產(chǎn)品名稱(chēng):CT-2000渦流測(cè)厚儀(膜厚儀涂層測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀) |
產(chǎn)品型號(hào):CT-2000 |
產(chǎn)品產(chǎn)地:沈陽(yáng) |
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該儀器設(shè)計(jì)時(shí)曾參照國(guó)外的同類(lèi)儀器,與國(guó)外儀器性能相同,功能相似。
采用紅寶石耐磨觸點(diǎn)的恒壓導(dǎo)套式探頭,可在各種堅(jiān)硬、粗糙表面上得到穩(wěn)定的輸出。
該儀器具備以下幾種重要功能:
1、 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)關(guān)機(jī)保留功能:即開(kāi)機(jī)時(shí)不必重新校準(zhǔn),關(guān)機(jī)后,校準(zhǔn)數(shù)據(jù)仍可保留。
2、 數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:可輸出5種統(tǒng)計(jì)參數(shù)。
3、 節(jié)電功能:停止測(cè)試3分種,儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。
4、 電池欠壓指示功能:電池電壓過(guò)低自動(dòng)關(guān)機(jī)。
5、 蜂鳴音提示功能:蜂鳴音提示有效測(cè)量、故障及誤操作。
2.測(cè)量精度:±3%±0.5μm F·S
3.分辨率:1μm
4.使用溫度:0-40℃
5.顯示器:三位半LCD顯示器
6.電源:9V層迭電池一節(jié),型號(hào)6F 22
7.功率:50mW
8.外型尺寸:80×150×35mm
9.重量:40g
2.RES-統(tǒng)計(jì)輸出鍵。按下該鍵五次,將順次得到一組測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果,分別為平均值、值、最小值測(cè) 量次數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.DEL-刪除鍵。可刪除次測(cè)量值。
4.CAL/ENTER校準(zhǔn)鍵。用于校準(zhǔn)儀器。
5.▽?zhuān)@示值下調(diào)鍵。在進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí),用來(lái)將顯示值調(diào)低。還可以與DEL鍵配合,撤銷(xiāo)蜂鳴音或恢復(fù)蜂鳴音。
6.△-顯示值上調(diào)鍵。在進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí),用來(lái)將顯示值調(diào)高。
2.測(cè)量方法如下:將探頭平穩(wěn)、垂直地落到清潔、干燥、平整的待測(cè)試樣上,儀器的鳴叫一聲,同時(shí)顯示出涂層厚度值。表明一次測(cè)量完成。抬起探頭,重新落下,便可進(jìn)行下一次測(cè)量。這樣反復(fù)5-10次,就可完成一組測(cè)量。
3.按下RES鍵5次,可依次得到一組統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù):
MAX-值
MIN-最小值
N-測(cè)量次數(shù)
S-標(biāo)準(zhǔn)偏差
5.測(cè)量完畢,按ON/OFF鍵,關(guān)閉電源。為節(jié)電起見(jiàn)。該儀器設(shè)有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能,停止操作3分鐘,儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。
6.該儀器有電池欠壓指示功能。當(dāng)電池電壓不足時(shí),會(huì)顯示出“LOBAT”字符。此時(shí),應(yīng)在30分鐘內(nèi)結(jié)束測(cè)量,更換電池。儀器背面,設(shè)有電池倉(cāng),打開(kāi)倉(cāng)蓋,更換電池即可。
(2)在基體上測(cè)量5-10次,顯示零點(diǎn)測(cè)量結(jié)果的平均值。
(3)連續(xù)按下兩次CAL鍵,儀器接受新的零點(diǎn),退出校準(zhǔn)狀態(tài),顯示“0”,進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
(2)在基體上測(cè)量5-10次,顯示零點(diǎn)測(cè)量結(jié)果的平昀值。
(3)按CAL鍵,儀器自動(dòng)校準(zhǔn)零點(diǎn)。提示“STD1”,顯示“0.0”。
(4)取標(biāo)準(zhǔn)片,放在基體上,測(cè)量5-10次,顯示該標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量結(jié)果的平均值。
(5)按△或▽鍵,使顯示值與標(biāo)準(zhǔn)片厚度值相等。
(6)按CAL鍵,儀器存入該校準(zhǔn)值后,提示“STD2”顯示“0.0”
(7)重復(fù)(4)-(6)的操作,校準(zhǔn)其它兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片。爾后,儀器退出校準(zhǔn)狀態(tài),顯示“0”,進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
(2)按下CAL鍵,提示“STD1”,顯示“0.0”。
(3)在參考試樣上測(cè)量5-10次,顯示該試測(cè)量結(jié)果的平均值。
(4)按△或▽鍵,使顯示值與參考試樣厚度值相同。
(5)按CAL鍵,儀器存入該校準(zhǔn)值后,提示“STD2”,顯示“0.0”。
(6)取標(biāo)準(zhǔn)片,放在參考試樣上,測(cè)量5-10次,顯示測(cè)量結(jié)果一平均值。
(7)按△或▽鍵,使顯示值等于參考試樣厚度值與標(biāo)準(zhǔn)片厚度值之和。
(8)按CAL鍵,儀器存入該校準(zhǔn)值后,提示“STD3”顯示“0.0”。
(9)取第二標(biāo)準(zhǔn)片,放在參考試樣上,測(cè)量5-10次,顯示出測(cè)量結(jié)果的平均值。
(10)按△或▽健,使顯示值等于參考試樣厚度值與第二標(biāo)準(zhǔn)片厚值之和。
(11)按CAL鍵,校準(zhǔn)結(jié)束,顯示“0.0”儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)。
2.校準(zhǔn)片的選擇應(yīng)使待測(cè)件的膜厚值被標(biāo)準(zhǔn)片的厚度值所包含。各步校準(zhǔn)所用標(biāo)準(zhǔn)片厚度必須按從小到大順序選取。
3.在校準(zhǔn)過(guò)程中,可用DEL鍵刪除該次測(cè)量值。也可使用DEL鍵,依次刪除前幾次的測(cè)量量,直至回到本步驟的初始狀態(tài)。
4.在多點(diǎn)校準(zhǔn)和特性校準(zhǔn)時(shí),連續(xù)按下兩次CAL鍵,可提前結(jié)束校準(zhǔn),回到測(cè)量狀態(tài)。
5.為盡量提高測(cè)量精度,在下述情況下應(yīng)采用外形和材質(zhì)與待測(cè)件相同的基體材料重新校準(zhǔn)儀器。
(2)試樣曲率半徑<200mm。
(3)試樣被測(cè)面直徑200mm。
(4)基本材料厚度<1mm。
(5)基體材料的合金成分發(fā)生了變化。
2.探頭應(yīng)保持清潔,被測(cè)物上的污物和塵土在測(cè)量前應(yīng)除掉、避免測(cè)量誤差和污損探頭。
3.儀器長(zhǎng)時(shí)間不用時(shí),應(yīng)取出電池,以免電池漏液污損儀器。
4.儀器如發(fā)生故障,請(qǐng)立即與本所聯(lián)系修理,不要擅自開(kāi)機(jī),否則責(zé)任自負(fù)。
現(xiàn) 象 | 原 因 | 排除方法 |
無(wú)顯示或儀器突然關(guān)機(jī) | 1. 開(kāi)關(guān)沒(méi)打開(kāi)。 2. 自關(guān)關(guān)機(jī)。 3. 電池耗盡。 4. 電池連接不好。 | 1. 按住ON/OFF直到有顯示后松手。 2. 重新開(kāi)機(jī)。 3. 更換電池檢查電池扣及連接線。 |
測(cè)量時(shí)無(wú)響應(yīng) | 1. 基體不導(dǎo)電。 2. 涂層太厚。 3. 探頭導(dǎo)線接觸不良。 4. 探頭損壞。 5. 基體是鐵磁性的。 | 1. 檢查被測(cè)件。 2. 檢查被測(cè)件。 3. 檢查探頭導(dǎo)線。 4. 更換探頭。 5. 檢查被測(cè)件。 |
測(cè)量結(jié)果明顯出錯(cuò) | 1. 基體材料與上次校準(zhǔn)所用基體材料不同。 2. 探頭特性受試樣曲率面積等影響。 3. 校準(zhǔn)時(shí)出錯(cuò)。 4. 測(cè)量作不協(xié)調(diào)。 | 1. 用新基體材料重新校準(zhǔn)儀器。 2. 在相同形狀基體一重新校準(zhǔn)儀器 3. 重新校準(zhǔn)。 4. 按DEL鍵。 |
開(kāi)機(jī)后只顯示所有字符,且不能關(guān)機(jī)。 | 單片機(jī)電路故障。 | 與生產(chǎn)廠聯(lián)系修理。 |
顯示E | 測(cè)量時(shí)過(guò)快地抬起探頭 | 重新測(cè)量。 |
顯示E1,且不能測(cè)量 | 探頭開(kāi)路或電路故障。 | 與生產(chǎn)廠聯(lián)系修理。 |
顯示E2,且不能測(cè)量 | 更換了新探頭。 | 與生產(chǎn)廠聯(lián)系 |
顯示E3 | 要求重新校準(zhǔn) | 重新樣準(zhǔn)。 |
偶然出現(xiàn)不能關(guān)機(jī) | 程序運(yùn)行出錯(cuò) | 取出電池重新安裝。 |
九、緊急情況處理——復(fù)位操作功能