非接觸式膜厚測量儀 E-80

產(chǎn)品描述: 

◆非接觸光學(xué)測量系統(tǒng)

◆應(yīng)對各種高反光、高透光材質(zhì)

◆高速采樣，周期20µs  

◆強(qiáng)大的CPK統(tǒng)計功能

◆測量輪廓、斷差、槽深、膜厚等

技術(shù)： 

◆采用白光共焦技術(shù)，分辨率達(dá)到納米級，同時采用了光纖傳感器，具有抗干擾、損耗低、安全隔離、可靠性高等優(yōu)點 

◆機(jī)械精度達(dá)到微米級，運(yùn)行平穩(wěn)，跳動小，磨損低 

◆Y向自動測量，重復(fù)精度1μm 

應(yīng)用： 

◆環(huán)氧樹脂測量 

◆印刷圖形測量 

◆激光打標(biāo)測量 

◆焊膏厚度測量 

◆表面膜厚測量 

設(shè)備技術(shù)參數(shù):