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HDM Series 原子力顯微鏡

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱智信科儀（北京）科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/6/28 17:44:02
訪問(wèn)次數(shù)57

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

智信科儀（北京）科技有限公司 Wis-Tru Technology (BeiJing) Co., Limited，成立于2015年，是一家致力于科研儀器、教學(xué)設(shè)備、實(shí)驗(yàn)耗材整合服務(wù)及銷售的一體化公司。公司內(nèi)部主要的管理人員都是從事本行業(yè)多年，積累了大量招投標(biāo)、設(shè)備采購(gòu)、耗材采購(gòu)等項(xiàng)目管理經(jīng)驗(yàn)的優(yōu)秀人員。公司自成立至今，已與諸多用戶達(dá)成了合作意向和合作協(xié)議，并依托于的產(chǎn)品質(zhì)量、良好的合作關(guān)系、專業(yè)的服務(wù)隊(duì)伍以及穩(wěn)固的業(yè)內(nèi)基礎(chǔ)，在業(yè)內(nèi)迅速獲得了良好的口碑，未來(lái)公司的發(fā)展方向?qū)?huì)朝著可提供解決方案的團(tuán)隊(duì)而發(fā)展。目前我公司已與多家國(guó)內(nèi)外企業(yè)達(dá)成合作意向和合作協(xié)議，代理的品牌包括韓國(guó)PARK、芬蘭Biolin Scientific AB、美國(guó)貝克曼庫(kù)爾特、美國(guó)Thermo Fisher公司、美國(guó)NANOVEA公司、英國(guó)Ceramisis公司、瑞士Nanosurf公司、美國(guó)Filmetrics公司、日本KEYENCE公司、瑞士KISTLER公司、荷蘭Phenom公司、美國(guó)SEIKOWAVE公司、中國(guó)臺(tái)灣ARDIC公司、英國(guó)雷尼紹公司、韓國(guó)DUKSAN公司、上海阿拉丁生化科技股份有限公司、國(guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司、北京化學(xué)試劑廠、天津市津騰實(shí)驗(yàn)設(shè)備有限公司等等，服務(wù)范圍涵蓋高校、科研院所、機(jī)械、冶金、電力、石化、地質(zhì)等行業(yè)。

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rtp快速退火爐

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概覽　　-SimplythebestAFMforautomaticdefectreviewandsurfaceroughnessmeasurement　　-對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作

HDM Series 原子力顯微鏡產(chǎn)品信息

　　概覽

　　- Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

　　- 對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級(jí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過(guò)程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)極低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量精確的原子力顯微鏡。

　　- Higher Throughput, Automatic Defect Review

　　- Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

　　- 業(yè)內(nèi)對(duì)于超平媒介和基體的要求越來(lái)越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)極低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量精確的原子力顯微鏡

　　應(yīng)用

　　- Automatic Defect Review for Media and Substrates

　　- Higher Throughput, Automatic Defect Review

　　- NX-HDM的自動(dòng)缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識(shí)別、掃描和分析流程。借助光學(xué)檢查工具所提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動(dòng)定位這些位置并進(jìn)行成像（分兩步）：

　　(1) 縮小掃描成像，以準(zhǔn)確定位缺陷。

　　(2) 放大掃描成像，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。在真實(shí)缺陷測(cè)試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動(dòng)功能可將缺陷檢查通量提高10倍。

　　- Automated Search Scan & Zoom-in Scan

　　- 經(jīng)過(guò)優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：

　　(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描，來(lái)準(zhǔn)確定位缺陷。

　　(2) 高分辨率的放大掃描，來(lái)獲取缺陷的細(xì)節(jié)?？烧{(diào)節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數(shù)能滿足用戶的所有需求。

　　- Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM

　　- 借助的映射算法，從自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(APO)工具中獲取的缺陷坐標(biāo)圖可準(zhǔn)確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術(shù)讓全自動(dòng)高通量缺陷成像成為可能。

　　- Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool

　　- Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement

　　- Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

　　- 業(yè)內(nèi)對(duì)于超平媒介和基體的要求越來(lái)越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)較低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量精確的原子力顯微鏡。

　　- Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector

　　- True Sample Topography™ without piezo creep error

　　選配

　　- Automatic Measurement Control

　　- 自動(dòng)化軟件讓NX-HDM的操作不費(fèi)吹灰之力。測(cè)量程序針對(duì)懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點(diǎn)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為您提供多位置分析。自動(dòng)化軟件會(huì)按照測(cè)量文件中預(yù)設(shè)的程序進(jìn)行樣品測(cè)量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測(cè)量文件只需要10分鐘左右的時(shí)間，而修改現(xiàn)有的測(cè)量文件則需要不到5分鐘的時(shí)間。

　　- Park NX-HDM具有：

　　自動(dòng)、半自動(dòng)和手動(dòng)模式

　　各自動(dòng)程序的可編輯測(cè)量方法

　　測(cè)量過(guò)程實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)

　　自動(dòng)分析所獲取的測(cè)量數(shù)據(jù)