無源晶振稱為石英晶體諧振器,其參數(shù)很多。較簡(jiǎn)易的方法,可以搭載一個(gè)振蕩電路,用頻率計(jì)測(cè)量頻率,并替代電阻法,等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測(cè)量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡,較難測(cè)出準(zhǔn)確數(shù)值。
用阻抗計(jì)測(cè)量。可以較容易測(cè)量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數(shù)值,并可通過計(jì)算得出其它相關(guān)參數(shù)。缺點(diǎn)阻抗計(jì)一般數(shù)度有限,頻率值一般誤差在5ppm左右,其支架電感的嚴(yán)重影響,使串聯(lián)諧振頻率相位移較大,同時(shí)又干擾正確測(cè)量負(fù)載諧振頻率。另外,其測(cè)量有一定的局限性,只能測(cè)量質(zhì)量因數(shù)大于60以上的晶振,也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量。分為專用和通用兩種。專用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置簡(jiǎn)單,可以進(jìn)行全部晶振參數(shù)的測(cè)量,但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò)分析儀,設(shè)置較為繁雜,測(cè)量參數(shù)有限,但可以通過計(jì)算獲得。
晶振測(cè)試儀GDS-80系列
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
晶振測(cè)試儀GDS-80系列是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng),采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz,附USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。
晶振頻率測(cè)試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測(cè)量,采用直接阻抗法來測(cè)試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容,它測(cè)量精度高,速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測(cè)量功能,負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試,智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶振測(cè)試設(shè)備使用實(shí)體電容法測(cè)試精度差,無法測(cè)試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測(cè)試變得更輕松。
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)部分:用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》;
SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)第二部分測(cè)量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法》;
GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量第11部分:采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》 ;
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1. 中心頻率范圍: 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm)
3. 負(fù)載電容:1-100P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測(cè)量范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm) 測(cè)量精度:±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr:1MHz-100MHz:1Ω-1000Ω (2±10%*R Ω)
10KHz-200KHz:10K-300K (2±10%*R KΩ)
6. 負(fù)載電容CL測(cè)量范圍:1-200PF
7. 時(shí)基誤差:±1ppm
8. 負(fù)載諧振頻率FL測(cè)量精度:±5ppm+時(shí)基誤差
9. 配件:插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測(cè)試座(標(biāo)配),貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測(cè)試座(選配),插件式表晶測(cè)試座(選配),貼片式表晶測(cè)試座(選配),2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件(選配),通信軟件(僅GDS-80P/S)。