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      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱蘇州佐藤精密儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質經銷商
      • 更新時間2023/6/8 20:02:12
      • 訪問次數(shù)445
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      聯(lián)系我們時請說明是 智能制造網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!

      ~ 蘇州佐藤精密儀器有限公司是一家專業(yè)為實驗室提供整體解決方案的銷售與服務公司,主要致力于為客戶提供實驗室各種基礎設備以及大型色譜、質譜分析儀器,產品廣泛應用于生物技術、化工、電子、食品、環(huán)境、以及政府單位和高??蒲性核阮I域。公司目前代理產品有:日本三菱化學、日本希森美康、日本日立、德國耐馳、德國IKA、美國TA、美國賽默飛、美國哈希、瑞士梅特勒、英國馬爾文等。

             公司具有一批受過專業(yè)培訓、富有經驗的工程技術人員,承擔項目的咨詢、設計,有關儀器設備安裝、調試以及工程集成工作。公司本著服務于客戶的理念,為客戶提供:維修、培訓、安裝、3Q認證等一站式服務。隨著用戶群的不斷壯大,我們將通過定期回訪客戶,發(fā)放較早儀器使用資料及說明等方式提供更加完善的售后服務。我們時刻與廠家保持著密切的聯(lián)系,不僅擁有產品在商務和技術方面的強有力的支持,更可保證銷售與技術服務人員定期的全面產品和技術培訓。同時,為了保證這種專業(yè)服務的整體質量與效率,我們努力建立多層次的客戶意見與售后服務情況反饋渠道,并定期召開會議檢討工作。

             公司建立及健全了一支來自不同領域、對實驗室擁有良好經驗的銷售隊伍,同時亦具備了足夠的人力從事于外貿工作——訂貨、物流、客戶服務等后勤工作。為所有的客戶提供*、*質的服務。

             公司的宗旨:以我們*的服務,將國內外*的儀器介紹給你,為你打造輕松、便捷、快速的實驗環(huán)境。我們以科技力量為依托,以市場為導向,不斷的引進新產品,更好的為廣大客戶提供滿意的服務。

      三菱儀器,化學試劑,分析儀器,檢測稱重設備,防爆空調
      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡
      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡 產品信息

      產品簡介

      對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 

      為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 

      為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

      ? 簡單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作。 
      ? 利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結果。 
      ?快速輕松表征導電和非導電樣品 
      ? 支持可選的分析功能。利用的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導電樣品和不導電樣品的精確EDS分析成為可能。 
      ? Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。


      分辨率 加速
      電壓
      探針電流 樣品臺 放大率 試件室尺寸
      Q25 SEM

      High vacuum 

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

      • 8.0 nm at 3 kV (SE)

      Low vacuum

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

      • 10 nm at 3 kV (SE)

      *optional

      200 V - 30 kV up to 2 μA, continuously adjusted 13 to 1000000x 284 mm size left to right
      Q45 SEM

      High vacuum 

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

      • 8.0 nm at 3 kV (SE)

      High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) 

      Low vacuum

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

      • 10 nm at 3 kV (SE)

      Extended vacuum mode (ESEM)
      3.0 nm at 30 kV (SE) 

      *optional

      200 V - 30 kV up to 2 μA, continuously adjusted 6 to 1000000x 284 mm size left to right
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