主要用于COG/FOG/COF本壓后粒子和偏移檢測(cè)。配置高解析顯微鏡,自動(dòng)對(duì)焦功能;
針對(duì)產(chǎn)品的 IC Chip、FPC、COF 偏移、導(dǎo)電粒子數(shù)目及壓痕強(qiáng)度和壓痕長(zhǎng)度、異物、破片(邦定區(qū)) 等不良項(xiàng)目,將良品與不良品進(jìn)行分析判定分揀
功能特點(diǎn):
整機(jī)配置入料轉(zhuǎn)接平臺(tái)-直線上下料模組-測(cè)試平臺(tái)2組-線掃描相機(jī)模組-拋料-出料皮帶線
預(yù)留外接投料口,實(shí)現(xiàn)與全自動(dòng)線體信號(hào)對(duì)接兼容人工上料
線掃描相機(jī)激光傳感器自動(dòng)測(cè)高控
多種機(jī)型可選擇:?jiǎn)芜厗晤w,單邊多顆或雙邊多顆
漏檢率≤0.01% (漏檢率=規(guī)格外產(chǎn)品錯(cuò)判為內(nèi)的數(shù)量/總投入量
過(guò)檢率≤1% (過(guò)檢率=規(guī)格內(nèi)產(chǎn)品錯(cuò)判為外的數(shù)量/總投入量)
CYAI3600
適用尺寸:1"-8"
檢查邊max1邊:(1souce)2~8 Inch Panel (1Souce邊1IC+1FPC):≦3.5S/PCS
CYAI600A(雙平臺(tái))
適用尺寸:1"-10.1"
檢查邊max1邊:(1souce)1~10.1 Inch Panel (1Souce邊1IC+1FPC):≦4.5S/PCS
CYAI800
適用尺寸:4"-17.6"
檢查邊4~8 Inch Panel (1Souce邊 1IC+1 FPC):≦4.5S/PCS
檢查邊8~17.6 Inch Panel (1Souce邊1IC+1FPC-1Gate 1IC):≦6S/PCS
每加個(gè)檢測(cè)位多加1.5秒