ICT4040P 集成電路檢測(cè)儀

ICT系列電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

 [ICT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。

ICT4040P 集成電路檢測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試

技術(shù)規(guī)格：

ICT4040P/4080P/8080P 電路板故障檢測(cè)儀

[ICT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電

腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的

情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到

電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好

◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家

◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修

◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)

◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能

◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較

◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便

◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試

◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試

全功能ASA+ICT測(cè)試器

   ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)

動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是

在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳

V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。ICT（In circuit 

Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可

在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)

波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，

還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。

[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加可靠準(zhǔn)確

■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可

靠——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三

態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■ 

V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確

保各類器件的V/I測(cè)試

集成電路在線功能測(cè)試

    本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、

4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 

1、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程，測(cè)

試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能

不同型號(hào)的IC。

集成電路在線狀態(tài)測(cè)試

通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。

1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)

庫(kù)中 

2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 

3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測(cè)試

離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片

IC邏輯圖查詢

可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。

V/I曲線測(cè)試

    通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在

線學(xué)習(xí)板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、曲線比較：同

故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)

的IC是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大

規(guī)模集成電路分析測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

    使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式： 

    1、探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式）   

    2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式） 

    3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式） 

    4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式）

開(kāi)發(fā)編譯

    TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何

一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看

相應(yīng)說(shuō)明文件。

    1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法

        a）在TVED圖形界面上直接建立  b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

    2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形

加以調(diào)整、修改。

    3、4種測(cè)試方式：

        a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試  b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行

型號(hào)    ICT4040P       ICT4080P       ICT8080P

通道    ICTF:  40thV/I曲線:40th       ICTF:  40thV/I曲線: 80th

        ICTF: 40×2thV/I曲線: 80th

補(bǔ)充：

ICT4080P/8080P系統(tǒng)功能

·單個(gè)器件功能測(cè)試  ·IC狀態(tài)測(cè)試  ·VI曲線分析  ·PROM操作  ·LSI在線分析  

·數(shù)據(jù)庫(kù)整理  ·系統(tǒng)維修日記

·器件端口特征曲線測(cè)試·使用原測(cè)試軟件·TVDE高級(jí)測(cè)試平臺(tái)·全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 

對(duì)應(yīng)于“單個(gè)器件功能測(cè)試”中的12個(gè)功能

         MSI在線功能測(cè)試                  MSI離線功能測(cè)試    

         MSI在線型號(hào)識(shí)別                  MSI離線型號(hào)識(shí)別

         MSI在/離線循環(huán)測(cè)試               RAM離線測(cè)試              

         RAM在線快速測(cè)試                  RAM在線測(cè)試

         PROM離線空檢測(cè)                   LSI離線功能測(cè)試    

         LSI在線功能測(cè)試                  LSI離線測(cè)試庫(kù)更新

對(duì)應(yīng)于“PROM操作”中的11個(gè)子功能

         PROM離線學(xué)習(xí)                           PROM離線比較      

         PROM離線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示

         PROM離線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換            PROM在線快速學(xué)習(xí) 

         PROM在線快速比較

         PROM在線快速顯示                           PROM在線學(xué)習(xí) 

         PROM在線比較

         PROM在線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示                 PROM在線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換

對(duì)應(yīng)于“VI曲線分析”中的4大功能

         VI曲線學(xué)習(xí)            VI曲線比較  

         VI曲線顯示                雙板直接對(duì)比

對(duì)應(yīng)于“IC狀態(tài)測(cè)試”中的3大功能

           IC狀態(tài)學(xué)習(xí)              IC狀態(tài)比較      

         IC狀態(tài)顯示

對(duì)應(yīng)于“LSI在線分析”中的3大功能

         LSI在線學(xué)習(xí)             LSI在線比較

           LSI在線顯示

對(duì)應(yīng)于主框架的17項(xiàng)功能按鈕

          單個(gè)器件功能測(cè)試  IC狀態(tài)測(cè)試      VI曲線分析

          PROM操作                  LSI在線分析     模擬器件直接測(cè)試

          系統(tǒng)自檢                  數(shù)據(jù)庫(kù)整理      建立系統(tǒng)維修日記文件

          原測(cè)試軟件       TVDE高級(jí)測(cè)試平臺(tái)         全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試

          交疊方式排列窗口  非交疊方式排列窗口       分割窗口

          主界面           進(jìn)入系統(tǒng)幫助     

對(duì)應(yīng)于“模擬器件直接測(cè)試”菜單的3大功能

            模擬器件直接測(cè)試    模擬器件型號(hào)識(shí)別      添加新器件

熱鍵

·Alt+L          進(jìn)入“LSI在線分析”界面         ·Alt+M             進(jìn)入

“數(shù)據(jù)庫(kù)整理”界面

·Alt+N          進(jìn)入“全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試”界面         ·Alt+O            進(jìn)入

原測(cè)試軟件界面

·Alt+R          進(jìn)入“PROM操作”界面            ·Alt+S             進(jìn)入

“IC狀態(tài)測(cè)試”界面

·Alt+T          進(jìn)入“系統(tǒng)自檢”界面           ·Alt+V              進(jìn)入

“VI曲線分析”界面

·F1           獲取幫助                          ·Alt+X              退出

本系統(tǒng)

系統(tǒng)運(yùn)行環(huán)境

操作系統(tǒng) ：       Windows 98 或 Windows NT

C P U    ：       PII 以上

內(nèi)    存 ：       ≥16M

硬盤(pán)空間 ：       ≥25M

鼠    標(biāo) ：       ，可為任意型號(hào)

顯    示 ：       1024×768，24位真彩色

電    源 ：       220V/50Hz