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      850nm光通晶圓測(cè)試機(jī)

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱(chēng)武漢普賽斯電子股份有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地武漢市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/5/8 14:00:24
      • 訪問(wèn)次數(shù)81
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      武漢普賽斯電子股份有限公司是“武漢·中國(guó)光谷”一家企業(yè),2010年成立于中國(guó)·武漢,是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、服務(wù)于一體的技術(shù)型企業(yè),榮獲“專(zhuān)精特新”小巨人企業(yè)。普賽斯電子長(zhǎng)期專(zhuān)注于激光和半導(dǎo)體領(lǐng)域測(cè)試儀器儀表和測(cè)試系統(tǒng)方案,產(chǎn)品覆蓋光通信、激光雷達(dá)、激光顯示、激光醫(yī)療,以及半導(dǎo)體等晶圓芯片器件的生產(chǎn)線。自主開(kāi)發(fā)的相關(guān)儀表和系統(tǒng)方案,如激光器綜合測(cè)試系統(tǒng)、光電探測(cè)器綜合測(cè)試系統(tǒng)、光電組件可靠性分析裝備、精密源表、大電流高精密芯片測(cè)試、高電流窄脈沖晶圓測(cè)試機(jī)等推向市場(chǎng),實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化替代。多類(lèi)產(chǎn)品高,測(cè)試產(chǎn)品覆蓋整個(gè)行業(yè)縱深,是國(guó)內(nèi)極少數(shù)真正做到自主垂直整合的測(cè)試系統(tǒng)方案提供商?! 」緭碛写T士、博士為主的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和經(jīng)驗(yàn)豐富的管理團(tuán)隊(duì)?,F(xiàn)有員工近300人,其中研發(fā)人員近60%,2位教授,4位博士,大部分研發(fā)人員為碩士。研發(fā)團(tuán)隊(duì)由一批的通信、電子技術(shù)和管理等專(zhuān)業(yè)人士組成,公司研發(fā)中心包括儀器儀表研發(fā)部和自動(dòng)化研發(fā)部,主持和參加了多項(xiàng)省市及重要科技研究課題。在微弱信號(hào)檢測(cè)與抗干擾、高速、射頻電路設(shè)計(jì)、自動(dòng)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)與系統(tǒng)集成,光芯片測(cè)試核心算法,以及視覺(jué)檢測(cè)算法領(lǐng)域具有雄厚的研發(fā)能力和長(zhǎng)期的沉淀。依托所掌握的核心技術(shù),在光電檢測(cè)與測(cè)試等方面取得了眾多的科技成果,并獲得了多項(xiàng)發(fā)明。公司還開(kāi)發(fā)了測(cè)量微弱電流以及半導(dǎo)體材料特性檢測(cè)的系列電性能測(cè)試儀器儀表設(shè)備,如皮安表、源表、大功率脈沖源、大功率激光器相關(guān)測(cè)試系統(tǒng)、半導(dǎo)體制冷器的相關(guān)測(cè)試系統(tǒng)等。   普賽斯電子秉承追求品質(zhì)、求精、服務(wù)、創(chuàng)新的企業(yè)工匠精神,為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與貼心的服務(wù)。打造為光電和半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)與方案提供的者!
      光功率測(cè)試儀
      普賽斯光通信VCSEL測(cè)試機(jī)用于面發(fā)射類(lèi)型VCSEL的Wafer測(cè)試,支持芯片的LIV、光譜相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺(jué)自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持常溫、高溫雙溫測(cè)試,高溫測(cè)試溫度可由用戶自定。兼容多種不同尺寸的Wafer,向用戶開(kāi)放測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù),用于后續(xù)篩分工序。
      850nm光通晶圓測(cè)試機(jī) 產(chǎn)品信息
      • 商品名稱(chēng): 850nm光通晶圓測(cè)試機(jī)
      • 型號(hào): PSS WT-8501
      • 描述: 直流15mA高精度測(cè)試

      普賽斯光通信VCSEL測(cè)試機(jī)用于面發(fā)射類(lèi)型VCSEL的Wafer測(cè)試,支持芯片的LIV、光譜相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺(jué)自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持常溫、高溫雙溫測(cè)試,高溫測(cè)試溫度可由用戶自定。兼容多種不同尺寸的Wafer,向用戶開(kāi)放測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù),用于后續(xù)篩分工序。

      產(chǎn)品應(yīng)用

      • 光通信等應(yīng)用的VCSEL芯片測(cè)試
      • 小功率面發(fā)射芯片的驗(yàn)證測(cè)試

    1. 產(chǎn)品特點(diǎn)

      • 集成自制LIV綜合測(cè)試儀,小電流擋位精度高,支持LIV測(cè)試

       


      • 積分球同步收光,支持 LIV 測(cè)試和光譜測(cè)試

       


      • 探針臂,針壓可調(diào),最小調(diào)到1g,壓力穩(wěn)定性在±0.1g以內(nèi),探針安裝帶限位功能

       


      • 支持晶圓位置識(shí)別和自動(dòng)調(diào)整
      • 測(cè)試載臺(tái)采用高導(dǎo)熱材料,TEC溫控,溫度范圍可支持25~85°C
      • 支持快速光譜測(cè)試

      • 軟件支持精確定位圖、坐標(biāo)數(shù)據(jù)生成,數(shù)據(jù)庫(kù)自動(dòng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)及圖片

       

    2. 參 數(shù)

      指 標(biāo)

      適合Wafer尺寸

      2寸、4寸和6寸

      芯片加電方式

      支持同面和異面類(lèi)型的VCSEL加電

      電流范圍

      范圍0-500mA

      電流輸出和測(cè)量精度

      0~20mA:0.1%FS±0.1mA

      0~100mA:0.1%FS±0.1mA

      0~250mA:0.1%FS±0.25mA

      0~500mA:0.1%FS±0.5mA

      電流加電方式

      支持連續(xù)電流掃描,和脈沖加電:脈寬200us~650ms,周期2ms~6s,同步輸出觸發(fā)信號(hào)

      前光功率

      范圍0-500mW,精度0.1%FS±50uW

      正向電壓

      范圍0-5V,精度0.5%±50mV

      波長(zhǎng)范圍

      800-1700 nm,其他波長(zhǎng)支持定制

      測(cè)試臺(tái)溫控范圍

      25~85℃,穩(wěn)定性<±1℃

      設(shè)備尺寸

      不含信號(hào)燈及顯示器,1250mm(深)×1100mm(寬)×1750mm(高)

      氣源要求

      正壓:無(wú)

      負(fù)壓:≦-80KPa

    3. 關(guān)鍵詞:顯示器
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