目 錄

第 1   章 序言 5

1.%2 聲明 5

2.%2 安全 5

3.%2 功 能 特點 5

4.%2 指標(biāo) 6

5.%2 約定 7

第 2 章 儀器的使用 8

1.%2 儀 器 概述 8

1.1.%3 儀器 各 部分名稱 8

1.2.%3 操作 鍵 盤說明鍵盤 布 局合理 ， 常 用鍵位于近 左 手大拇指的 方 位 。 左手 保持 自然放置狀態(tài)即可 方 便的   調(diào)整儀器的所有設(shè) 置 。 8

1.3.%3 電源 使 用 9

1.3.1.%4 使用交流供電設(shè)備供電9

1.3.2.%4 使用電池工作10

2.1.4 探頭 連 接 10

%1.2 儀 器 操作 10

2.1.%3 儀器 基 本操作步驟 10

2.2.%3 啟動 儀 器 11

2.3.%3 屏幕 顯 示說明 11

2.3.1.%4 功能顯示項11

2.3.2.%4 其它指示標(biāo)志說明12

2.4.%3 功能 概 述 12

2.5.%3 基本 操 作方法 13

2.5.1.%4 功能操作舉例13

第 3 章 功能說明 及 操作方法 14

1.%2 基 本 組功能調(diào)節(jié) 14

1.1.%3 探測 范 圍 14

1.2.%3 材料 聲 速 14

1.3.%3 脈沖 移 位 15

1.4.%3 工件 厚 度 15

%1.2 探 頭 組功能調(diào)節(jié) 15

2.1.%3 探頭 方 式 / 探測位置 15

2.2.%3 折射 角 度 / 探頭 K 值 16

2.3.%3 探頭 前 沿 / 探頭零點 16

2.4.%3 工件 直 徑 / 標(biāo)度方式 17

%1.%2 通 道 組功能調(diào)節(jié) 17

3.1.%3 探傷 通 道 17

3.2.%3 通道 復(fù) 制 18

3.3.%3 設(shè)置 保 存 / 設(shè)置修改 18

3.4.%3 設(shè)置 刪 除 18

%1.%2 存 儲 組功能調(diào)節(jié) 19

3.4.1 組號 19

3.4.2 調(diào)出 19

第 1 章 序言

感謝您使用本公司的產(chǎn)品，您能成為我們的用戶，是我們莫大的榮幸。是本公司推出的一款智能型數(shù)字   式超聲波探傷儀，采用了國際的數(shù)字集成技術(shù)和新型 EL 顯示技術(shù)，其各項性能指標(biāo)均達(dá)到或超過水平，在國際上也處于前列。儀器采用人工智能技術(shù)，功能強勁，使用方便。為了使您能盡快的掌握的   操作過程，我們隨機配備了內(nèi)容詳盡的操作手冊，請您務(wù)必在使用機器前仔細(xì)閱讀本手冊及隨機配備的其他   資料，這會對您熟悉產(chǎn)生必要的幫助。

1.%2 聲明

因版權(quán)所有，未經(jīng)本公司書面許可不得翻印或以其它方式或手段使用本操作手冊中的任何部分。本公司   對因非法使用本操作手冊中所含資訊所造成的損害概不負(fù)責(zé)。本公司有權(quán)改變此操作手冊之特征及內(nèi)容，恕   不征求意見或事先通告。

2.%2 安全

請勿在重塵、潮濕、強磁場、油污或腐蝕環(huán)境使用本儀器。 嚴(yán)禁用具有溶解性的物質(zhì)擦拭外殼。

使用本公司提供的電源對儀器進(jìn)行充電。

儀器長期不工作時，應(yīng)定期進(jìn)行充放電，建議每月一次。

與外部設(shè)備（打印機、PC 機）連接時，必須在關(guān)掉儀器電源后進(jìn)行。請勿擅自拆裝本儀器，如遇修理事宜請與經(jīng)銷商或本公司聯(lián)系。

儀器應(yīng)存放在干燥清潔的地方，避免強烈振蕩。

3.%2 功能特點

? 測量顯示方式：A 型顯示方式；

? 具有線性抑制功能，抑制為屏高的 80%；

? 可以在單晶探頭，雙晶探頭、兩種探傷工作方式之間任意切換；

? 具有閘門設(shè)置和報警功能。能夠在屏幕上任意設(shè)置閘門的位置和寬度，并可以設(shè)置進(jìn)波報警；

? 具有 500 個獨立探傷通道，每個通道單獨設(shè)置一組探傷參數(shù)、DAC 曲線。

? 具有角度和 K 值兩種顯示方式；

? DAC 曲線自動生成，最多可記錄 10 個點，四條附加可調(diào)偏置曲線；

? AVG 曲線自動生成，可定制兩種類型缺陷；

? 探頭自動校準(zhǔn)功能；

? 具有存儲功能，可以存儲 100 幅 A 掃圖形、參數(shù)及 DAC 曲線;

? 具有存儲圖形的回放功能，將已存儲的 A 掃圖形從存儲區(qū)取出并顯示在屏幕上；

? 具有刪除功能，將的內(nèi)容（以存儲組號表示）從存儲區(qū)刪除；

? 具有峰值記憶功能；

? 具有波形和探傷參數(shù)的凍結(jié)和解凍功能；

? 具有聲程測量、回波次數(shù)分析功能；

? 具有實時的電源狀態(tài)指示功能；

? 支持無線通訊；

? 能夠跟 PC 機通訊，可以將測量數(shù)據(jù)和系統(tǒng)設(shè)置參數(shù)上傳給 PC 機，以便進(jìn)行進(jìn)一步處理（如生成探傷報告、打印等）；

? 可利用 PC 端通訊軟件升級儀器的功能；

? 鋰電池，低功耗，連續(xù)十小時工作。

? 操作過程可設(shè)置蜂鳴器提示音；

? 輕小便捷，易于操作。

4.%2 指標(biāo)

的各項性能指標(biāo)及技術(shù)參數(shù)見下面表格中所示：

名稱	技術(shù)數(shù)據(jù)
掃描范圍（mm）	掃描范圍（mm）：0～10000 檔級：2.5,5,10,20, 30,40,50,60,70,80,90, 100,150,200, 250, 300, 350, 400, 450, 500,600,700,800,900,1000,2000,3000,4000,5000,6000,7000,8000,9000, 10000。 調(diào)節(jié)步距： 1mm
脈沖移位（?s）	脈沖移位（?s）：-20～+3400 檔級：-20,-10,0.0, 10, 20, 50,100,150,200,250,300,350,400,450,500, 600, 700,800,900,1000,1500,2000,2500,3000,3400。 調(diào)節(jié)步距：0.1（-20?s～999.9?s），1（1000?s～3400?s）
探頭零點（?s）	探頭零點：0.0～99.99 調(diào)節(jié)步距：0.01
材料聲速（m/s）	材料聲速：1000～15000 7 個固定聲速：2260,2730,3080,3230,4700,5900,6300 調(diào)節(jié)步距：1
工作方式	單探頭（收、發(fā)），雙探頭（一收一發(fā)）
頻率范圍（MHz）	寬帶 0.5–20
增益調(diào)節(jié)（dB）	0～130 調(diào)節(jié)步距： 1，2，6，12
線性抑制	屏高的 0%～80%，步距： 1%
垂直線性誤差	垂直線性誤差不大于 3%
水平線性誤差	在掃描范圍內(nèi)，不大于 0.2%
探傷靈敏度余量	?60dB
動態(tài)范圍	?32dB
報警	進(jìn)波報警
顯示屏	顯示屏： 高亮度彩色平板顯示器
A-Scan 顯示區(qū)域	全屏或局部 A-Scan 顯示凍結(jié)和解凍A-Scan 填充
探傷通道	500 個
數(shù)據(jù)存儲	100 幅 A-Scan 圖形
與 PC 機通訊接口標(biāo)準(zhǔn)	USB

測量單位	Mm
電源適配器	輸入 100V～240V/50Hz～60Hz 輸出 9V/1.5A
電池	鋰電池 5000mAh
工作溫度(℃)	-10～50
工作濕度(RH)	20%～90%
接口類型	BNC
外型尺寸(mm)	238×160×48
重量（kg）	1.0

5.%2 約定

為了方便使用本說明書，所有的操作步驟、注意事項等都是以相同的方式安排版面。這有助于迅速找到   每條獨立的信息。說明書目錄結(jié)構(gòu)到目錄第四層，第四層往下的項目以黑體標(biāo)題示出。

注意和說明標(biāo)志

注意：注意標(biāo)志指出操作中可能影響結(jié)果準(zhǔn)確性的特性和特殊方面。 說明：注釋可以包括參閱其它章節(jié)或某個功能的特別介紹。

項目列表

項目列表表現(xiàn)為下列形式項目 A

項目 B

…

第 2 章 儀器的使用

1.%2 儀器概述

1.1.%3 儀器各部分名稱

圖 2.1 儀器外觀圖

1.2.%3 操作鍵盤說明鍵盤布局合理，常用鍵位于近左手大拇指的方位。左手保持自然放置狀態(tài)即可方便的調(diào)整儀器的所有設(shè)置。

為了便于操作者識別鍵盤功能特性，所有的鍵均分組并根據(jù)其操特點的不同標(biāo)有不同的顏色。左側(cè)的鍵   區(qū)為常用鍵。右側(cè)鍵區(qū)為快捷菜單鍵，用于快速切換到相應(yīng)功能的菜單，同時也體現(xiàn)本儀器的操作流程。左   下部區(qū)域為快捷功能鍵，用于快速實現(xiàn)常用功能。

鍵盤布局如下圖所示：

本儀器的操作流程：

圖 2.2 鍵盤布局圖

選擇探傷通道——>選擇探頭類型——>自動校準(zhǔn)探頭和其他參數(shù)——>制作曲線（DAC、AVG、AWS）

——>存入通道——>現(xiàn)場探傷

（自動增益和波峰記憶是以上典型操作過程中的功能鍵，所以放在該區(qū)域）  具體按鍵的操作說明見附錄二“操作一覽表”。

1.3.%3 電源使用

可以使用插入式電源設(shè)備(AC.DC 適配器)或電池進(jìn)行操作。

用電源適配器作為的工作電源時，插上電源適配器后儀器自動檢測并切換到適配器電源。  用電池作為的工作電源時，拔下電源適配器后儀器自動檢測并切換到電池電源。

在裝有電池的情況下，把連接到電源適配器電源供應(yīng)系統(tǒng)時，可對電池充電。

1.3.1.%4 使用交流供電設(shè)備供電

通過專用的交流適配器，把連接到交流電源。

在儀器工作期間請勿強行拔掉電源，因為此時如果電池電量不足時，儀器將會自動斷電且不能正常關(guān)機。   正確的方法是關(guān)閉儀器后再拔掉電源。

1.3.2.%4 使用電池工作

使用電池供電時，請使用我們建議的電池產(chǎn)品。

電池盒在儀器的背部，用螺絲刀打開電池倉盒蓋，把電池放入電池倉內(nèi)，將電池的插頭插入電池的插座，   蓋好電池倉盒蓋。

在波形顯示區(qū)上方有電池電量符號，圖示如下：

電池電量足電池電量低落電池電量不足 圖 2.3 電池電量顯示

如果出現(xiàn)電池電量不足的符號，就應(yīng)該馬上停止探傷工作，更換電池或充電。

說明：如果需要進(jìn)行現(xiàn)場測量，請隨身帶上備用電池。

給 Li 電池充電

可以使用外部電池充電器給鋰電池充電。建議使用儀器標(biāo)準(zhǔn)套中的電源適配器充電。使用該充電器前，   請仔細(xì)閱讀其使用說明。鋰(4Ah)電池連續(xù)充電時間約需 4～5 小時。充電完成后充電指示燈熄滅。

1.4.%3 探頭連接

使用檢測時，需要連接上合適的探頭。只要有適當(dāng)?shù)碾娎|線，并且工作頻率在適當(dāng)范圍之內(nèi)，任何我公   司生產(chǎn)的探頭都適用于。探頭連接器為 BNC。

探頭要連接到儀器外殼上方的插口。單探頭方式時，只有發(fā)射插口有效。連接雙晶鏈接可以隨意連接。

%1.2 儀器操作

2.1.%3 儀器基本操作步驟

%4) 準(zhǔn)備好待測工件；

%4) 將探頭電纜線插頭插入主機的上方的插座中，旋緊插頭；

%4) 按 2.1.3 選擇好工作電源，按一下<開關(guān)鍵>，開機；

%4) 程序加載及開機自檢；

%4) 開機時正常情況下，自動進(jìn)入上次關(guān)機時的狀態(tài)。儀器參數(shù)與上次關(guān)機時一致，但上次關(guān)機時的波   形不顯示。當(dāng)開機自檢不正常時，可以先行關(guān)機再重啟動，如果仍然自檢不通過，可以強制復(fù)位至   儀器出廠時狀態(tài)。

%4) 檢查電池電壓，電池電量檢測圖標(biāo)如圖 2.3 所示若顯示電量不足；

%4) 是否需要校準(zhǔn)儀器及繪制 DAC 或 AVG 曲線，如果需要，專業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行相關(guān)操作（參閱第四章）；

%4) 調(diào)出相應(yīng)探傷通道的參數(shù)設(shè)置；

%4) 測量；

%4) 對需要保存的數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲；

%4) 關(guān)機；

2.2.%3 啟動儀器

按下<開關(guān)鍵>，在開機音后屏幕啟動并進(jìn)入程序加載過程，整個加載過程大約需要 4－5 秒時間。程序加載完成后系統(tǒng)進(jìn)行自檢并進(jìn)入操作界面。

2.3.%3 屏幕顯示說明

圖 2.4 屏幕說明

界面整體分為右菜單和下菜單，界面中 H 為閘門內(nèi)波高數(shù)值，S 為閘門套住的傷波的聲程數(shù)值，當(dāng)某一菜單被選中則界面會顯示為反色表示聚焦某一菜單。菜單左上角為儀器當(dāng)前增益數(shù)值。界面中水平，垂直是   對于斜探頭，當(dāng)完成斜探頭校準(zhǔn)，儀器會根據(jù)探頭角度自動計算傷波相對探頭的垂直深度和水平距離。界面   中步進(jìn)為每次改變儀器參數(shù)的最小范圍，步進(jìn)的改變可以快速得到想要的參數(shù)。

1.%2.%3.%4 功能顯示項

十六個功能組的名稱分四頁顯示在屏幕下方。當(dāng)前選擇的功能組被加亮顯示，同時當(dāng)前功能組中當(dāng)前選   擇的功能菜單也被加亮顯示，當(dāng)前選中的功能菜單及參數(shù)出現(xiàn)在圖形顯示區(qū)的上方。

2.%2.%3.%4 其它指示標(biāo)志說明

除了狀態(tài)欄的數(shù)據(jù)和符號顯示了部分設(shè)置、讀數(shù)和狀態(tài)標(biāo)志外，功能菜單上方為突出顯示的測量值以及   當(dāng)前操作的某些狀態(tài)指示。電池電量指示符號旁邊有凍結(jié)和通訊指示標(biāo)志。

標(biāo)志	名稱	含義
S	聲程值標(biāo)志	入射點到反射點的聲程距離值。
H	波形值標(biāo)志	入射點到反射點的波高值。

%1.%2.5 功能概述

的功能實現(xiàn)分為十六個菜單式功能組、若干個特殊功能。

16 個菜單式功能組分布在 4 個功能頁內(nèi)，包括基本（BASE）、探頭（PROBE）、通道（CHAN）、存儲（MEM）、閘門（GATE）、自校準(zhǔn)、DAC1、DAC2、AVG1、AVG2，發(fā)射，增益，B 掃描，設(shè)置 1，設(shè)置 2，AWS 各功能組的功能介紹見下表。

頁	功能組	功能	描述
1	基本	探測范圍、材料聲速、脈沖移位、材料厚度	顯示所需的基本參數(shù) 的調(diào)節(jié)項
1	探頭參數(shù)	探頭角度/K 值、探頭前沿、標(biāo)度延時/雙晶	探頭相關(guān)設(shè)置
1	配置	蜂鳴器 、AWS、抑制、重復(fù)頻率	輔助相關(guān)
1	波形	填充、凍結(jié)、波形顏色、B 掃
2	閘門 1	A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度	閘門設(shè)置相關(guān)項
2	閘門 2	A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度	閘門設(shè)置相關(guān)項
2	輔助功能	開啟熱點、連接軟件、語言、自動波高	輔助功能相關(guān)
2	自校準(zhǔn)	直探頭校準(zhǔn)、（按左鍵）斜探頭校準(zhǔn)、	自動校準(zhǔn)探頭
2	DAC	曲線開啟、設(shè)置點、校準(zhǔn)閘門、曲線模式	DAC 曲線標(biāo)定
3	DAC 配置	DAC 判廢線/DAC 定量線、DAC 評定線、探傷標(biāo)準(zhǔn)	DAC 曲線設(shè)置
3	AVG	曲線開啟、參考類型、校準(zhǔn)閘門	AVG 曲線標(biāo)定
3	AVG 配置	曲線當(dāng)量、探頭頻率、晶片直徑、當(dāng)量顯示	AVG 曲線設(shè)置
3	通道	探傷通道、保存、刪除、初始化	探傷通道相關(guān)項
4	存儲	組號、調(diào)出、保存、刪除	數(shù)據(jù)存儲設(shè)置
4	斜探頭校準(zhǔn)	校準(zhǔn)開啟、探頭延時、探頭角度、校準(zhǔn)閘門
4	直探頭校準(zhǔn)	校準(zhǔn)開啟、工件厚度、校準(zhǔn)閘門
4	波形錄像	視頻組號、是否打開、是否錄像、是否刪除
	增益	補償增益、添加增益、掃描增益/自動增益、表面補償	增益相關(guān)設(shè)置

其它特殊功能可通過特殊功能鍵來實現(xiàn)。各特殊功能鍵功能介紹見下表。

特殊功能	功能描述
凍結(jié)	波形凍結(jié)

峰值記憶	沿屏幕水平方向在每個像素線上保留曲線值
測值顯示	選擇測量值在屏幕上的顯示方式
確認(rèn)	復(fù)用功能菜單切換、參數(shù)粗細(xì)調(diào)切換、功能確認(rèn)等

%1.%2.6 基本操作方法

可以通過<左右鍵>完成功能組的選擇；通過上下鍵完成具體某一功能菜單的選擇；此時通過<旋鈕>即可   改變此功能菜單的參數(shù)。另外有些功能菜單是兩個功能復(fù)用的，當(dāng)已選擇了某個功能時，再按<確認(rèn)鍵>(旋鈕   按下)即可轉(zhuǎn)換為另一功能。

功能的粗調(diào)和細(xì)調(diào)

有些功能可在粗調(diào)和細(xì)調(diào)之間選擇。在切換到相應(yīng)功能項時，再次按下<確認(rèn)鍵>(旋鈕按下)就可以在這   兩種調(diào)節(jié)模式之間切換。細(xì)調(diào)以功能項前面的“*”作為標(biāo)識。

下列為可選擇粗調(diào)和細(xì)調(diào)的功能項

功能功能組

探測范圍基本

材料聲速基本

脈沖移位基本

工件厚度基本

6.1.%3.%4 功能操作舉例

假設(shè)當(dāng)前選擇的是基本功能組中探測范圍功能調(diào)節(jié)，如果想選擇閘門功能組的閘門邏輯，如何操作呢？   先通過快捷鍵選擇閘門功能組；然后按上下鍵選擇閘門邏輯/閘門報警功能菜單。由于該功能項菜單是閘

門邏輯、閘門報警復(fù)用的，所以若此時顯示閘門邏輯，就完成了操作；若顯示閘門報警，則按下<確認(rèn)鍵>(旋

鈕按下)改變?yōu)殚l門邏輯。選擇完成后就可以用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門邏輯了。

當(dāng)需要選擇的功能選項與當(dāng)前選中的功能不在同一個頁面內(nèi)，可以使用<左右鍵>切換功能頁。

第 3 章 功能說明及操作方法

1.%2 基本組功能調(diào)節(jié)

在基本功能組可以調(diào)節(jié)設(shè)定顯示范圍相關(guān)的功能項，包括探測范圍、材料聲速、脈沖移位、工件厚度。   探傷過程中，屏幕顯示的范圍是與工件材料和探頭性質(zhì)相關(guān)的。工件材料影響超聲波的傳播速率工件厚度。

1.1.%3 探測范圍

設(shè)定探傷中屏幕顯示的測量范圍，即觀察窗口的大小。 范圍：0mm～10000mm或0.1＂～400＂

若當(dāng)前選擇的是探測范圍功能菜單，則通過按<確認(rèn)鍵>可以在粗調(diào)、細(xì)調(diào)方式間切換。

粗調(diào)：2.5mm、5mm 、10mm、 20mm 、30mm 、40mm 、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、 100mm、

150mm、200mm、250mm、300mm、350mm、400mm、450mm、500mm、600mm、700mm、800mm、

900mm、1000mm、2000mm、3000mm、4000mm、5000mm、6000mm、7000mm、8000mm、9000mm、

10000mm

細(xì)調(diào)：范圍步長

≤100.0mm0.1mm

>100mm1.0mm

操作：

? 通過<聲程鍵>選擇探測范圍功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探測范圍參數(shù)即聲程值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換粗、細(xì)調(diào)節(jié)方式。

1.2.%3 材料聲速

可以設(shè)定超聲波在被測工件中傳播的速率。范圍：1000m/s～9999m/s或

若當(dāng)前選擇的是材料聲速功能菜單，則通過按<確認(rèn)鍵>可以在粗調(diào)、細(xì)調(diào)方式間切換。  粗調(diào)：2260m/s銅中橫波聲速

2730m/s有機玻璃中縱波聲速

3080m/s鋁中橫波聲速

3230m/s鋼中橫波聲速

4700m/s銅中縱波聲速

5900m/s鋼中縱波聲速

6300m/s鋁中縱波聲速 細(xì)調(diào)：步長為 1m/s 或

操作：

? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，再用上下鍵選擇材料聲速功能菜單，然后用來<旋鈕>調(diào)節(jié)聲速參數(shù)。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換粗、細(xì)調(diào)節(jié)方式。

說明：請務(wù)必保證聲速值的正確性，儀器狀態(tài)行所顯示的部分測量結(jié)果都是基于此聲速值計算得到。

1.3.%3 脈沖移位

可以設(shè)定探傷過程中脈沖移位，亦即 D 延時。改變Ｄ延時可以調(diào)整波形起始位置。這樣可以調(diào)整顯示脈沖的起點，使其位于被測工件的表面或者是工件內(nèi)部的某一起始面。如果脈沖必須從被測工件的表面開始，   那么 D 延時必須設(shè)置為 0。

范圍：-15µs ～3400µs 步長：1µs

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，再用上下鍵選擇脈沖移位功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)脈沖移位   參數(shù)即 D 延時值。

1.4.%3 工件厚度

設(shè)定探傷中被測工件的厚度。工件厚度：1mm～1000mm

若當(dāng)前選擇的是厚度功能菜單，則通過按<確認(rèn)鍵>可以在粗調(diào)、細(xì)調(diào)方式間切換。

粗調(diào)： 1mm, 5 mm 、10 mm、 20 mm、50mm、100mm、200mm、300mm、400mm、500mm、600mm、700mm、800mm、900mm、1000mm

細(xì)調(diào)：<100 mm0.1mm

>100 mm1.0mm

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇基本功能組，用上下鍵選擇工件厚度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)工件厚度。   利用<確認(rèn)鍵>來切換粗、細(xì)調(diào)節(jié)方式。

%1.2 探頭組功能調(diào)節(jié)

該功能組可以調(diào)節(jié)設(shè)定與超聲發(fā)射、接收相關(guān)的功能項，探頭方式/探測位置、折射角度/探頭 K 值、探頭零點/探頭前沿、標(biāo)度方式/工件直徑。探頭固有性質(zhì)決定著探頭零點。

說明：為了準(zhǔn)確設(shè)定超聲波在工件中的聲速和探頭零點，請務(wù)必參閱第四章“儀器的校準(zhǔn)”。

2.1.%3 探頭方式/探測位置

探頭方式：

若所用探頭是單探頭則設(shè)為直探頭、斜探頭；若是雙晶探頭則設(shè)為雙，若是穿透探頭則設(shè)為透射。   選項：直探頭、斜探頭、雙晶、透射

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探頭方式功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)定探頭方式。

? 當(dāng)選擇探頭方式時。相應(yīng)的缺省探頭設(shè)置會被加載。包括聲速、探測范圍、增益、角度，探頭零點、   前沿等參數(shù)都會被賦予典型值。

探測位置：

設(shè)定圓管探傷時探頭的探測位置。

選項：外圓：探頭位于圓管外壁上，此時修正后的 d 值表示缺陷距外壁表面的深度，L 值表示缺陷距探頭前沿沿外壁表面的距離；

內(nèi)壁：探頭位于圓管內(nèi)壁上，此時修正后的 d 值表示缺陷距內(nèi)壁表面的深度，L 值表示缺陷距探頭前沿沿外壁表面的距離。

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探測位置功能菜單，然后用<旋鈕>調(diào)節(jié)探測位置。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探測位置、工件直徑功能。

2.2.%3 折射角度/探頭 K 值

用斜探頭進(jìn)行測量時，為了計算出反射體的位置，需要預(yù)先正確輸入探頭折射角度，由于有的探頭標(biāo)稱   值不是角度值，而是 K 值，為輸入方便，增加了探頭 K 值輸入項。折射角度和探頭 K 值是同一參數(shù)，改變其中一個數(shù)值，另一個也隨之改變，二者的關(guān)系是：探頭 K 值=折射角度的正切值。

折射角度： 步長：0.1? 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過功能鍵選擇探頭功能組，用上下鍵選擇折射角度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)折射角度。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換折射角度、探頭 K 值功能。探頭 K 值：

步長：0. 1

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇斜探頭功能組，用上下鍵選擇探頭 K 值功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探頭 K 值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換折射角度、探頭 K 值功能。

2.3.%3 探頭前沿/探頭零點

探頭前沿：

設(shè)定探頭前沿即聲束入射點。范圍：0.00mm～50.0mm

步長：0.01mm

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇探頭前沿功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探頭前沿。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探頭前沿、標(biāo)度方式功能。

探頭零點：

可以設(shè)定探傷過程中的探頭零點，亦即 P 延時。必須用 P 延時來補償探頭由于聲束從換能器到被測工件這段聲程所產(chǎn)生的延時。

范圍：0µs ～99.99µs

步長：0.01µs 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，再用上下鍵選擇探頭零點功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探頭零點   參數(shù)即 P 延時值。

說明：如果Ｐ延時未知，請務(wù)必參閱第四章儀器的校準(zhǔn)。

2.4.%3 工件直徑/標(biāo)度方式

工件直徑：

范圍：5.0mm～5000mm

步長：<100 mm0.1mm

>100 mm1.0mm

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇工件直徑功能菜單，然后用撥輪調(diào)節(jié)工件直徑。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探測位置、工件直徑功能。

標(biāo)度方式：

標(biāo)度方式是指屏幕曲線顯示區(qū)水平坐標(biāo)定義方式，包括“聲程”、“投影”、“深度”、“曲面”四種   方式可供選擇。當(dāng)折射角度輸入值不為零時此功能有效，當(dāng)折射角度為零時坐標(biāo)定義為聲程方式。

選項：聲程、深度操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇探頭功能組，用上下鍵選擇標(biāo)度方式功能菜單，然后用<旋鈕>來選擇標(biāo)度方式。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探頭前沿、標(biāo)度方式功能。

%1.%2 通道組功能調(diào)節(jié)

通道功能組用于與通道有關(guān)的操作，包括探傷通道、通道復(fù)制、設(shè)置保存/設(shè)置修改及設(shè)置刪除。

3.1.%3 探傷通道

由于在現(xiàn)場探傷時需要對多種工件進(jìn)行探傷，或者在探傷過程中要更換探頭，在這些情況下就需要重新   對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，因此為了儀器調(diào)校方便，儀器提供了 500 個探傷通道，用戶可事先將多種現(xiàn)場需要用到的設(shè)置調(diào)節(jié)好并分別存儲到不同的通道中，在現(xiàn)場時就可以直接切換到相應(yīng)的通道中調(diào)用這些設(shè)置了。

范圍：～No.500 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，用上下鍵選擇探傷通道功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探傷通道序   號。

? 自動翻動探傷通道的過程中，探傷通道內(nèi)的數(shù)據(jù)將會自動加載，存儲過設(shè)置的通道會加載存儲的儀

器設(shè)置，空通道會加載初始化設(shè)置。

3.2.%3 通道復(fù)制

實現(xiàn)探傷通道設(shè)置參數(shù)的復(fù)制功能，復(fù)制成功后當(dāng)前通道的探傷參數(shù)都會被復(fù)制到目標(biāo)通道中。   操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過功能鍵選擇通道功能組，用上下鍵選擇通道復(fù)制功能菜單，然后用<旋鈕>來進(jìn)行目標(biāo)通道   號的調(diào)節(jié)。

? 設(shè)置好目標(biāo)通道號后，此時若按<凍結(jié)>鍵則執(zhí)行通道復(fù)制。

注意：當(dāng)目標(biāo)通道已經(jīng)有數(shù)據(jù)或者當(dāng)前通道沒有存儲設(shè)置參數(shù)，則執(zhí)行通道復(fù)制功能，將提示操作錯誤。

3.3.%3 設(shè)置保存/設(shè)置修改

設(shè)置保存：功能菜單實現(xiàn)探傷通道設(shè)置保存。操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，再用功能菜單對應(yīng)的菜單鍵選擇設(shè)置保存功能菜單，然后用<旋鈕>     來進(jìn)行存儲操作。

注意：1. 若探傷通道號前顯示*時，表示該通道已存有設(shè)置值。 %1. 如果該通道中已經(jīng)存有設(shè)置參數(shù)，那么設(shè)置保存操作將更新原來的設(shè)置值。 %1. 若當(dāng)前通道被鎖定，則設(shè)置保存功能無效。 %1. 如果因程序錯誤導(dǎo)致通道數(shù)據(jù)不能刪除，功能“初始化”選項進(jìn)行刪除，但此功能將會刪除所  有通道的存儲設(shè)置，因此建議僅在必要時使用。

設(shè)置修改：實現(xiàn)已經(jīng)存儲過數(shù)據(jù)的探傷通道的設(shè)置參數(shù)的改寫功能，執(zhí)行成功后，當(dāng)前機器設(shè)置會取代   當(dāng)前通道內(nèi)所存儲的探傷參數(shù)。

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過功能鍵<通道參數(shù)>選擇通道功能組，用上下鍵選擇設(shè)置修改功能菜單，然后用<旋鈕>來進(jìn)行調(diào)   出操作。

? 若當(dāng)前通道無設(shè)置參數(shù)，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時該功能菜單總是顯示關(guān)；若當(dāng)前通道有設(shè)置參數(shù)，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時就會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認(rèn)鍵>則提取執(zhí)行，若按其它任意鍵則調(diào)出取消。

3.4.%3 設(shè)置刪除

該功能菜單實現(xiàn)探傷通道設(shè)置刪除。操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇通道功能組，再用功能菜單對應(yīng)的菜單鍵選擇設(shè)置刪除功能菜單，然后用<旋鈕>     來進(jìn)行刪除操作。

? 若當(dāng)前通道無設(shè)置參數(shù)，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時該功能菜單總是顯示關(guān)；若當(dāng)前通道有設(shè)置參數(shù)且該通道

未被鎖定，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時就會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認(rèn)鍵>則刪除執(zhí)行，若按其它任   意鍵則刪除取消。

%1.%2 存儲組功能調(diào)節(jié)

用來調(diào)節(jié)設(shè)定數(shù)據(jù)及探傷參數(shù)的存儲模式、調(diào)出、刪除、保存等相關(guān)功能。包括數(shù)據(jù)組號、數(shù)據(jù)調(diào)出、   數(shù)據(jù)保存、數(shù)據(jù)刪除功能菜單。

注意：當(dāng)波形存儲時，所存儲的數(shù)據(jù)包括此時的 A 掃波形數(shù)據(jù)和儀器當(dāng)前的探傷參數(shù)及 DAC 曲線。這 意味著當(dāng)提取一組已存儲好的數(shù)據(jù)時，不僅當(dāng)前顯示波形會變化為所存波形，而且當(dāng)前儀器探傷  參數(shù)也會隨之變?yōu)樗鎯Φ膮?shù)。

4.1.%3 組號

設(shè)定存儲組號。

范圍：波形存儲，組號 1~500

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇組號功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)定組號。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換存儲模式。

說明：波形存儲模式下，若組號前顯示*時，表示該組已有數(shù)據(jù)；若組號前顯示￥時表示該組已有數(shù)據(jù)    且被鎖定；

4.2.%3 調(diào)出

實現(xiàn)波形存儲模式下的數(shù)據(jù)調(diào)出功能，。提取當(dāng)前組號所對應(yīng)的數(shù)據(jù)。調(diào)出成功后當(dāng)前波形和探傷參數(shù)   都會被所存儲的波形和探傷參數(shù)代替，且波形處于凍結(jié)狀態(tài)。

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇調(diào)出功能菜單，然后用<旋鈕>或<旋鈕>來進(jìn)行調(diào)出操   作。

? 若當(dāng)前組號無數(shù)據(jù)，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時該功能菜單總是顯示關(guān)；若當(dāng)前組有數(shù)據(jù)，用<旋鈕>調(diào)節(jié)時就   會顯示“是/否”的提示，此時若按<確認(rèn)鍵>則提取執(zhí)行，若按其它任意鍵則調(diào)出取消。

4.3.%3 存儲

該功能菜單實現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲。操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇保存功能菜單，然后用<旋鈕>或<旋鈕>來進(jìn)行存儲操   作。

? 也可以利用存儲快捷鍵直接實現(xiàn)存儲操作。數(shù)據(jù)將被自動存儲在從組往后的個空位中。

注意：1. 存儲數(shù)據(jù)前，必須保證當(dāng)前組號所對應(yīng)的數(shù)據(jù)組中沒有數(shù)據(jù)，否則無效。 %1. 正確設(shè)置當(dāng)前存儲模式。 %1. 若需上傳帶 DAC 曲線的波形畫面到 PC 機，應(yīng)先調(diào)整好設(shè)置及 DAC 參數(shù)，然后在該組號下存儲數(shù)據(jù)。

4.4.%3 刪除

數(shù)據(jù)刪除。刪除當(dāng)前組號所對應(yīng)的數(shù)據(jù)。刪除成功后該組號前“*”消失。  操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇存儲功能組，用上下鍵選擇刪除功能菜單，然后用<旋鈕>來進(jìn)行刪除操作。

%1.%2 閘門組功能調(diào)節(jié)

關(guān)于閘門設(shè)置相關(guān)項的調(diào)節(jié)。包括閘門邏輯、閘門報警、閘門起始、閘門寬度、閘門高度。  閘門在探傷中的作用：

? 監(jiān)測被測工件在設(shè)定邏輯和范圍內(nèi)是否有缺陷，若有，則報警。

? 測量缺陷回波的位置和大小。

具有雙閘門功能：閘門 A 和閘門 B。通常只需閘門 A 即可監(jiān)測工件缺陷；雙閘門主要是用于多個回波的測量和校準(zhǔn)，比如測厚時測量工件表面回波和一次回波的距離。

5.1.%3 閘門邏輯/閘門報警

該功能菜單閘門報警復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。  操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇閘門邏輯功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門邏輯。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換閘門邏輯、閘門報警功能。 閘門報警：

閘門報警設(shè)定。

根據(jù)閘門邏輯的設(shè)定，可用于進(jìn)波報警。即當(dāng)回波幅值高于閘門閾值時蜂鳴器報警。  操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇閘門報警功能菜單，然后用<旋鈕>來開關(guān)報警功能。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換閘門報警功能。

5.2.%3 A 閘門起始/B 閘門起始

該功能菜單 A 閘門起始、B 閘門起始復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。

A 閘門起始： 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門起始功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 A 起始位置。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 閘門起始功能。

B 閘門起始： 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門起始功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 B 起始位置。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 閘門起始功能。

說明：閘門 B 與閘門 A 相互獨立。閘門起始、閘門寬度、閘門高度可以分別調(diào)節(jié)互不干擾。

5.3.%3 A 閘門寬度/B 閘門寬度

該功能菜單 A 閘門寬度、B 閘門寬度復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。

A 閘門寬度： 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門寬度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 A 的寬度。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 閘門寬度功能。

B 閘門寬度： 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門寬度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 B 的寬度。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 閘門寬度功能。

5.4.%3 A 閘門高度/B 閘門高度

該功能菜單 A 閘門閾值、B 閘門閾值復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。

A 閘門高度：

設(shè)定閘門 A 的高度值。參數(shù)用百分?jǐn)?shù)表示，即相對滿幅值的百分比。范圍：2%～90%

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 A 閘門高度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 A 高度值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 高度功能。

B 閘門高度：

設(shè)定閘門 B 的高度值。參數(shù)用百分?jǐn)?shù)表示，即相對滿幅值的百分比。范圍：2%～90%

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過快捷鍵選擇閘門功能組，用上下鍵選擇 B 閘門高度功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)閘門 B 高度值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A、B 高度功能。

%1.%2 探頭自校準(zhǔn)功能調(diào)節(jié)

6.1.%3 直探頭校準(zhǔn)

為了方便操作者校準(zhǔn)直探頭零點及材料聲速，儀器提供了探頭校準(zhǔn)功能，利用此功能可方便的完成直探   頭的校準(zhǔn)工作。直探頭校準(zhǔn)功能位于自校準(zhǔn)功能菜單中。

以標(biāo)配的直探頭為例，它是一個頻率 2.5MHz，直徑 20mm 的單晶探頭。校準(zhǔn)需要兩個和測量物體同材質(zhì)且厚度已知的試塊。

假設(shè)以厚度為 100mm 的試塊對該探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，其步驟如下： 先初步設(shè)定一個大概的聲速值如 5920m/s

步：選擇（自動校準(zhǔn)按鍵）選擇直探頭校準(zhǔn)-開啟自動校準(zhǔn)功能（顯示：是否有效 調(diào)節(jié)到（是） 第二步：設(shè)置工件厚度（高于已知厚度）

第三步：探頭連接好涂上耦合劑、放在被測工件上、找到回波

第四步：調(diào)到校準(zhǔn)閘門（用閘門套住回波-按一下自動增益 回波高度會到屏幕的 80%）在（校準(zhǔn)閘門欄目按一下確認(rèn)健） 這樣直探頭校準(zhǔn)完成。

注意：在單個已知厚度的試塊上也可以使用自動校準(zhǔn)功能。操作者可以利用多次回波而無須將探頭分別 放在厚試塊和薄試塊上，分別移動閘門 A 到各個回波并輸入正確的厚度值即可。

6.2.%3 斜探頭校準(zhǔn)

為了方便操作者校準(zhǔn)斜探頭角度、前沿、零點及材料聲速，儀器提供了斜探頭校準(zhǔn)功能，利用此功能可   方便的完成斜探頭的校準(zhǔn)工作。斜探頭校準(zhǔn)功能位于自校準(zhǔn)功能菜單中。斜探頭的自動校準(zhǔn)，本儀器提供了   兩種方法，種是基于 CSK-1A 試塊的校準(zhǔn)。

1.基于 CSK-1A 試塊的校準(zhǔn)（一鍵自動校準(zhǔn)法（回車鍵））

以標(biāo)配的斜探頭為例，它是一個頻率 2.5MHz，晶片為 13mm×13mm，角度為 K2 的單晶探頭?？梢岳?nbsp;CSK-IA 試塊對其進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)前無需輸入任何參數(shù)。

步：選擇（自動校準(zhǔn)按鍵）選擇斜探頭校準(zhǔn)-開啟自動校準(zhǔn)功能（顯示：是否有效 調(diào)節(jié)到（是） 第二步：連接探頭前端對準(zhǔn)半圓方向、，探傷儀將自動調(diào)節(jié)閘門為雙閘門，自動放置閘門位置，自動設(shè)

置探測范圍。將探頭放在圓心上，來回移動，找到 R100 的波，同時保證 R50 的波高于 15%，按兩下確認(rèn)鍵，

200.0

圖 3.1 CSK-IA 試塊

3）再按下回車鍵，顯示探頭前沿的估計值，此值需要讀出探頭到圓心刻度（或用刻度尺測量后），使用   撥輪輸入。

第三步：探頭調(diào)轉(zhuǎn)對準(zhǔn)透明玻璃圓圈方向、在標(biāo)示 K2 的地方找到找到波、用閘門套住波形、按確認(rèn)健校準(zhǔn)探頭角度完成

整個校準(zhǔn)過程無需手動調(diào)節(jié)探測范圍和閘門，只需找到波，按回車鍵確認(rèn)即可。

圖 3.2 角度測量

6.3.%3 A 閘門起始/A 閘門寬度

該功能菜單 A 閘門起始和 A 閘門寬度復(fù)用，在這里重新設(shè)置 A 閘門起始和 A 閘門寬度是為了方便做探頭校準(zhǔn)時調(diào)節(jié)閘門參數(shù)，當(dāng)選中該功能菜單時，其調(diào)節(jié)方法請參考 3.5.2 及 3.5.3 所述內(nèi)容。

6.4.%3 校準(zhǔn)類型

為 CSK-IA。

%1.%2 DAC1 組功能調(diào)節(jié)

DAC 功能組用來標(biāo)定 DAC 曲線。包括 DAC 曲線開關(guān)/標(biāo)定修正開關(guān)、DAC 標(biāo)定點/DAC 修正點、A 閘門起始/A 閘門寬度、顯示標(biāo)定/曲線模式。

DAC 曲線的作法請參見 4.4：

7.1.%3 DAC 曲線/標(biāo)定修正

該功能菜單 DAC 曲線顯示開關(guān)和標(biāo)定修正開關(guān)復(fù)用，

DAC 曲線：

實現(xiàn) DAC 顯示開關(guān)功能，若打開 DAC，則顯示 DAC 曲線。DAC 曲線開關(guān)無效。選項：開、關(guān)

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇 DAC 曲線功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)置 DAC

曲線開關(guān)。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 曲線、標(biāo)定修正功能。

注意：當(dāng)完成 3 個以上標(biāo)定點后自動繪制 DAC 曲線。最多可設(shè)置 10 個標(biāo)定點。

標(biāo)定修正：

對 3.7.2 中選擇的修正點進(jìn)行重新標(biāo)定。如果在制作 DAC 曲線時發(fā)現(xiàn)前面標(biāo)定過的某個標(biāo)定點由于標(biāo)定誤差較大或標(biāo)定錯誤導(dǎo)致曲線繪制不理想，可以選擇相應(yīng)的標(biāo)定點，并把閘門調(diào)節(jié)至相應(yīng)的位置，通過標(biāo)定   修正功能重新標(biāo)定該點數(shù)據(jù)。

選項：開、關(guān)操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇標(biāo)定修正功能菜單，然后用<旋鈕>來修正標(biāo)定點。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 曲線、標(biāo)定修正功能。

7.2.%3 DAC 標(biāo)定點/修正點

該功能菜單 DAC 標(biāo)定點和修正點選擇功能復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。DAC 標(biāo)定點功能菜單用來記錄做 DAC 曲線所需要的回波信息，修正點選擇功能用于選擇需要進(jìn)行修正的標(biāo)定點。

DAC 標(biāo)定點： 范圍：3～10 操作：

? 確認(rèn)閘門工作在單閘門狀態(tài)。

? 利用切換功能頁。

? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC 功能組，用上下鍵選擇 DAC 標(biāo)定點功能菜單。

? 并使參考回波落在閘門內(nèi)，然后調(diào)節(jié)到（校準(zhǔn)閘門）按確認(rèn)鍵-來添加標(biāo)定點，重復(fù)相同的操作可以   繼續(xù)添加標(biāo)定點。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 標(biāo)定點、修正點選擇功能。范圍：1～30，但不大于 DAC 標(biāo)定點的值

注意：標(biāo)定點錯誤時-重新開啟一次曲線、就可以重新標(biāo)定。

7.3.%3 A 閘門起始/A 閘門寬度

該功能菜單 A 閘門起始和 A 閘門寬度復(fù)用，在這里重新設(shè)置 A 閘門起始和 A 閘門寬度是為了方便做 DAC

標(biāo)定點時調(diào)節(jié)閘門參數(shù)，當(dāng)選中該功能菜單時，其調(diào)節(jié)方法請參考 3.3.2 及 3.3.3 所述內(nèi)容。操作：

? 通過 DAC 快捷鍵選擇 DAC 功能組，用上下鍵選擇顯示標(biāo)定功能菜單，用<旋鈕>來開關(guān)標(biāo)定點的顯示功能。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換顯示標(biāo)定、曲線模式功能。 曲線模式：

曲線模式用于選擇 DAC 標(biāo)定點之間的連線方式。選項：直線、曲線

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 DAC 快捷鍵 DAC 功能組，用上下鍵選擇曲線模式功能菜單，用<旋鈕>來選擇 DAC 曲線的連接模式。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換顯示標(biāo)定、曲線模式功能。

%1.%2 DAC2 組功能調(diào)節(jié)

DAC2 功能組用來調(diào)節(jié)設(shè)定繪制 DAC 曲線時所需的相關(guān)參數(shù)。包括 DAC 判廢線/當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)、DAC 定量線、

DAC 評定線，DAC 母線。

為了適應(yīng)不同行業(yè)中 DAC 曲線的繪制標(biāo)準(zhǔn)，儀器提供了 3 條可調(diào)偏置的 DAC 曲線，分別是 DAC 判廢線、DAC 定量線、DAC 評定線。另外為使 DAC 曲線能適應(yīng)不同的環(huán)境條件，還提供了增益補償功能。三條偏置曲線的偏置值均為相對于母線的，母線是利用標(biāo)定點的數(shù)據(jù)信息及超聲波在傳播過程中的衰減規(guī)律繪制   而成，根據(jù)三條偏置曲線的作用不同它們按照判廢、定量、評定的順序由上到下分布在屏幕上。

8.1.%3 DAC 判廢線/當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)

該功能菜單 DAC 判廢線和當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)選擇功能復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。

DAC 判廢線：

設(shè)置 DAC 判廢線的偏置值。

參數(shù)范圍：-50dB～50dB，步長為 1 dB

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 判廢線功能菜單，然后用<旋鈕>設(shè)置 DAC 判廢曲線的偏置值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 判廢線、當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)選擇功能。當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)：

當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)是指閘門內(nèi)的缺陷回波的當(dāng)量值是以哪條曲線為標(biāo)準(zhǔn)，常用“母線”或“定量”。其中母線是   指制作 DAC 的原始標(biāo)定曲線，另外三條可選的標(biāo)準(zhǔn)為 DAC 偏置曲線。該標(biāo)準(zhǔn)僅在制作成功 DAC 曲線后方才生效。

選項：母線、判廢、定量、評定操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)功能菜單，用<旋鈕>來選擇計算當(dāng)量的參考曲線。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 判廢線、當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)選擇功能。

8.2.%3 DAC 定量線

設(shè)置 DAC 定量線的偏置值。

參數(shù)范圍：-50dB～50dB，步長為 1 dB

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 定量線功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)置 DAC定量曲線的偏置值。8.3.%3 DAC 評定線

該功能菜單用于調(diào)整 DAC 偏置曲線中的評定線。參數(shù)范圍：-50dB～50dB，步長為 0.1 dB

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇 DAC 評定線功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)置 DAC

評定曲線的偏置值。

8.4.%3 探傷標(biāo)準(zhǔn)

探傷儀內(nèi)置了 14 套探傷標(biāo)準(zhǔn)， "Custom ,GB/T 11345-89A ,GB/T 11345-89B,GB/T 11345-89C, JB/T 4730-2005, JG/T 3034.1/2,SY/T   4109-2005, GB/T 3559-94,ASME-3,DL-T   820-2002   A,DL-T 820-2002B,DL-T 820-2002 C,TB 10212-98D（對接焊縫）, TB 10212-98J（角接焊縫） "。其中 Custom 為客戶可定制的典型曲線，其他為固定標(biāo)準(zhǔn)。在本選項下按回車鍵可進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置界面，可設(shè)置工件厚度和探傷試塊，部分   標(biāo)準(zhǔn)會依據(jù)這兩個參數(shù)自動調(diào)節(jié)曲線偏置。操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 DAC2 功能組，用上下鍵選擇探傷標(biāo)準(zhǔn)功能菜單，然后用撥輪來設(shè)置回波曲線標(biāo)準(zhǔn)偏置值。

%1.%2 AVG1 組功能調(diào)節(jié)

具有 AVG 曲線測量功能，其中 AVG1 功能組用于設(shè)置 AVG 曲線標(biāo)定參數(shù)。包括 AVG 曲線開關(guān)、探頭名稱、探頭頻率/晶片尺寸、參考類型/參考尺寸。

9.1.%3 AVG 模式

該功能菜單 AVG 模式和楔子聲速復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。

AVG 模式：

實現(xiàn) AVG 顯示開關(guān)功能，若打開 AVG，則顯示 AVG 曲線。選項：開、關(guān)操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇 AVG 模式功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)置 AVG曲線開關(guān)。

? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇楔子聲速功能菜單，利用<確認(rèn)鍵>來切換 AVG模式。

9.2.%3 探頭頻率/晶片尺寸

（AVG 曲線配置）該功能菜單探頭頻率和晶片尺寸復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時， 探頭頻率：

輸入所用探頭的額定頻率。

范圍：0.5MHz～10MHz 操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇探頭頻率功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)探頭頻率。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探頭頻率、晶片尺寸功能。 晶片尺寸：

探頭標(biāo)稱的有效直徑。 范圍：3.00mm～35.00mm操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇晶片尺寸功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)晶片尺寸。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探頭頻率、晶片尺寸功能。

9.3.%3 參考類型/參考尺寸

該功能菜單參考類型和參考尺寸復(fù)用，當(dāng)選中該功能菜單時，可以通過按<確認(rèn)鍵>來切換功能。   參考類型：

在標(biāo)定 AVG 曲線時，需要使用帶有已知規(guī)則反射體的標(biāo)準(zhǔn)試塊。本儀器標(biāo)定的 AVG 曲線支持三種類型的規(guī)則反射體。

選項：平底孔：在底面上的其直徑與參考缺陷尺寸相當(dāng)?shù)膱A柱孔。 大平底：反射體尺寸可近似為無窮大的平面。

操作：

? 通過 AVG 快捷鍵選擇 AVG1 功能組，用上下鍵選擇參考類型功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)參考反射體的類型。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換參考類型、參考尺寸功能。 參考尺寸：

標(biāo)準(zhǔn)試塊上規(guī)則反射體的標(biāo)稱尺寸。范圍：0.50mm～10.0mm

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過功能鍵選擇 AVG 功能組，用上下鍵選擇參考尺寸功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié)反射體的標(biāo)稱值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換參考類型、參考尺寸功能。

A 閘門起始/AVG 曲線

A 閘門起始：

在這里重新設(shè)置 A 閘門起始是為了方便做 AVG 標(biāo)定時調(diào)節(jié)閘門位置，當(dāng)選中該功能菜單時，其調(diào)節(jié)方法請參考 3.3.2 所述內(nèi)容。

AVG 曲線：

AVG     曲線是基于標(biāo)準(zhǔn)試塊上的已知反射體進(jìn)行標(biāo)定的，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的參考反射體與試塊上的反射體尺寸不相符時，可將 AVG 曲線調(diào)節(jié)為其當(dāng)量曲線。

范圍：0.30mm～20.0mm 操作：

通過<左右鍵>選擇 AVG2 功能組，用上下鍵選擇 AVG 曲線功能菜單，然后用<旋鈕>來調(diào)節(jié) AVG 曲線當(dāng)量值。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換 A 閘門起始、AVG 曲線功能。

9.4.%3 標(biāo)定參考

該功能用于標(biāo)定 AVG 曲線。

選項：0（未標(biāo)定）、1（已標(biāo)定） 操作：

? 確認(rèn)閘門工作在單閘門狀態(tài)。

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇 AVG 配置功能組，用上下鍵選擇標(biāo)定參考功能菜單。

? 將 A 閘門移至所需參考回波處，并使參考回波落在閘門內(nèi)。

? 將 A 閘門內(nèi)回波增益至屏幕的 80%。

? 用右鍵標(biāo)定 AVG 曲線參考值。

? 如需修改此參考值，可用左鍵刪除后重新進(jìn)行標(biāo)定。

9.5.%3 發(fā)射重復(fù)頻率

為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵探頭晶片的脈沖次數(shù)稱為（超聲發(fā)射）重復(fù)頻率。該參數(shù)用   于設(shè)定儀器系統(tǒng)的超聲發(fā)射重復(fù)頻率(PRF)。

調(diào)整范圍：（30～1000）Hz，一般設(shè)置（100～300）Hz  為宜。當(dāng)探傷掃查工件的速度較快時，需要選用較高的重復(fù)頻率，以防止缺陷漏檢；掃查速度較慢時，設(shè)置較低的發(fā)射重復(fù)頻率可以降低儀器功耗。

如果檢測范圍較大，例如大于 2000mm 時，建議發(fā)射重復(fù)頻率不要大于 100Hz?？梢詫μ絺麅x的發(fā)生脈沖頻率進(jìn)行調(diào)解

%1.%2 增益組功能調(diào)節(jié)

增益功能組用于調(diào)整系統(tǒng)靈敏度，使增益調(diào)節(jié)變得靈活方便。包括自動增益。

10.1.%3 自動增益

自動增益功能是一個快速調(diào)節(jié)儀器增益（dB）的工具，它可以自動調(diào)整儀器的增益值，使得 A 閘門內(nèi)捕捉到的回波峰值達(dá)到設(shè)定好的屏幕高度（如 80%）。設(shè)定范圍（10%到 99%）

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<左右鍵>選擇增益功能組，用上下鍵選擇自動增益功能菜單，撥動<旋鈕>來調(diào)節(jié)設(shè)定高度。

10.2.%3 動態(tài)回放/錄象

錄像：該功能在上位機上實現(xiàn)實時波形錄像和報告等

10.3.%3 錄象組號/刪除

該功能菜單用于調(diào)節(jié)當(dāng)前操作的探傷錄像的組號。

注意：該功能在上位機上實現(xiàn)實時波形錄像和報告等

%1.%2 設(shè)置 1 組功能調(diào)節(jié)

儀器的探測方式/回波抑制、坐標(biāo)柵格/ ELD 亮度的設(shè)定都在此組中實現(xiàn)。

11.1.%3 探測方式/回波抑制

探測方式：

選擇測量方式，當(dāng)測量方式為峰值方式時，測量值為閘門內(nèi)波幅的回波數(shù)據(jù)。在邊沿測量方式下，   測量數(shù)據(jù)為閘門內(nèi)回波的前沿（回波波形曲線的上升線）與閘門相交處數(shù)據(jù)。因此，選擇邊沿方式時，對閘   門內(nèi)回波波幅的測量值受到閘門閾值（高度）的影響。

選項：峰值、邊沿操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<系統(tǒng)設(shè)置>快捷鍵選擇設(shè)置 1 功能組，用上下鍵選擇探測方式功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)置測量方式。

? 利用<確認(rèn)鍵>來切換探測方式、串口設(shè)置功能。 回波抑制：

此功能菜單用來抑制回波顯示幅度，比如要去除被測工件的結(jié)構(gòu)噪聲。它是通過設(shè)定抑制百分比（即滿   幅值的百分比）來抑制幅度低于設(shè)定值的回波的顯示。

抑制百分比（即滿幅值的百分比）表示最小顯示的回波高度。低于此高度的回波幅值將被忽略而記為零   幅值。

范圍：0%~80% 步距：1%

操作：

? 通過<系統(tǒng)設(shè)置>快捷鍵選擇設(shè)置 1 功能組，用上下鍵選擇回波抑制功能菜單，然后用<旋鈕>來設(shè)定抑制百分比。

注意：請謹(jǐn)慎使用此功能，以免在抑制噪聲的同時使傷波也受到抑制。另外，在一些探傷規(guī)范中，此    功能是禁用的。

%1.%2 設(shè)置功能調(diào)節(jié)

12.1.%3 顏色選擇

顏色選擇：

儀器屏幕有四種風(fēng)格各異的顏色配置方案，操作者可根據(jù)自己的習(xí)慣以及操作環(huán)境選擇合適的界面。   選項：0～4

操作：

? 利用切換功能頁。

? 通過<系統(tǒng)設(shè)置>快捷鍵選擇設(shè)置 2 功能組，用上下鍵選擇顏色選擇功能菜單。然后用<旋鈕>選擇合適的顏色方案。

利用<確認(rèn)鍵>來切換軟件版本、顏色選擇功能。

12.2.%3 WIFI 連接 PC

進(jìn)入該模式之后，可以聯(lián)接 PC 機，上傳探傷檢測數(shù)據(jù)。

%1.%2 特殊功能調(diào)節(jié)

為了方便用戶使用，儀器面板上除了菜單式的功能組選擇還有十三個使用頻率較高的特殊功能鍵，包括   增益步長調(diào)節(jié)、增益+/-、波形凍結(jié)、峰值記憶、動態(tài)記錄、測值顯示、探測范圍、脈沖移位、閘門 A、閘門B。

13.1.%3 增益步長

調(diào)節(jié)增益步長。

選項： 1.0dB、2.0dB、6.0dB、、、、100.0dB

操作：

? 按<增益步長鍵>，增益步長會在選項中循環(huán)變化。

13.2.%3 增益值

增益步長調(diào)節(jié)到合適選項時，然后通過增益+/增益-鍵就可以設(shè)定增益大小。  參數(shù)范圍：0dB~130dB

操作：

? 按<增益+>或<增益->鍵，增益就會以當(dāng)前所設(shè)增益步長變化。

13.3.%3 凍結(jié)

實現(xiàn)波形凍結(jié)功能。

操作：

? 按<凍結(jié)鍵>，即可使波形在凍結(jié)和非凍結(jié)間切換。

? 在凍結(jié)狀態(tài)下，屏幕出現(xiàn)提示圖標(biāo)*。

注意：在凍結(jié)狀態(tài)下，部分功能調(diào)節(jié)失效。

13.4.%3 峰值記憶

峰值記憶功能的作用是當(dāng)探頭在試塊上移動時，在橫坐標(biāo)的每個像素線上對回波的峰值點進(jìn)行捕捉記憶   并連成一條包絡(luò)線，根據(jù)包絡(luò)線的形狀用戶可方便的找到缺陷的波，并可為判斷缺陷的性質(zhì)提供依據(jù)。

操作

? 按<峰值記憶>，切換峰值記憶開關(guān)。

? 在峰值記憶功能開啟狀態(tài)時，屏幕出現(xiàn)提示圖 。

13.5.%3 探傷錄像

按下該鍵可以自動開始或停止探傷過程錄像。

13.6.%3 測值顯示

在圖形顯示區(qū)的右上角顯示了一個測量數(shù)據(jù)，此功能是選擇顯示數(shù)據(jù)的內(nèi)容。當(dāng)此處顯示聲程、投影活或深度中的某一個數(shù)據(jù)時其他兩種數(shù)據(jù)將在狀態(tài)欄中顯示，當(dāng)選擇顯示當(dāng)量 dB 時，屏幕上面將顯示由 DAC 曲線測得的當(dāng)量值及聲程數(shù)據(jù)，如果 DAC 曲線關(guān)閉或者閘門內(nèi)波形超出屏幕高度范圍時當(dāng)量 dB 將顯示為*。

選項：聲程、投影、深度、當(dāng)量 dB、當(dāng)量孔操作

? 按<測值顯示>，順序切換顯示數(shù)據(jù)的類型。

13.7.%3 快捷功能鍵

探測范圍、閘門 A、閘門 B 為使用頻率較高的功能，因此設(shè)置了快捷鍵。操作

? 按<閘門 A >，可快速將功能菜單切換到 A 閘門起始選項，繼續(xù)按此鍵則功能菜單在 A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度之間順序切換。

13.8.%3 恢復(fù)出廠設(shè)置

如果需要，可以在探傷通道菜單欄中初始化儀器第 4 章 儀器的校準(zhǔn)與測量

1.%2 DAC 曲線應(yīng)用方法

DAC      曲線是用于區(qū)分大小相同，但距離不同的反射體幅度的變化。正常情況下，試件內(nèi)同樣大小，距離不同的反射體，由于材料的衰減，波束的擴散而造成波幅的變化。DAC 曲線是用圖示方式補償材料衰減，近場影響，波束擴散和表面光潔度。正常情況下，在繪制好 DAC 曲線后，不管試件中反射體的位置如何，同樣大小的反射體產(chǎn)生的回波峰值均在同一條曲線上。同樣道理，比試件中反射體較小的反射體產(chǎn)生的回波會落   在該曲線下面，而較大一些的會落在該曲線上面。

1.選擇探傷通道 通過快捷鍵選擇通道功能組，調(diào)節(jié)探傷通道號，選擇一個通道作為當(dāng)前探傷條件下儀器設(shè)置通道，例如：。（注：每個的通道下可保存一組 DAC 曲線標(biāo)定點，這些標(biāo)定點不需要進(jìn)行保存操作， 當(dāng)標(biāo)定點被標(biāo)定后將直接保存在當(dāng)前通道下，如果希望在該通道下同時保存儀器當(dāng)前參數(shù)設(shè)置，則需要通過“通道”－>“設(shè)置保存”操作來完成。）

2.打開 DAC 曲線功能 通過快捷鍵選擇 DAC1 功能組，再用上下鍵選擇 DAC 曲線功能菜單（如當(dāng)前子菜單中沒有 DAC 曲線功能，請利用<確認(rèn)鍵>來切換 DAC 曲線、標(biāo)定修正功能），然后按<旋鈕>來設(shè)置 DAC 曲線開關(guān)。

3.制作 DAC 曲線 通過快捷鍵擇 DAC1 功能組，按本說明書 3.7.2 所述方法添加標(biāo)定點，當(dāng)添加兩個標(biāo)定點后，將會在儀器屏幕上自動繪制 DAC 曲線。（注意：請沿探測范圍由小到大標(biāo)定數(shù)據(jù)，即后標(biāo)定的點要在前一個標(biāo)定點后面，且其回波高度不應(yīng)高于前一個標(biāo)定點，如果后點回波高度高于前點 DAC 曲線會被繪制為直線。）

4.調(diào)節(jié)三條偏置曲線的偏置值 通過快捷鍵選擇 DAC2 功能組，按檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定調(diào)整三條偏置曲線的偏置量， 即調(diào)節(jié) DAC 評定線、DAC 定量線、DAC 判廢線的偏置值到需要的設(shè)置。

5.繪制好的 DAC 曲線如圖：

圖 4.4 DAC 曲線

如上圖所示，三條 DAC 曲線將屏幕劃分為 I、II、III 三個區(qū)域，現(xiàn)場探傷時這三條 DAC 曲線將繪制在屏幕上，操作者可根據(jù)反射體回波高度所在的區(qū)域來直接確定缺陷性質(zhì)。

7.當(dāng)量計算 如果希望測量閘門內(nèi)缺陷回波的當(dāng)量值，可通過<測值顯示鍵>選擇測值顯示功能，將屏幕右上角的顯示值切換為當(dāng)量值，然后通過快捷鍵選擇 DAC1 功能組，用上下鍵選擇當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)功能，調(diào)節(jié)當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)將相應(yīng)的 DAC 偏置曲線作為測量的標(biāo)準(zhǔn)。

2.%2 測量內(nèi)容

使用本探傷儀進(jìn)行測量需要進(jìn)行如下工作：

設(shè)置好閘門的起點、閘門寬度、閘門閾值以及閘門報警方式。 測量內(nèi)容為：

S聲程

H(%)閘門范圍內(nèi)回波高度的相對值（相對于屏高）

h閘門范圍內(nèi)回波高度的值（單位是像素）

d缺陷深度

D(%)缺陷深度相對值（相對于工件厚度）

P缺陷距探頭前沿的水平距離  上面的參數(shù)含義具體參見下面的圖

其中：

s：表示聲程；

d：表示缺陷的深度；

t：表示工件的厚度；

x：表示超聲源到探頭前沿的距離；

p：表示缺陷距離探頭前沿的水平距離；

D:是缺陷深度相對值，它是按照下面的的發(fā)法得到的

D ? d t

當(dāng)使用直探頭時，由于 d 值與 S 值重合，因此 x、p、d、D 值失去意義，x 值不需要設(shè)定，p、d、D 值也將不會顯示。

在進(jìn)行測量前要注意：

包括聲速、探頭零點在內(nèi)的儀器標(biāo)定工作應(yīng)完成，測量方式可選擇前沿方式與峰值方式。測量的波幅為閘門內(nèi)波幅的回波波幅。在前沿測量方式下，測量的聲程為閘門內(nèi)回波的前沿（回波波形曲線的上升線）   處聲程值。因此，選擇前沿方式時，對閘門內(nèi)回波波幅的測量值受到閘門閾值（高度）的影響。

聲程測量只有閘門開啟時才能測量，在測量前首先選擇測量方式：邊沿方式、峰值方式。然后選擇單雙   閘門方式。單閘門方式下，測量值為閘門內(nèi)回波前言或峰值處的聲程值。雙閘門方式下：測量值為起始于 A 閘門內(nèi)回波終止于 B 閘門內(nèi)回波之間的聲程值。

第 5 章 保養(yǎng)與維修

1.%2 環(huán)境要求

嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場、油污等。 嚴(yán)禁用具有溶解性的物質(zhì)擦拭外殼。

2.%2 電池充電

顯示屏幕上的電池狀態(tài)標(biāo)志實時反映了電池電壓情況。當(dāng)電池電壓過低時，即屏幕上的電池狀態(tài)標(biāo)志為  欠壓標(biāo)志  時，應(yīng)盡快給儀器充電。

充電方法如下（開機或關(guān)機狀態(tài)均可充電）：

%3. 將電源適配器的電源插頭插入充電插座中；

%3. 將電源適配器接到 220V/50Hz 市電上，充電指示燈亮；

%3. 當(dāng)充電指示燈熄滅時，表明電池已經(jīng)被充滿。正常情況大約充電 4.5 h 即可充滿。

%3. 拔下充電插頭，充電過程結(jié)束。

提示：1. 電源適配器的輸入電壓為 220V 交流，輸出為 9V 直流，充電流約 1000mA，最長充電時間 約 6h。 %1. 本儀器使用了鋰離子蓄電池，因此當(dāng)出現(xiàn)欠壓標(biāo)志時,應(yīng)及時充電，過放電對電池會有所損傷。 %1. 儀器如果長期不用，請每隔一個月對儀器進(jìn)行一次充電，以免過放電造成電池?zé)o法正常使用。 %1. 如果電池過放電導(dǎo)致無法正常充電時（電池沒電且充電指示燈不亮），可以將電源適配器拔下后過兩分鐘后再插上繼續(xù)充電，多次重復(fù)此操作可使電池充電恢復(fù)正常。 %1. 本儀器可以一邊充電一邊工作。

3.%2 故障排除

如果儀器出現(xiàn)下列不正常狀況：

%3. 儀器不能自動關(guān)機；

%3. 不能測量；

%3. 按鍵不工作；

%3. 測量值反復(fù)無常。

%3. 請用戶勿拆機自修。填妥保修卡后，請將儀器寄至我公司維修部門，執(zhí)行保修條例。  如果能將出現(xiàn)錯誤的情況簡單描述一下，一同寄出，我們將會非常感謝您。

4.%2 安全提示

本儀器的設(shè)計符合相關(guān)的安全標(biāo)準(zhǔn)。在使用時，要滿足所規(guī)定的外部環(huán)境條件，對于操作人員則要求具   備相應(yīng)的技術(shù)背景，以保證安全操作。在將本儀器投入使用之前，請認(rèn)真閱讀下面的安全提示：

注意：1. 本儀器是用于材料檢測的無損檢測儀器，不允許用作醫(yī)療儀器。 2. 本儀器于在實驗室和工業(yè)環(huán)境中使用。

系統(tǒng)電源

本儀器既可以通過外部電源適配器供電，也可以由鋰離子蓄電池供電。在選擇電源適配器和蓄電池時，   請使用我們推薦的產(chǎn)品。

電池充電和更換電池請參照我們的操作步驟進(jìn)行操作。

系統(tǒng)軟件

任何軟件都避免不了出現(xiàn)錯誤，但我們力爭將這種錯誤出現(xiàn)的幾率降到。本儀器的軟件經(jīng)過全面和   嚴(yán)格的測試。

意外故障

當(dāng)出現(xiàn)下面非正常情況時，表明儀器已經(jīng)出現(xiàn)故障，請關(guān)掉儀器電源，必要時將電池取出。并將儀器送   交的維修處進(jìn)行維修。

%3. 儀器遭受明顯的機械性損傷（如運輸過程中受到嚴(yán)重擠壓或碰撞）；

%3. 儀器鍵盤或屏幕顯示不正常；

%3. 在高溫、高濕度或腐蝕性的環(huán)境中長時間存放；

附錄

附錄一用戶須知

一、 用戶購買本公司產(chǎn)品后，請認(rèn)真填寫《保修登記卡》并請加蓋用戶單位公章。請將（一）聯(lián)和購機發(fā)票復(fù)印件寄回本公司用戶服務(wù)部，也可購機時委托售機單位代寄。（二）聯(lián)寄（留）當(dāng)?shù)胤止揪S修站辦理登記   手續(xù)。無維修站地區(qū)請用戶將（一）、（二）聯(lián)寄回本公司用戶服務(wù)部。手續(xù)不全時，只能維修不予保修。二、本公司產(chǎn)品從用戶購置之日起，一年內(nèi)出現(xiàn)質(zhì)量故障（非保修件除外），請憑“保修卡”（用戶留存聯(lián)）或購機發(fā)票復(fù)印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內(nèi)，不能出示保修卡   或購機發(fā)票復(fù)印件，本公司按出廠日期計算保修期，期限為一年。

三、超過保修期的本公司產(chǎn)品出現(xiàn)故障，各地維修站負(fù)責(zé)售后服務(wù)、維修產(chǎn)品，按本公司規(guī)定核收維修費。四、公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置”（異型探頭，專用軟件等），按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)收取費用。

五、凡因用戶自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運輸、保管不當(dāng)或未按“產(chǎn)品使用說明書”正確操作造成產(chǎn)品損壞，   以及私自涂改保修卡，無購貨憑證，本公司均不能予以保修。

附錄二操作一覽表

儀器的操作都是由面板按鍵直接觸發(fā)或者幾個按鍵組合出發(fā)實現(xiàn)的，下表給出了操作面板按鍵的具體圖   示和按鍵名稱、功能。

圖示	名稱	功能說明	章節(jié)
	方向鍵	菜單模式下,左右鍵用于選擇功能組,上下鍵用于調(diào)整功能組中的 功能項選擇。全屏模式下,左右鍵專門用于移動閘門,上下鍵專門用 于加減增益。	3.1～3.15
	飛梭按鈕	可以旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)參數(shù)和改變選項內(nèi)容，按下該旋鈕為<確定>功能	3.1～3.15
	增益	按增益鍵，光標(biāo)會轉(zhuǎn)移到增益值的位置，然后使用撥輪調(diào)節(jié)增益， 再按增益鍵，光標(biāo)會轉(zhuǎn)移到增益步長的位置，然后使用撥輪調(diào)節(jié)增益步長。增益調(diào)整 范圍是 0dB~120dB 。增益步長是 0dB,0.1dB,0.5dB,1dB,2dB,6dB,12dB.	3.17.2
	閘門	按閘門鍵，屏幕可以快速切換到閘門 A 功能菜單，連線按此鍵可 使功能菜單在 A 閘門起始、A 閘門寬度、A 閘門高度三個功能間切換，可快速對相應(yīng)功能進(jìn)行調(diào)整。	3.17.9
	自動增益	自動增益功能是一個快速調(diào)節(jié)儀器增益（dB）的工具，它可以自 動調(diào)整儀器的增益值，使得 A 閘門內(nèi)捕捉到的回波峰值達(dá)到設(shè)定的屏幕高度，例如 80％。設(shè)定范圍在 10%～99%	3.17.7
	峰值記憶	按峰值記憶鍵，可啟動或關(guān)閉峰值記憶功能。	3.17.6
	電源軟開關(guān)	開關(guān)儀器	2.2.1

附錄三.  焊縫探傷舉例

一．探傷檢測前的準(zhǔn)備

1.數(shù)字超聲波探傷儀

2.橫波斜探頭： 5M13×13K2

3.標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-IB 、CSK-3A 4． 30mm 厚鋼板的對接焊縫

5．DAC 參數(shù)：

（1）DAC 點數(shù)：d=5、10、15、20（mm）的 4 點

（2）判廢線偏移量：-4dB

（3）定量線偏移量：-10dB

（4）評定線偏移量：-16dB

6．耦合劑（如：機油等） 二．探測面的選擇

焊縫一側(cè)三．開機

1．將探頭和超聲探傷儀連接

2．開啟面板開關(guān)，開機自檢，進(jìn)入探傷界面。四．校準(zhǔn)

1．輸入材料聲速：3230m/s

2. 探頭前沿校準(zhǔn)

（1）如圖 1 所示，將探頭放在 CSK－1B 標(biāo)準(zhǔn)試塊的 0 位上

（2）前后移動探頭，使試塊 R100 圓弧面的回波幅度，回波幅度不要超出屏幕，否則需要減小增益。

（3）當(dāng)回波幅度達(dá)到時，保持探頭不動，在與試塊“0”刻度對應(yīng)的探頭側(cè)面作好標(biāo)記，這點就是波束   的入射點

（4）前沿距離校準(zhǔn)：

從探頭刻度尺上直接讀出試塊“0”刻度所對應(yīng)的刻度值，即為探頭的前沿值。（或用刻度尺測量圖 1 所示 L 值，前沿 x=100-L。）

3．探頭零點的校準(zhǔn)

（圖 1）CSK-IA 試塊校測零點和前沿示意圖

按圖 1 的方法放置探頭，用閘門套住波，調(diào)整探頭零點直到聲程 S=100

4．探頭 K 值校準(zhǔn)(折射角的校準(zhǔn))

由于被測物的材質(zhì)和楔塊的磨損會使探頭的實際 K 值與標(biāo)稱值有一些誤差。因此需要測定探頭的實際 K值。校準(zhǔn)步驟如下：

（1）如圖 2 將探頭放在 CSK－1A 標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)?shù)慕嵌葮?biāo)記上。

（2）前后移動探頭，找到試塊邊上大圓孔的回波波峰時，保持探頭不動。

（3）在試塊上讀出入射點與試塊上對齊的 K 值，這個角度為探頭的實際 K 值，將此值輸入。（或者通過計算斜率校準(zhǔn),當(dāng)菜單焦點在探頭角度選項下的時候，按<凍結(jié)>鍵，菜單顯示“L=80.0”,可實際測量  L    值，利用+，

- 鍵輸入 L 值，然后再次<確認(rèn)> 鍵，探傷儀將自動計算 K 值，見下圖 2）

X

L

35P

K=P+Xd =

50 °

60 °

70 °

（圖 2：折射角的校準(zhǔn)）

五．制作 DAC 曲線

用 CSK－3A 試塊制作 DAC 曲線

步：移動探頭找到孔深為

10mm 的回波，并將 A 閘門套住此波，按“+”鍵，使標(biāo)定點增加為“1”；

第二步：移動探頭找到孔深為

20mm 的回波，并將 A 閘門套住此波，按“+”鍵，使標(biāo)定點增加為“2”；

此時已添加了 2 個標(biāo)定點，

DAC 曲線已經(jīng)生成。根據(jù)探傷需要，可以繼續(xù)找到孔深為 30、

40、50mm 等反射體的回波，使標(biāo)定點增加為 3、4、5。第三步：輸入標(biāo)準(zhǔn)

在 DAC2 菜單上，將判費線偏移量設(shè)置為-4dB，定量線偏移量設(shè)置為-10dB，評定線偏移量設(shè)置為-16dB。

六．現(xiàn)場探傷

1．通過調(diào)整探傷靈敏度，使 DAC 曲線完整顯示在屏幕上，然后開始探傷。

2．探傷時一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查（即探頭運動軌跡為探頭）；

3．探頭沿焊口走向(前后)移動的距離：0~100mm（如：下圖） 計算方法：起點（位置 2）：0

終點（位置 2）：S=2KT=2×2×25=100mm(其中 K 表示探頭斜率，T 表示工件厚度)

4. 探頭沿焊口走向( 左右)移動的速度：≤1.5 米/分

七．存儲探傷波形和數(shù)據(jù)

將探傷波形和數(shù)據(jù)存儲到相應(yīng)組號。

八．將與計算機連接，將探傷波形和數(shù)據(jù)上傳到計算機，生成探傷報告。

附錄四名詞術(shù)語

本附錄列出了本說明書中所涉及到的超聲無損檢測的名詞術(shù)語，了解這些術(shù)語所代表的確切含義，有助于更   好的使用本說明書。

1. 脈沖幅度：脈沖信號的電壓幅值。當(dāng)采用 A 型顯示時，通常為時基線到脈沖峰頂?shù)母叨取?/p>

2. 脈沖長度：以時間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時間。

3. 分貝：兩個振幅或者強度比的對數(shù)表示。

4. 聲阻抗：聲波的聲壓與質(zhì)點振動速度之比，通常用介質(zhì)的密度 p 和速度 c 的乘積表示。

5. 聲阻抗匹配：聲阻抗相當(dāng)?shù)膬山橘|(zhì)間的耦合。

6. 衰減：超聲波在介質(zhì)中傳播時，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。

7. 總衰減：任何形狀的超聲束，其特定波形的聲壓隨傳播距離的增大，由于散射、吸收和聲束擴散等共同   引起的減弱。

8. 衰減系數(shù)：超聲波在介質(zhì)中傳播時，因材質(zhì)散射在單位距離內(nèi)聲壓的損失，通常以每厘米分貝表示。

9. 缺陷：尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對工件的有效使用會造成損害，或不滿足規(guī)定驗收標(biāo)準(zhǔn)要求的不   連續(xù)性。

10. A 型顯示：以水平基線（X 軸）表示距離或時間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)（Y 軸）表示幅度的一種信息表示方法。

11. 發(fā)射脈沖：為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。

12. 時基線：A 型顯示熒光屏中表示時間或距離的水平掃描線。

13. 掃描：電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動。

14. 掃描范圍：熒光屏?xí)r基線上能顯示的聲程。

15. 掃描速度：熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。

16. 延時掃描：在 A 型或 B 型顯示中，使時基線的起始部分不顯示出來的掃描辦法。

17. 水平線性：超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號（通過校正的時間發(fā)生器

或來自已知厚度平板的多次回波）成正比關(guān)系的程度。

18. 垂直線性：超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號幅度成正比關(guān)系的程度。

19. 動態(tài)范圍：在增益調(diào)節(jié)不變時，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的與最小反射面積波高之比。通常以分   貝表示。

20. 脈沖重復(fù)頻率：為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵探頭晶片的脈沖次數(shù)。

21. 檢測頻率：超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為 0.4 MHz ~15MHz。

22. 回波頻率：回波在時間軸上進(jìn)行擴展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數(shù)。

23. 靈敏度：在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號的一種量度。

24. 靈敏度余量：超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測靈敏度與探測靈敏度之間的差值。

25. 分辨力：超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。

26. 抑制：在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號（電或材料的噪聲），以突出較大信號的一種控制方法。

27. 閘門：為監(jiān)控探傷信號或作進(jìn)一步處理而選定一段時間范圍的電子學(xué)方法。

28. 衰減器：使信號電壓（聲壓）定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。

29. 信噪比：超聲信號幅度與背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。

30. 阻塞：接收器在接收到發(fā)射脈沖或強脈沖信號后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。

31. 增益：超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數(shù)形式。以分貝表示。

32. 距離波幅曲線（DAC）：根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個參量繪制的一組曲線。實際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的   當(dāng)量尺寸。

33. 耦合：在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。

34. 試塊：用于鑒定超聲檢測系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。

35. 標(biāo)準(zhǔn)試塊：材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機關(guān)或機構(gòu)檢定的試塊。用于對超聲檢測裝置或系統(tǒng)的性能   測試及靈敏度調(diào)整。

36. 對比試塊：調(diào)整超聲檢測系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。

37. 探頭：發(fā)射或接收（或既發(fā)射又接收）超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背   襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。

38. 直探頭：進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。

39. 斜探頭：進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。

附錄五有關(guān)超聲波探傷的國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

及本說明書涉及到的超聲波探傷國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有：

1、GB/T 12604.1–90 無損檢測術(shù)語 超聲檢測

2、JB/T 10061-1999 A 型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件

3、JJG 746-2004超聲探傷儀中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

裝箱卡

序號	名稱	數(shù)量	單位
1	探傷儀主機	1	臺
2	直探頭	1	只
3	斜探頭	1	只
4	電源適配器	1	個
5	BNC 探頭連電纜	2	根
6	使用說明書	1	本
7	儀器箱	1	個
8	數(shù)據(jù)處理軟件	1	套