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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 系列產(chǎn)品-華普通用

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱深圳華普通用科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號Sigma系列
      • 所  在  地深圳市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2023/6/2 11:56:00
      • 訪問次數(shù)192
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      聯(lián)系我們時請說明是 智能制造網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!

          深圳華普通用科技有限公司(簡稱華普通用)成立于2004年,多年來孜孜不倦服務(wù)斯派克光譜儀大中華區(qū)用戶,榮獲德國斯派克分析儀器公司*大中華區(qū)代理;聯(lián)合阿美特克集團提供一站式實驗室解決方案。

           公司總部位于深圳市寶安區(qū)鴻輝科技園,在北京、上海、香港、蘇州、廈門等地設(shè)有分支機構(gòu),擁有覆蓋全國的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)。華普通用擁有一批技術(shù)型專業(yè)的售后隊伍,在多年的發(fā)展中積累了大量的案例和經(jīng)驗,給客戶提供迅速、完善、專業(yè)的服務(wù)。長風破浪會有時,直掛云帆濟滄海,華普通用將通過不懈的努力,繼續(xù)專注于為客戶提供分析測試解決方案。

            我們的使命:為用戶人而生

      直讀光譜儀,離子質(zhì)譜儀
      德國蔡司Sigma 系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
      德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 系列產(chǎn)品-華普通用 產(chǎn)品信息

      靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

      將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。

      纖維,在傷口護理中敷的抗菌藥

      用于清晰成像的靈活探測

      • 利用*探測術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

      • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

      • 利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

      Sigma 的 4 步工作流程節(jié)省大量的時間

      自動化加速工作流程

      • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓首先,先對樣品進行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

      • 首先,先對樣品進行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

      • 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步,將結(jié)果可視化。

      使用頂級的 EDS 幾何探測器加速 X 射線分析

      高級分析型顯微鏡

      • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

      • 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

      • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

      Gemini 鏡筒的橫截面示意圖

      基于成熟的 Gemini 技術(shù)

      • Gemini 鏡頭的設(shè)計結(jié)合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

      • Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

      • Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。

      用于清晰成像的靈活探測

      • 利用新的探測技術(shù)表征所有的樣品。

      • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。

      • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。

      • 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。

      • 利用 BSD 或者 YAG 探測器進行成份分析。

      配件

      smart-edx_system

      SmartEDX

      為您帶來一體化能譜分析解決方案

      如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:

      • 優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過率,可以探測輕元素的低能X射線。

      • 工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。

      • 完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護及保修提供一站式服務(wù)。

       


       

      拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

      集成化的拉曼成像

      在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中無二的化學指紋信息,從而指認其成分。

      • 識別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息

      • 可進行3D分析,在需要時可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。

      • 集成RISE讓您體驗由*的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢。



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