產(chǎn)品介紹
VIT測試系統(tǒng)外形圖
VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統(tǒng),支持成像探測器所有重要參數(shù)的測試。
VIT測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng),由以下五個部分組成:雙圖像投影通道,一組圖像采集卡,及,測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測試系統(tǒng)的核心模塊,包括輻射通道和成像通道。
VIT測試系統(tǒng)提供了一組傳統(tǒng)參數(shù)的測量,這些參數(shù)通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機(jī)的EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)推薦的性能參數(shù)測試。
一般測試功能:
1. 輻射參數(shù):相對光譜靈敏度、比探測率D*、量子效率QE、靈敏度、動態(tài)范圍、線性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素?cái)?shù)、3D噪聲??梢詼y量16個不同波長下的情況。
2. 成像參數(shù):調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、分辨率、最小可分辨對比度、串?dāng)_、高光溢出Blooming、視場。
EMVA1288測試功能:量子效率,增益,時(shí)間暗噪聲,DSNU1288,信噪比,PRNU1288,LE非線性,靈敏度閾值,飽和容量,動態(tài)范圍,暗電流,相對光譜靈敏度。
產(chǎn)品參數(shù)
表1 用于定義VIT測試系統(tǒng)版本的兩位數(shù)編號
編號 | A列:已封裝傳感器 | B列:電子控制模塊支持的被測件 |
1 | VIS-NIR傳感器 | 相機(jī)核心 |
2 | InGaAs傳感器 | 相機(jī)核心和最多兩個原始傳感器 |
3 | VIS-NIR傳感器和InGaAs 傳感器 | 相機(jī)芯和多個原始傳感器 |
表2 產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)
電源 | 230/110 VAC 50/60 Hz 功率<800W |
工作溫度 | 10°C to 40°C |
尺寸 | 約163x63x73 cm |
重量 | 約91kg(不包括PC) |