測(cè)量原理
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術(shù)-EDXRF技術(shù),也即能量色散X射線熒光技術(shù)。該技術(shù)測(cè)量樣品中原子產(chǎn)生的特征X射線光譜,更重要的是,這種測(cè)量方法在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中是連續(xù)的,而不是只對(duì)起始時(shí)間進(jìn)行瞬間測(cè)量。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原理 | X射線能量色散技術(shù) |
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測(cè)量元素范圍 | 原子序數(shù)14-92 |
測(cè)量范圍 | 濃度等級(jí)從0.5ppm到%等級(jí) |
測(cè)量范圍 | 每臺(tái)儀器最多可測(cè)量15種元素 |
精度 | 取決于具體應(yīng)用,從ppm到%等級(jí)。穩(wěn)定性:優(yōu)于0.5% |
工業(yè)計(jì)算機(jī) | Windows嵌入式操作系統(tǒng),液晶彩屏,完整的ASCII鍵盤 |
模擬輸出 | 獨(dú)立的4-20mA模擬輸出 |
通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網(wǎng)絡(luò)通訊協(xié)議(MODBUS) |
環(huán)境溫度 | 5-40°C |
X射線探頭 | 硅漂移探測(cè)器,分辨率135eV,低噪聲 |
高壓電源 | 0-50kV |
測(cè)量源 | 15W X光射線管,銀制電極 |
采樣窗口 | Be鈹 |
穩(wěn)定性 | 自動(dòng)偏移校正,自動(dòng)反向散射峰校正 |
樣品流速 | 0.2-0.5L/min |
樣品池溫度 | 可達(dá)80°C |
樣品池壓力 | 標(biāo)準(zhǔn)大氣壓 |
樣品粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
樣品污染物 | >10微米需濾除,消除自由水 |
電源 | 110-230VAC, 50/60 Hz |
功耗 | 100VA |
儀表風(fēng) | 對(duì)于Exp型版本以及標(biāo)配氣動(dòng)閥(可選電動(dòng)閥)需要<2L/min的儀表風(fēng) |
產(chǎn)品特點(diǎn)
1 使用EDXRF技術(shù),C-Quand可測(cè)量從硅(原子數(shù)14)到鈾(原子數(shù)92)之間的任何元素,濃度范圍從ppm到%,測(cè)量的濃度范圍和精度根據(jù)具體應(yīng)用而定。
- 2 長(zhǎng)期測(cè)量的穩(wěn)定性,通過(guò)內(nèi)標(biāo)消除檢測(cè)器和電子漂移
- 3 直接測(cè)量,無(wú)需高溫轉(zhuǎn)換
- 4 樣品池和第二個(gè)保護(hù)窗保護(hù)檢測(cè)器免受樣品污染
- 5 配置檢漏儀,如果遇到檢測(cè)窗破裂,可切斷安全閥門
- 6 檢測(cè)源是一個(gè)X射線管,意味著切換電源時(shí),將停止輻射
- 7 可選加熱測(cè)量池,可將粘度高達(dá)100cSt的高粘度樣品加熱至80℃
- 8 寬測(cè)量范圍,從ppm到%水平均可保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性
- 9 測(cè)量過(guò)程不受樣品密度和C/H比變化的影響
- 10 配合高敏感度、低噪聲的硅漂移探測(cè)器
- 11 連續(xù)無(wú)損測(cè)量,保證工藝不受干擾
- 12 日常維護(hù)簡(jiǎn)單,定期清理測(cè)量池即可,測(cè)量池可拆卸,方便清潔
- 13 可選擇的信號(hào)輸出模式,4-20mA信號(hào),MODBUS TCP/IP或RS485
- 14 每臺(tái)儀器多可測(cè)15種元素,測(cè)量的兼容性好
- 15 自動(dòng)校正漂移,確保測(cè)量準(zhǔn)確性
應(yīng)用領(lǐng)域
XRF法是分析石油產(chǎn)品種總硫含量合適的方法,相比通過(guò)流動(dòng)注射或轉(zhuǎn)化法測(cè)二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術(shù)方法相比,當(dāng)檢測(cè)樣品的沸點(diǎn)超過(guò)450℃時(shí),不再適合總硫分析,應(yīng)用行業(yè)包括:
- 石油精煉工業(yè): 燃油和原油中總硫的測(cè)定、煉油催化劑中雜質(zhì)和微量金屬測(cè)定
- 化學(xué)工業(yè): 石化工藝中催化劑的測(cè)定
- 電鍍工業(yè): 測(cè)定電鍍槽中的金屬元素
- 污水處理: 測(cè)定污水中的痕量金屬元素
- 地質(zhì)學(xué): 稀土中元素分析、玉石元素成分分析