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      ST400型三維表面輪廓儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱智信科儀(北京)科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/6/28 17:35:19
      • 訪問次數(shù)62
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      智信科儀(北京)科技有限公司 Wis-Tru Technology (BeiJing) Co., Limited,成立于2015年,是一家致力于科研儀器、教學(xué)設(shè)備、實(shí)驗(yàn)耗材整合服務(wù)及銷售的一體化公司。公司內(nèi)部主要的管理人員都是從事本行業(yè)多年,積累了大量招投標(biāo)、設(shè)備采購、耗材采購等項(xiàng)目管理經(jīng)驗(yàn)的優(yōu)秀人員。公司自成立至今,已與諸多用戶達(dá)成了合作意向和合作協(xié)議,并依托于的產(chǎn)品質(zhì)量、良好的合作關(guān)系、專業(yè)的服務(wù)隊(duì)伍以及穩(wěn)固的業(yè)內(nèi)基礎(chǔ),在業(yè)內(nèi)迅速獲得了良好的口碑,未來公司的發(fā)展方向?qū)?huì)朝著可提供解決方案的團(tuán)隊(duì)而發(fā)展。 目前我公司已與多家國內(nèi)外企業(yè)達(dá)成合作意向和合作協(xié)議,代理的品牌包括韓國PARK、芬蘭Biolin Scientific AB、美國貝克曼庫爾特、美國Thermo Fisher公司、美國NANOVEA公司、英國Ceramisis公司、瑞士Nanosurf公司、美國Filmetrics公司、日本KEYENCE公司、瑞士KISTLER公司、荷蘭Phenom公司、美國SEIKOWAVE公司、中國臺(tái)灣ARDIC公司、英國雷尼紹公司、韓國DUKSAN公司、上海阿拉丁生化科技股份有限公司、國藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司、北京化學(xué)試劑廠、天津市津騰實(shí)驗(yàn)設(shè)備有限公司等等,服務(wù)范圍涵蓋高校、科研院所、機(jī)械、冶金、電力、石化、地質(zhì)等行業(yè)。
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      產(chǎn)品簡介  ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項(xiàng),包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺(tái),原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊
      ST400型三維表面輪廓儀 產(chǎn)品信息

        產(chǎn)品簡介

        ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項(xiàng),包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺(tái),原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。

        產(chǎn)品原理:采用白光共聚焦色差技術(shù)

        - 利用白光點(diǎn)光源,光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上。

        - 位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測點(diǎn)漫反射后的光。

        - 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點(diǎn)反射回來的特定波長的光,從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。

        - 再通過點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),即X-Z坐標(biāo)

        - 最后以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)

        - 最后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。

        - 軟件能夠自動(dòng)獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)。

        產(chǎn)品特性:

        - 采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率

        - 測量具有非破壞性,測量速度快,精確度高

        - 測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、     光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);

        - 尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面

        - 不受環(huán)境光的影響

        - 測量簡單,樣品無需特殊處理

        - Z方向測量范圍大:為27mm

        主要功能:

        -  可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖;

        -  可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像;

        -  自動(dòng)得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);

        -  自動(dòng)得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);

        - 可得到樣品的平整度,波紋度等參數(shù);

        - 自動(dòng)校準(zhǔn)功能,例如粗糙度,一般情況下對于曲面樣品,首先展平,然后自動(dòng)給出粗糙度的參數(shù);

        - 具有尺寸測量:長度,寬度,角度,深度,臺(tái)階高度;

        - 可測孔洞磨損面積,磨損體積等參數(shù);

        - 具有功率譜密度測試功能;

        -  具有分形統(tǒng)計(jì)功能;

        ......

        主要技術(shù)參數(shù):

        - XY全自動(dòng)掃描范圍:150×150(mm)

        - XY掃描步長:0.1μm

        - 掃描速度:20mm/s

        - Z方向測量范圍:27mm

        - Z方向測量分辨率:2nm

        產(chǎn)品應(yīng)用:MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。

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