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      透明薄膜測(cè)厚儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地廣州市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/7/18 8:14:26
      • 訪問次數(shù)156
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      廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國(guó)家高業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,擁有近20項(xiàng)國(guó)家專~利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計(jì),積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平,未來面向市場(chǎng)。 貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號(hào),貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工,陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker,英國(guó)OXFORD,美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。  我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè),更貼心的服務(wù)?! ∥覀兊膬?yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測(cè)試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。 材料分析領(lǐng)域代理品牌: OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。 同時(shí),我們也關(guān)注生命與健康領(lǐng)域,提供生化、合成實(shí)驗(yàn)室需要的儀器,如:?jiǎn)渭?xì)胞分析儀、臺(tái)式NMR,冷凍干燥機(jī)、高速離心機(jī)、旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀、肉類快速分析儀、凝膠照膠機(jī)、機(jī)械泵等。 生化分析領(lǐng)域代理品牌: Witec、OTO、Thermo Fisher、ATS、OXFORD、MPW、Steroglass、Chipron、PIE、Edward等。
      透明薄膜測(cè)厚儀根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。
      透明薄膜測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品介紹

      價(jià)格區(qū)間面議

      透明薄膜測(cè)厚儀

      儀器介紹   

          TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。

       

      透明薄膜測(cè)厚儀

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價(jià)比高

       

      透明薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用案例

       

      透明薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

      半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

      LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

      LED (SiO2、光刻膠ITO等)

      觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測(cè)試等)

      汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)

      醫(yī)學(xué)(聚對(duì)二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等)

       

      技術(shù)參數(shù)

      型號(hào)

      TF200-VIS

      TF200-EXR

      TF200-DUV

      TF200-XNIR

      波長(zhǎng)范圍

      380-1050nm

      380-1700nm

      190-1100nm

      900-1700nm

      厚度范圍

      50nm-40um

      50nm-300um

      1nm-30um

      10um-3mm

      準(zhǔn)確度1

      2nm

      2nm

      1nm

      10nm

      精度

      0.2nm

      0.2nm

      0.2nm

      3nm

      入射角

      90°

      90°

      90°

      90°

      樣品材料

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      測(cè)量模式

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      光斑尺寸2

      2mm

      2mm

      2mm

      2mm

      是否能在線

      掃描選擇

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

             2.可選微光斑附件。

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