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      光學(xué)干涉儀

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海拍頻光電科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2024/4/9 17:36:49
      • 訪問次數(shù)102
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      上海拍頻光電科技有限公司長期專注于雙頻激光干涉測量技術(shù)研究及其產(chǎn)品開發(fā),所涉及的雙頻激光器、雙頻干涉儀、信號處理卡、光纖耦合器等部件均自主研發(fā)。產(chǎn)品主要服務(wù)于半導(dǎo)體裝備、超精密運(yùn)動控制、長度計量、精密機(jī)床校準(zhǔn)、振動、速度、加速度測試等領(lǐng)域。我們的核心團(tuán)隊由光學(xué)、機(jī)械、電子、銷售等專業(yè)人員組成,均具有十多年雙頻激光干涉儀產(chǎn)品開發(fā)及其應(yīng)用經(jīng)驗,是國內(nèi)工程經(jīng)驗的雙頻激光干涉儀團(tuán)隊之一。SPOE為 用戶提供超精密位移檢測系統(tǒng)方案設(shè)計和產(chǎn)品定制服務(wù),具備各種關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)測試能力,擁有面型干涉儀、平行度檢測平臺、熱漂移檢測平臺、非線性誤差測試平臺、轉(zhuǎn)角行程測試平臺等。
      激光測量儀
      光學(xué)干涉儀鏡組將參考光束和測量光束在空間上分離,測量光束經(jīng)過被測反射鏡的反射后,返回干涉儀與參考光束發(fā)生干涉,被測鏡的位移信號被調(diào)制成干涉信號
      光學(xué)干涉儀 產(chǎn)品信息


      光學(xué)干涉儀鏡組將參考光束和測量光束在空間上分離,測量光束經(jīng)過被測反射鏡的反射后,返回干涉儀與參考光束發(fā)生干涉,被測鏡的位移信號被調(diào)制成干涉信號。

      上海拍頻光電科技有限公司針對多種不同的應(yīng)用場合,開發(fā)出了多種類型的干涉儀鏡組。

      主要型號和參數(shù)如下表:

      名稱
      型號非線性誤差光學(xué)細(xì)分光學(xué)效率工作軸數(shù)工作波長
      備注
      單光束干涉儀CIF0102-S<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光,體積小
      單軸角錐干涉儀CIF0102<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光
      單軸差分干涉儀
      CDIF0102<4.2nmλ/2>60%1633nm后入光
      PDIF0104<2.2nmλ/4>50%1633nm后入光
      單軸平鏡干涉儀PIF0104T<2.2nmλ/4>50%1633nm后入光
      PIF0104R<2.2nmλ/4>50%1633nm右入光*
      PIF0104L<2.2nmλ/4>50%1633nm左入光*
      單軸探針干涉儀TIF0102<4.2nmλ/2>50%1633nm后入光
      雙軸角錐干涉儀CIF0102<2.2nmλ/2>20%2633nm后入光
      雙軸平鏡干涉儀PIF0204T<2.2nmλ/4>20%2633nm后入光
      PIF0204R<2.2nmλ/4>20%2633nm右入光
      PIF0204L<2.2nmλ/4>20%2633nm左入光
      雙軸差分干涉儀CDIF0202<4.2nmλ/2>20%2633nm后入光
      PDIF0204<2.2nmλ/4>20%2633nm后入光
      三軸角錐干涉儀CIF0302T<4.2nmλ/2>12%3633nm后入光
      CIF0302R<4.2nmλ/2>12%3633nm右入光
      CIF0302L<4.2nmλ/2>12%3633nm左入光
      三軸平鏡干涉儀PIF0304T<2.2nmλ/4>12%3633nm后入光
      PIF0304R<2.2nmλ/4>12%3633nm右入光
      PIF0304L<2.2nmλ/4>12%3633nm左入光
      四軸平鏡干涉儀PIF0404T<2.2nmλ/4>8%4633nm后入光
      PIF0404R<2.2nmλ/4>8%4633nm右入光
      PIF0404L<2.2nmλ/4>8%4633nm左入光
      五軸平鏡干涉儀PIF0504T<2.2nmλ/4>7%5633nm后入光
      PIF0504R<2.2nmλ/4>7%5633nm右入光
      PIF0504L<2.2nmλ/4>7%5633nm左入光


      備注:右入光是指正對著干涉儀的出光面,入光在右手側(cè)

                       左入光是指正對著干涉儀的出光面,入光在左手側(cè)

                       特殊要求可接受定制


      部分干涉儀模型如下圖:


              

      單光束干涉儀及其被測角錐鏡      單軸平鏡干涉儀(后入光)   雙軸平鏡干涉儀(后入光)


                

      三軸平鏡干涉儀(左入光)     四軸平鏡干涉儀(右入光)       五軸平鏡干涉儀(右入光)




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