼容性:可搭配不同廠家的蝕刻系統(tǒng),如水浴鍋、蝕刻架等,蝕刻條件也可調(diào)整

      3.3 徑跡分析單元

      3.3.1 徑跡掃描模塊:數(shù)字CCD相機(jī)10bit、灰度水平1024,具有20倍物鏡,放大倍數(shù)為2個(gè)像素/微米,配置物鏡轉(zhuǎn)換器以及顯微鏡高度粗和細(xì)調(diào)節(jié)旋鈕。

      3.3.2 采用面積掃描法,速度≥10mm2/s,每秒可掃描分析≥8張圖像,具有對(duì)處于視野邊界上徑跡的縫合算法,即對(duì)某視野邊界上的徑跡僅記錄其位置信息,并在移動(dòng)至相鄰視野時(shí)將原邊界上的徑跡包含進(jìn)來(lái)再分析。

      1 與縫合算法相關(guān)的縫合設(shè)置

      2探測(cè)器多視野縫合圖片,共計(jì)80個(gè)視野,相鄰視野采用縫合算法

       

      3.3.3中子和氡測(cè)量采用LED照明系統(tǒng),光譜為波長(zhǎng)約550nm的綠光,LED發(fā)射光照射至CR39的路徑上無(wú)玻璃等障礙物,減少透射光被干擾及波動(dòng)。

      3.3.4采用可拆卸的金屬掃描架同時(shí)也可作為蝕刻架。單個(gè)掃描架可容納若干個(gè)CR39元件,可定制掃描架容量。常規(guī)容量49個(gè)(2.5cm×2.5cm)或144個(gè)(1cm×1cm)。

      3.3.5掃描能力:步進(jìn)電機(jī)為3D(X、Y、Z軸)機(jī)動(dòng)控制系統(tǒng),可編程自主定義相機(jī)的掃描路徑。掃描過(guò)程中,能檢查、評(píng)估每個(gè)探測(cè)器的傾斜角度并反饋。能編程自主定義探測(cè)器內(nèi)的掃描面積和定位方式,例如從某位置直接掃描或自動(dòng)識(shí)別邊緣再掃描。

      3.3.6自動(dòng)化掃描分析:能自動(dòng)識(shí)別探測(cè)器編號(hào),單片自動(dòng)測(cè)讀以及批量全自動(dòng)測(cè)讀,可一鍵返回測(cè)量起點(diǎn)。掃描后給出每個(gè)探測(cè)器的編號(hào)、位置、徑跡密度、掃描品質(zhì)評(píng)估代碼等信息,支持對(duì)部分探測(cè)器重新掃描后給出最終結(jié)果。

      3.3.7數(shù)據(jù):在掃描過(guò)程中以USB3.0高速傳輸并自動(dòng)保存圖像,自動(dòng)保存數(shù)據(jù),至少支持三種圖像保存方式,即掃描視野的每幀圖像,單徑跡圖像,探測(cè)器掃描面積的整體圖像。

      3 保存圖像設(shè)置(包括5個(gè)選項(xiàng))

      4 探測(cè)器掃描面積的整體圖像

       

      5 單徑跡圖像

      6 掃描視野的每幀圖像

      3.3.8 能對(duì)每個(gè)CR39探測(cè)器進(jìn)行響應(yīng)衰退修正。

      3.3.9 測(cè)量能力:對(duì)中子,劑量范圍不窄于0.1 mSv - 600 mSv,相對(duì)誤差小于5%;對(duì)于氡,下限≤5Bq/m3,上限≥15MBq/m3,在200-5000 Bq/m3,相對(duì)誤差為3%-6%,如累積暴露量為500kBqh/m3時(shí),精確度≤4%。

      3.3.10 具備氡和釷甄別能力。

      3.3.11 可通過(guò)校準(zhǔn)圖像來(lái)修正相機(jī)內(nèi)部積灰的影響。

      3.3.12 對(duì)于單片探測(cè)器,可自動(dòng)分析,發(fā)現(xiàn)異常劑量探測(cè)器也可以進(jìn)行人工觀察分析。

      3.3.13 徑跡分析單元整體尺寸:54cm×48cm×40cm。

      3.4 軟件系統(tǒng)

      3.4.1基于對(duì)徑跡參數(shù)的測(cè)量及分析來(lái)甄別徑跡,其中所用參數(shù)應(yīng)自動(dòng)計(jì)算,無(wú)需手動(dòng)輸入。修改參數(shù)后可另存為單獨(dú)的軟件程序。軟件算法模擬α粒子徑跡形成發(fā)展的數(shù)學(xué)模型中V(徑跡蝕刻速率與體蝕刻速率的比值)為粒子射程的函數(shù)且為變量。能區(qū)分≥2000個(gè)/cm²本底徑跡特征。對(duì)中子蝕刻徑跡的分析能防止氡干擾,即分析高氡暴露但無(wú)中子輻照的探測(cè)器,也不應(yīng)產(chǎn)生明顯的中子信號(hào)。

      3.4.2具有氡和中子分析模塊,分別應(yīng)用不同的數(shù)據(jù)庫(kù)和響應(yīng)算法,能將數(shù)據(jù)結(jié)果導(dǎo)出為excel文件。

      3.4.3 中子分析具備≥4個(gè)不同蝕刻條件數(shù)據(jù)庫(kù),≥2種智能算法,算法至少包括(1)由同類中子響應(yīng)數(shù)據(jù)獲取徑跡特征來(lái)自修正結(jié)果;(2)刻度劑量來(lái)修正同批次結(jié)果。

      3.4.4 能將每個(gè)探測(cè)器的分析結(jié)果導(dǎo)出為excel文件,導(dǎo)出信息包括每個(gè)徑跡的位置坐標(biāo)、開(kāi)口長(zhǎng)短軸、投影長(zhǎng)度、徑跡末端直徑等參數(shù)。能自動(dòng)修正Po-214過(guò)度析出,用以修正氡盒內(nèi)探測(cè)器的靜電效應(yīng)

      7 導(dǎo)出參數(shù)信息(X/Y為徑跡坐標(biāo),MAJ、MIN為開(kāi)口長(zhǎng)短軸,XT為投影長(zhǎng)度,M2為一半末端直徑參數(shù))

      8 修正Po-214過(guò)度析出選項(xiàng)

       

      3.4.5 具有可調(diào)節(jié)的噪聲過(guò)濾程序,對(duì)不同徑跡特征可采取的接受/拒絕的強(qiáng)弱程度≥4檔(至少包括a盡可能多地保留所有真實(shí)徑跡數(shù)據(jù);b只移除具有特定噪聲特征的徑跡,保留具有真實(shí)徑跡特征的徑跡;c當(dāng)徑跡的大部分特征為噪聲特征時(shí)則移除該徑跡,而不考慮可能存在的部分真實(shí)徑跡特征;d只要探測(cè)到任意噪聲特征則移除該徑跡)。

       

      9 噪聲過(guò)濾程序,包括關(guān)、低、中、高、強(qiáng)共5個(gè)選項(xiàng)

       

      3.4.6 可實(shí)時(shí)顯示相機(jī)視野或徑跡分布圖,可分別通過(guò)軟件和鍵盤(pán)控制視野的移動(dòng)。具有單獨(dú)的操作日志信息顯示區(qū),能實(shí)時(shí)查看軟硬件狀態(tài)信息、時(shí)間標(biāo)記的操作指令和運(yùn)行結(jié)果等信息。

      3.4.7 軟件中可顯示所有歷史數(shù)據(jù),以及近一小時(shí)、近一周、近一個(gè)月等時(shí)間間隔的數(shù)據(jù),并可打印數(shù)據(jù)。

      3.4.8 一鍵定位:在軟件中輸入位置坐標(biāo)后,可一鍵將視野移動(dòng)至該位置,也可無(wú)需輸入位置坐標(biāo)而一鍵將視野移動(dòng)至起始位置。

      3.4.9 軟件可分別運(yùn)行單片自動(dòng)掃描、多片批量自動(dòng)掃描,在掃描過(guò)程中實(shí)時(shí)顯示累積分析的視野數(shù)和總徑跡數(shù)。

      3.4.10 手動(dòng)分析:能將已保存的掃描單幀圖像導(dǎo)入軟件來(lái)手動(dòng)分析??筛鶕?jù)不同的徑跡參量設(shè)定感興趣區(qū)來(lái)編輯和選擇數(shù)據(jù)。

      3.4.11 多片批量自動(dòng)掃描后能在軟件中顯示探測(cè)器編號(hào)、徑跡密度、掃描品質(zhì)代碼,輸出結(jié)果前可對(duì)任意所選探測(cè)器進(jìn)行一鍵重新掃描分析。在軟件中顯示的最終結(jié)果應(yīng)包括探測(cè)器編號(hào)、掃描時(shí)間、氡監(jiān)測(cè)的開(kāi)始和結(jié)束時(shí)間、監(jiān)測(cè)天數(shù)、氡暴露量、氡濃度、徑跡密度、掃描品質(zhì)代碼。

      3.4.12 軟件中的氡分析模塊能同時(shí)應(yīng)用探測(cè)器響應(yīng)衰退修正和Po-214析出修正。

      3.4.13 可在Windows10、Windows8、Windows7等平臺(tái)運(yùn)行,支持軟件升級(jí)。

      3.5 中子劑量檢測(cè)附件

      3.5.1.探測(cè)器:雙探測(cè)器(硅二極管和環(huán)形二極管);

      3.5.2.能量范圍:15 keV ~7 MeV(X和伽馬),0.025eV ~ 15MeV(中子)

      3.5.3.報(bào)警模式:聲光、震動(dòng);

      3.5.4.防護(hù)等級(jí):IP67,可1米深水下放置1小時(shí);

      3.5.5. 產(chǎn)品有良好的擴(kuò)張性;使用無(wú)線模塊實(shí)現(xiàn)區(qū)域無(wú)線劑量實(shí)時(shí)傳送、PRD模塊實(shí)現(xiàn)探測(cè)尋找放射源、中子Hp(10)模塊實(shí)現(xiàn)中子劑量實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)報(bào)警、Beta Hp(O.O7)模塊實(shí)現(xiàn)Beta劑量實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)報(bào)警。

      3.5.6.精確度:≤ ± 10% (16 keV,X 射線)、≤ ± 10% (241Am,~23mSv/h)、≤ ± 15% (137Cs,~24mSv/h) ,≤ ± 10% (AmBe,~0.75mSv/h)

      3.5.7.無(wú)外接模塊時(shí)電池可持續(xù)工作不低于2500小時(shí),外接中子模塊時(shí),電池可持續(xù)工作2000個(gè)小時(shí)

      3.5.8.探測(cè)范圍: 1 μSv ~ 10 Sv,0.1 μSv/h ~ 10 Sv/h(X和伽馬),1 μSv ~ 10 Sv,100 μSv/h ~ 10 Sv/h(中子)

      3.5.9.抗電磁干擾,并提供第三方電磁干擾測(cè)試報(bào)告

      3.6 工作站

      3.6.1便攜式數(shù)據(jù)分析終端 ,CPU不低于i5(四核心以上),內(nèi)存容量不小于16GB,硬盤(pán)不低于512G(固態(tài)硬盤(pán))

      3.6.2臺(tái)式數(shù)據(jù)分析終端 ,CPU不低于i7(四核心以上),內(nèi)存容量不小于32GB,硬盤(pán)不低于1T(固態(tài)硬盤(pán))

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