簡(jiǎn)介︰

的A.S & Co產(chǎn)品系列SpectraVision 4，軟件模塊包含多種硬件控制，如PMT，光譜儀，成像攝像頭，光源燈；可以完成標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置的測(cè)試分析，也可以進(jìn)行客戶自定義的獨(dú)立研究分析。SpectraVision 4進(jìn)行反射率測(cè)量是通過選擇PMT或者CCD探測(cè)器完成的，可根據(jù)客戶需要進(jìn)行靈活配置。探測(cè)器直接耦合在光路中，不需要光纖連接，能夠達(dá)到的信號(hào)接收品質(zhì)?？蛇x制冷循環(huán)系統(tǒng)，可以極大提高信噪比（S/N）。

產(chǎn)品概述和特點(diǎn)

SpectraVision 4成像模塊是一種新開發(fā)的工具，能夠幫助鏡質(zhì)體的測(cè)量。基于現(xiàn)代成像系統(tǒng)的12-16bit動(dòng)態(tài)范圍視頻攝像頭探測(cè)器，得到原始的成像圖片。同時(shí)能夠記錄下測(cè)量位置的信息?？蓱?yīng)用到特殊領(lǐng)域，如焦化廠煤質(zhì)分析?？焖俳o出煤品質(zhì)和顆粒度等計(jì)算信息，提供的煤階配比。成像顯示樣品形貌和測(cè)量位置，同時(shí)給出直方圖信息?；陔妱?dòng)控制載物臺(tái)的系統(tǒng)，可以自動(dòng)掃描樣品，自動(dòng)分析測(cè)試結(jié)果，輸出測(cè)試報(bào)告。

SpectraVision 4可以在一套軟件中根據(jù)用戶的實(shí)際需要，提供多種獨(dú)立和功能強(qiáng)大的應(yīng)用模塊。系統(tǒng)可以進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化的鏡質(zhì)體反射率測(cè)量，同時(shí)也可進(jìn)行精密、復(fù)雜的樣品探測(cè)，完成反射，透射，熒光光譜分析。

SpectraVision 4地質(zhì)和有機(jī)巖相學(xué)應(yīng)用主要特點(diǎn)：

?  鏡質(zhì)體反射率

?  多種有機(jī)質(zhì)成分分布

?  偏振模式

?  顯微熒光光譜

?  成熟度研究

?  色域分析

?  鏡質(zhì)體反射率和熒光光譜相關(guān)研究

?  自動(dòng)成像和工業(yè)、巖相學(xué)圖像測(cè)量

?  波長(zhǎng)精度定標(biāo)和信號(hào)強(qiáng)度動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)

?  自動(dòng)感測(cè)和熒光標(biāo)定

SpectraVision 4系統(tǒng)特點(diǎn)

?  標(biāo)準(zhǔn)546nm波長(zhǎng)反射率測(cè)量；

?  計(jì)算直方圖符合DIN/ISO 標(biāo)準(zhǔn)；

?  測(cè)量結(jié)果符合GB/T12937-2008；GB/T 8899-2013；GB/T 15590-2008標(biāo)準(zhǔn)所需測(cè)量要求。

?  統(tǒng)計(jì)參數(shù)如平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差；

?  多組分分布測(cè)量。

根據(jù)顯微鏡能力，SpectraVision 4具有的功能

?  明場(chǎng)、暗場(chǎng)透射模式；

?  明場(chǎng)、暗場(chǎng)反射模式；

?  偏振模式；

?  熒光模式；

?  三維模擬成像。

 圖1顯微鏡光照下圖形

圖2通過circular-difference-interference-contrast（循環(huán)微分干涉對(duì)比）技術(shù)，使得三維微觀結(jié)構(gòu)可視化

技術(shù)參數(shù)