HAADF-STEM圖像0.136 nm,F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)
HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)
元素面分布更迅速及時(shí)
低濃度元素檢測
自動(dòng)圖像對(duì)中功能
樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容
同時(shí)獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。
低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至)
高精度放大校準(zhǔn)和測量*
實(shí)時(shí)衍射單元*(同時(shí)觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*,具有自動(dòng)傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時(shí)元素面分布系統(tǒng)*(同時(shí)獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)