JY-FT-341 四探針電阻率測試儀

一、簡介：

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜

二．描述：
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

三、技術指標
1.方塊電阻 10^-5～2×10^5Ω/□
2.電阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm
3.測試電流 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式 雙電測量
8.電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz
9.誤差 ≤3%（標準樣片結果）
10.選購功能
選購1.pc軟件；
選購2.方形探頭；
選購3.直線形探頭；
選購4.測試平臺；
11.測試探頭 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
12.標準電阻（選購） 規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

JY-FT-341 四探針電阻率測試儀

一、簡介：

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜

二．描述：
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

三、技術指標
1.方塊電阻 10^-5～2×10^5Ω/□
2.電阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm
3.測試電流 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式 雙電測量
8.電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz
9.誤差 ≤3%（標準樣片結果）
10.選購功能
選購1.pc軟件；
選購2.方形探頭；
選購3.直線形探頭；
選購4.測試平臺；
11.測試探頭 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
12.標準電阻（選購） 規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ