GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

關(guān)鍵詞：彈性常數(shù)等C-V ,介電常數(shù)，損耗角，電導(dǎo)率，C-特性

產(chǎn)品簡介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面。基于Windows10操作系統(tǒng)。實現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。讓測試更簡單。

快達2.5ms的測試速度、及高達100MQ的阻抗測試范圖可以滿足元件與材料的測量基求。特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響。將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

主要性能特點

測試頻率: 10Hz-1 30MHz

高精度:采用自動平衡電橋技術(shù)，四端對測試配置

高穩(wěn)定性和一致性

高速度:達2.5ms的測試速度

高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800

點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式

1601點多參數(shù)列表掃描功能

四參數(shù)測量

自動電平控制(ALC) 功能

4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有14種分屏顯示方式

強大的分選: LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線單獨分選

高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

A.高精度

自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-1 30MHz頻率、1mQ -100M的阻抗范圍內(nèi)都能達到理想的測量精度，其中精度達0.08%，遠遠高于射頻反射測童法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

應(yīng)用

■無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

■半 導(dǎo)體元件:

LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件:

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評估

介質(zhì)材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估

半導(dǎo)體材料:

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、電導(dǎo)率和C-特性

液晶單元:

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

B.高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、則試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≤0.003%（≤±0.0015Ω）

C.高速度

D.10. 1時大屏，四種測里參數(shù)，讓細節(jié)一覽無遺

10. 1寸觸摸屏、1280*800分 辨率，Windows10系統(tǒng) 、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/ HOMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

E.增強的列表掃描功能

可以最多設(shè)置1 601點的列表掃描，每個點可以單獨設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.強大的分析圖形界面

最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.分段掃描功能

最多可以4通道同時顯示，每個通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量，無需掃描不相關(guān)頻率。

H.強大的光標分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現(xiàn)如下功能:

1.讀取測量結(jié)果的數(shù)值(作為數(shù)值或者相對于參考點的相對值)

2.查找曲線上的特定點(光標查找)

3.分析曲線測量結(jié)果，計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)

4.使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放

TH2851可以在每條曲線上顯示10個光標，包括了參考光標。

每個光標有一個激勵值( 坐標系x軸對應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標系Y軸對應(yīng)的數(shù)值)。

光標查找功能允許搜索下列條件測量點:值、最小值

峰谷值:峰值(極大值)、 谷值(極小值)、 光標左側(cè)最近的峰谷值、光標右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

目標值:距離光標最近的目標值 、光標左側(cè)最近的目標值、光標右側(cè)最近的目標值、多重目標值

G.強大的圖形分析功能

1) 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

2)等效電路分析測試

現(xiàn)實生活中不同類型的器件可以械等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路3分析則式功能提供了7種基本電路模型用于等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實際測重的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的摸型進行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TIT文檔方便用戶保存使用

3)晶體振蕩器分析

對壓電陶瓷等晶體進行列量以及性能分析，測重計算后獲取晶體的諧振頻軍、反諧振頻率.品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

4)曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測童，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應(yīng)用:

a)針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

b)針對同一個被測件

對比同一個條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測童值。

F.標配附件