紫外可見分光光度計UV757CRT 介紹：


UV757系列紫外可見分光光度計能在紫外、可見光譜區(qū)域內對樣品物質作定性和定量的分析。該產品可廣泛應用于醫(yī)藥衛(wèi)生、臨床檢驗、生物化學、石油化工、環(huán)境保護、質量控制等部門，使理化實驗室常用的分析儀器之一。

主機功能：

采用微機測量系統(tǒng)，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整99%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機，另行選配）。

紫外可見分光光度計UV757CRT 聯(lián)機功能：

通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。

UV757CRT 附帶電腦，打印機。

技術指標：

波長范圍：200nm～1000nm

光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）

接收元件：光電池

波長大允許誤差：±0.5nm

波長重復性：≤0.2nm

光譜帶寬：2nm

雜散光：≤0.3%（T）（在220nm以Nal測定和340nm處以NaNO2測定）

透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）

吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000（A）

透射比大允許誤差：±0.5%（T）

透射比重復性：≤0.2%（T）

噪聲：99%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）

穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它：

電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz