鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析,確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)。
1、高分辨率的硅漂移器(SDD)
2、開槽式超大樣品艙設計
3、8個準直器4、USB接口與計算機連接
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。
鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統(tǒng)及超大樣品艙,針對較薄而復雜的樣品,具有的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
亮點
1、采用微聚焦X射線光管,實現(xiàn)高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低
2、采用高分辨率的硅漂移探測器(SDD),提供能量級別的效率,極低的檢出限(LOD)
3、多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額,提高測量效率
4、開槽式超大樣品艙設計,十分適合電路板或其他超大平板樣品
5、“USB接口”只需通過USB與計算機連接,無需額外的硬件或軟件
6、德國制造,符合工程標準,堅固耐用的設計可實現(xiàn)長期可靠性
7、通過PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認證,滿足輻射安全標準

1、最多同時測定5層,15種元素及共存元素的校正
2、同時實現(xiàn)多于25種元素的定量分析
3、檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證
性能及符合性
1、最多同時測定5層,15種元素及共存元素的校正
2、同時實現(xiàn)多于25種元素的定量分析
3、檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證
1、可編程的XY樣品臺
2、樣品腔體積:500 × 450 × 170 mm
3、創(chuàng)新的防撞設計
可編程的樣品臺
1、預定位激光技術(shù)
2、的樣品臺行程范圍及速度
3、自動測量
軟件及校準
1、基于WindowsTM 7操作系統(tǒng),直觀的軟件MaxxControl
2、選擇經(jīng)驗校準以實現(xiàn)準確性或選擇FP無標樣模式以輕松實現(xiàn)校準
3、成分分析:可自由選擇元素;厚度測量:可自定義鍍層結(jié)構(gòu)
4、對RoHS和貴金屬進行工廠預裝校準(可選)