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      TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統(tǒng)

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      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廈門質(zhì)匯科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地廈門市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/6/21 11:11:02
      • 訪問次數(shù)87
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      島津離子色譜儀
      質(zhì)量分辨率:>800質(zhì)量分析范圍:1-2500原始束流或速能量:30kV儀器種類:飛行時(shí)間TESCAN電鏡質(zhì)譜FIB-SEM-TOF-SIMS聯(lián)用系統(tǒng)電子顯微分析是材料和生命科學(xué)微觀分析中最重要的一環(huán)
      TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統(tǒng) 產(chǎn)品信息
      質(zhì)量分辨率:>800
      質(zhì)量分析范圍:1-2500
      原始束流或速能量:30 kV
      儀器種類:飛行時(shí)間

      TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統(tǒng)
      電子顯微分析是材料和生命科學(xué)微觀分析中最重要的一環(huán),而元素分析是其中最重要的表征手段之一,但標(biāo)準(zhǔn)的分析手段如能譜儀和波譜儀存在很多不足,例如因靈敏度不足、空間分辨率較差,無法進(jìn)行輕元素、微量元素的分析,無法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能滿足現(xiàn)階段應(yīng)用的需求。
      TESCAN 提供的解決方案是將飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜與 FIB-SEM 系統(tǒng)集成。這種組合能夠?yàn)橛脩籼峁┕腆w材料的 3D 化學(xué)表征和分子信息,高離子質(zhì)量分辨率和高空間分辨率成像等,并可以進(jìn)行原位 FIB 深度分析。
      飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)
      TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有分辨率的質(zhì)譜儀,工作原理是用聚焦離子束照射樣品表面,從而在樣品最上層的原子層激發(fā)出二次離子 (SI),再根據(jù)不同質(zhì)量的二次離子飛行到探測器的時(shí)間不同來測定離子質(zhì)量。
      與 EDX 相比,TOF-SIMS 可以實(shí)現(xiàn)更好的橫向和縱向分辨率,還可以識(shí)別并定量樣品表面層中存在的元素和分子物質(zhì),以及具有類似標(biāo)稱質(zhì)量的同位素和其他物質(zhì)等。

      系統(tǒng)主要優(yōu)勢:
      高靈敏度,Be,B和Li之類的輕元素檢出限可達(dá)ppm級(jí)
      優(yōu)異的空間分辨率,橫向分辨<><15>
      正負(fù)離子均可檢測,離子質(zhì)量分辨率>800
      2維和3維快速、高離子質(zhì)量分辨率和高空間分辨率成像,進(jìn)行原位FIB深度分析
      通過坐標(biāo)轉(zhuǎn)移,保證不同儀器分析位置的重合
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