x射線膜厚儀* 技術指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時分析zui多24個元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度zui薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。
* 小孔準直器（zui小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。
* 高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個可選擇的分析和識別模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 標準配置開放式樣品腔。
* 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* 半導體探測器。
* 信號檢測電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。
x射線膜厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器，這種測量方法可以實現(xiàn)連續(xù)的實時在線測量。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。
無論是汽車部件、衛(wèi)浴器具，還是半導體支架、接插端子、金銀首飾，美國bowman公司都一一有理想的儀器去進行測量。美國bowman提供的都是高效率、低成本的測量儀器，它廣泛應用于各類電鍍工件的鍍層測厚及貴重首飾的成色分析，簡單易用，維護方便，是節(jié)省生產成本的好幫手。