LiSpec-HSR-TEC系列科研級熱電制冷高性能光譜儀是萊森光學（LiSen Optics）的明星產(chǎn)品，采用了在200-1000nm高量子效率的1044 x 64像素薄型背照制冷型面陣CCD，其像元尺寸達到24µm×24µm，具有非常高的科研級靈敏度，同時采用了高性能穩(wěn)定的TE制冷裝置、降噪低噪聲電路控制技術(shù)，光譜儀暗噪聲極低，優(yōu)良的穩(wěn)定性，高信噪比.LiSpec-HSR-TEC系列采用了大焦距C-T光學平臺設(shè)計，雜散光光陷阱控制技術(shù)，大大提升了光譜儀的性噪比、靈敏度以及熱穩(wěn)定性，非常適合紫外輻射、拉曼、熒光等微弱光譜信號的測量。

LiSpec-HSR-TEC科研級熱電制冷高性能光譜儀光譜覆蓋范圍200-1100nm，可根據(jù)用戶需求配置不同刻線數(shù)的光柵，狹縫大小，消二級衍射濾光片，獲得不同的波長范圍光譜和分辨率。此外，LiSpec-HSR-TEC光譜儀還采用了可更換狹縫設(shè)計，用戶可以方便輕易的自己進行狹縫更換，配置多種不同寬度的狹縫，以滿足不同分辨率和靈敏度的光譜測量需求，以拓展其靈活性。

主要技術(shù)特點

2  光譜范圍200-1100nm可選，大焦距CT光路設(shè)計，分辨率高，狹縫可更換，擴展靈活

2  熱電致冷背照式面陣CCD，光譜響應(yīng)量子效率高、穩(wěn)定性好

2  噪聲電路控制技術(shù)，極低暗噪聲，信噪比、動態(tài)范圍高

2  高靈敏度及熱穩(wěn)定性，非常適合拉曼、熒光等微弱信號光譜應(yīng)用

2  LiSpecView全功能光譜測試軟件，提供透反射、輻射、拉曼、吸光度、激光功率、顏色測量等多種測量模塊

主要技術(shù)數(shù)據(jù)

典型案例

2拉曼光譜測量

拉曼測量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會更弱一個數(shù)量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進行表面拉曼增強（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。

萊森光學的光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進行對微弱光譜信號的拉曼測量應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于食品安全、化學實驗室、生物及醫(yī)學等光學方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認；還可以應(yīng)用于刑偵中對的檢測及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。

2顏色測量

2輻射測量

輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標準。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標準光源，對光譜儀系統(tǒng)進行輻射標定，才能通過量化參數(shù)進行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關(guān)聯(lián)（光度學），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測量定義輻射度學參數(shù)、光度學參數(shù)、色度學參數(shù)。輻射度學參數(shù)主要以輻照度μW/cm²、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數(shù)µMol/s/m²，µMol/m²，µMol/s和µMol，光度學參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強度Candela，色度學參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等。

l輻照度測量

lLED顏色測量

2吸光度測量

光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強度要高于透過樣品的光強。吸光度被廣泛運用于液體和氣體的光譜測量技術(shù)中，可以對物質(zhì)進行定量鑒別或指紋認證等，還可以將該應(yīng)用集成到工業(yè)應(yīng)用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測試中。

使用萊森光學模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實驗室或者現(xiàn)場，對整套光學測量裝置進行快速配置?？梢曰谌R森光學優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗搭配出多種配置選擇。

l液體吸光度

l氣體吸光度

2薄膜測量

薄膜測量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學函數(shù)被計算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達1 nm。薄膜測量應(yīng)用于半導體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。

2透/反射光譜測量

隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴格，利用光纖光譜儀進行快速準確的透/反射光譜的測量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等設(shè)備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會演化為更多的形式。

光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點，已經(jīng)成功的廣泛應(yīng)用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測試。萊森光學為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。

l反射測量

反射測量（探頭）

反射測量（積分球）

l透射測量

2熒光光譜測量

熒光物質(zhì)在特定波長的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測量靈敏度高、選擇性強、樣品用量少、方法簡便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點，所以在工程應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測、生物醫(yī)學中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學中用于石油礦物勘探、

土壤礦物成分的測定以及物質(zhì)中微量元素的檢測等等。

熒光光譜測量通常需要高靈敏度的光譜儀。對于大多數(shù)熒光應(yīng)用來說，產(chǎn)生的熒光能量只相當于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長長，而且一般都是在各個方向上輻射能量的散射光。萊森光學光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設(shè)計，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測量系統(tǒng)。