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      紫外/可見/近紅外分光光度計 UH4150

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱山東博睿儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2023/8/28 8:26:59
      • 訪問次數(shù)155
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             山東博睿儀器有限公司位于山東省濟南市,公司主要經(jīng)營:化學(xué)、材料科研分析儀器,生命科學(xué)儀器、檢測儀器、電力仿真軟件等。公司主要致力于科研領(lǐng)域,客戶遍布山東省內(nèi)的高等院校、科研院所、檢驗檢疫、環(huán)境保護、農(nóng)業(yè)畜牧等企事業(yè)單位。
            公司代理品牌有Thermo賽默飛、布魯克、IKA、特勒、Leica、Mili-Q密理泰克-福祿克、RT-LAB等們通過可靠的產(chǎn)品、誠信的服務(wù)、國際品牌的度來贏得客戶的合作和信任。公司始終秉承“致力于科研領(lǐng)域,傳遞健康能量”的理念,致力于推廣的科研、分析、診斷儀器。同時,公司注重建立學(xué)術(shù)交流平臺,與省內(nèi)各大高校、科研院所建立技術(shù)交流平臺,共同推進中國科研領(lǐng)域技術(shù)發(fā)展。公司自成立以來,銷售額每年以30%的速度飛速增長,在行業(yè)內(nèi)有較高的度。 公司擁有專業(yè)的銷售人員、售前、售后技術(shù)支持工程師、維修工程師,可以為客戶提供售前、售后服務(wù)及技術(shù)培訓(xùn),儀器保養(yǎng)及維修等一整套的服務(wù),為客戶提供完善的實驗解決方案。
           
      固體分析分光光度計專家U-4100,實現(xiàn)了進一步的技術(shù)提高,UH4150問世!現(xiàn)在,UH4150型分光光度計已經(jīng)面世,秉承了U-4100的高度可靠性
      紫外/可見/近紅外分光光度計 UH4150 產(chǎn)品信息

        固體分析分光光度計專家U-4100,實現(xiàn)了進一步的技術(shù)提高, UH4150問世!現(xiàn)在,UH4150型分光光度計已經(jīng)面世,秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累計發(fā)售1,500*1多臺。

      切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定


      檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例
      (金納米棒的吸收光譜)

        安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等,將檢測器切換時(信號水平的差異)吸光度值的變化降到最小。日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振。

            UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。

      平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定

       
      鏡面反射率測定示例

        入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束,相對于樣品入射角始終相同,實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外,平行光束可用于擴散率(霧度)的評價和透鏡透過率的測定。

      可提供適合不同測定目的的多種檢測器


      檢測器產(chǎn)品線

        可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3采用全新人體工學(xué)設(shè)計改進樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。

      兼容多種U-4100附件

        通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測定類型。

      比U-4100型更高的樣品通量

        在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時,UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時,掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定,顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品,如太陽能反射材料,尤其有效。


      掃描速度為600 nm/min的
      太陽能反射材料的反射光譜


      掃描速度為1,200 nm/min的
      太陽能反射材料的反射光譜


      關(guān)鍵詞:分光光度計 光度計
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