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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      日立 FIB-SEM三束系統(tǒng)NX2000

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/3/23 20:18:53
      • 訪問次數(shù)156
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      思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司專注于光學(xué)測量儀器的銷售與服務(wù), 思耐達(dá)主要致力于為合作伙伴提供SEM掃描電子顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、FIB聚焦離子束顯微鏡、共聚焦顯微鏡、3D顯微鏡、白光干涉儀、臺階膜厚測量儀等光學(xué)儀器的銷售和相關(guān)的測量服務(wù),產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于化工、電子、半導(dǎo)體、醫(yī)療、材料、生物技術(shù)、食品以及政府單位和高??蒲性核阮I(lǐng)域。思耐達(dá)的由來:誠:誠乃思耐達(dá)人做人做事之根本,古人說:索道于當(dāng)世者,莫過于誠!思耐達(dá)人不自欺,亦不欺人。思耐達(dá)人勇于面對自身的不足,虛心接受他人的批評與建議。敬:“敬人者,人恒敬之”,月滿則虧,物盛則衰!要想成大事,需懷敬畏之心,收斂鋒芒,尊重他人,低調(diào)做人,高調(diào)做事。思耐達(dá)人恭順帶人,充分尊重事實(shí)和每一位伙伴的每一個(gè)需求,力爭雙贏。靜:遇事有靜氣,泰山崩于前而不亂,沉穩(wěn)淡定,耐心應(yīng)對。思耐達(dá)人面對他人的質(zhì)疑,不亂方寸,不改初心,洞察問題本質(zhì),坦然地為合作伙伴提供合理的解決方案。謹(jǐn):禍從口出,謹(jǐn)小慎微,凡事不張揚(yáng)。思耐達(dá)人只闡述客觀事實(shí),絕不詆毀競爭品牌和對手。恒:持之不懈,意志篤定,困苦不退縮,挫敗不止步。人而無恒,終身一無所成。思耐達(dá)人定不嫌繁瑣、持之以恒為每一位合作伙伴提供全面的售前診斷和售后支持,始終如一。 思耐達(dá)——認(rèn)真地思考每位伙伴的需求,做好每個(gè)細(xì)節(jié),耐心地為每位合作伙伴提供合理的解決方案,最終達(dá)成合作共贏!品質(zhì)能通過行業(yè)考驗(yàn)企業(yè)提供的服務(wù):光學(xué)精密儀器銷售.售前產(chǎn)品測試.第三方測量服務(wù).售后技術(shù)支持維修.培訓(xùn)等服務(wù)。我們的宗旨&愿景企業(yè)宗旨:一切以合作伙伴的需求為中心.提供專業(yè)的解決方案并協(xié)助合作伙伴解決問題。企業(yè)愿景:"但愿人長久,千里共同途".服務(wù)大眾.力爭成為同行業(yè)優(yōu)全的光學(xué)儀器整體測量方案服務(wù)商。企業(yè)文化企業(yè)文化:“誠、敬、靜、謹(jǐn)、恒”,五字行事準(zhǔn)則。企業(yè)團(tuán)隊(duì):現(xiàn)有行業(yè)銷售工程師3名,行業(yè)售前技術(shù)工程師3名,行業(yè)售后工程師3名等。
      電子掃描顯微鏡
      產(chǎn)品介紹 在設(shè)備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。 近來,目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。 日立高新公司,整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù),再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®*1(選配)技術(shù),推出了新一代產(chǎn)品NX2000
      日立 FIB-SEM三束系統(tǒng)NX2000 產(chǎn)品信息

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      產(chǎn)品介紹:


      追求的TEM樣品制備工具

      在設(shè)備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。

      近來,目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。

      日立高新公司,整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù),再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam?*1(選配)技術(shù),推出了新一代產(chǎn)品NX2000


      產(chǎn)品特點(diǎn):


      運(yùn)用高對比度,實(shí)時(shí)SEM觀察和加工終點(diǎn)檢測功能,可制備厚度小于20 nm的超薄樣品



      FIB加工時(shí)的實(shí)時(shí)SEM觀察*2例

      樣品:NAND閃存

      加速電壓:1 kV

      FOV:0.6 μm


      加工方向控制技術(shù)(Micro-sampling?*3系統(tǒng)(選配)+高精度/高速樣品臺*)對于抑制窗簾效應(yīng)的產(chǎn)生,以及制作厚度均一的薄膜類樣品給予厚望。



      Triple Beam?*1(選配)可提高加工效率,并能使消除FIB損傷自動(dòng)化



      EB:Electron Beam(電子束)

      FIB:Focused Ion Beam(聚焦離子束)

      Ar:Ar ion beam(Ar離子束)


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