蔡司 LSM 900 激光掃描共聚焦顯微鏡是
一臺(tái)用于材料研究與分析的儀器, 可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶(hù)設(shè)施中表征三維微觀
結(jié)構(gòu)和表面形貌。將蔡司 Axio Imager.Z2m 正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司
Axio Observer 7 倒置式顯微鏡裝上 LSM 900 共聚焦掃描頭,即升級(jí)為共聚
焦顯微鏡,同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式,以及高精度的共聚焦表面
三維成像模式 ,您可輕松將所有功能集于一身
共聚焦原理 – 對(duì)整個(gè)樣品進(jìn)行 3D 成像
LSM 900 顯微鏡系統(tǒng)使用激光作為光源,采集樣品一定光切厚度的激光反射信號(hào),并在三維
高度上進(jìn)行掃描得到光切面的圖像堆棧。共聚焦顯微鏡的主要特點(diǎn)是光路中設(shè)置有小尺寸的光
欄(通常稱(chēng)為針孔),該針孔僅允許焦平面的光線通過(guò),阻擋非焦平面的光線進(jìn)入探測(cè)器。為
了對(duì)光切面進(jìn)行成像,還需要控制激光束進(jìn)行 X、Y 方向的掃描。掃描的時(shí)候,焦平面的信息
會(huì)呈現(xiàn)亮色,而非焦平面的信息會(huì)呈現(xiàn)黑色。移動(dòng)樣品和物鏡的相對(duì)位置,就可以以非破壞性
方式得到一系列沿高度方向上的光切面圖像堆棧。分析水平圖像上單個(gè)像素位置在高度上的亮
度變化曲線,就可以得到當(dāng)前像素位置的物體高度值。綜合整個(gè)視場(chǎng)內(nèi)所有像素位置的高度信
息就可以形成測(cè)試面積上的高度分布云圖。
共聚焦專(zhuān)用 C Epiplan-APOCHROMAT 高性能物鏡
使用高性能復(fù)消色差平視場(chǎng)校正 C Epiplan-APOCHROMAT 系列物鏡,可以更好地滿(mǎn)足反射光
應(yīng)用的嚴(yán)苛要求。該系列物鏡可以保證在可見(jiàn)光譜范圍內(nèi)具有出色的成像對(duì)比度,以及高透過(guò)
率。同時(shí)還可以在寬場(chǎng)觀察模式下得到很好的微分干涉效果,以及清晰的熒光圖像。
C Epiplan-APOCHROMAT 物鏡專(zhuān)為共聚焦成像設(shè)計(jì),在使用激光波長(zhǎng) 405 nm 的情況下,能
夠?qū)崿F(xiàn)全視野中最小的像差。使用這一物鏡能夠以更少的干擾噪聲和偽影來(lái)產(chǎn)生更好的形貌
數(shù)據(jù),進(jìn)而呈現(xiàn)更多樣品表面細(xì)節(jié)。