膠粘劑介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
項(xiàng)目/型號(hào) | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成信號(hào) | ||
頻率范圍 | 10KHZ-70MHZ | 10KHZ-110MHZ | 100KHZ-160MHZ |
信號(hào)源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
采樣精度 | 11BIT | 12BIT | |
信號(hào)源頻率精度 | 3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) | ||
Q值測(cè)量范圍 | 1~1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 | ||
Q值量程分檔 | 30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 | ||
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | ||
Q測(cè)量工作誤差 | <5% | ||
電感測(cè)量范圍 | 1nH~8.4H,;分辨率0.1 | 1nH~140mH;分辨率0.1 | |
電感測(cè)量誤差 | <3% | ||
電容直接測(cè)量范圍 | 1pF~2.5uF | 1pF~25uF | |
調(diào)諧電容誤差分辨率 | ±1pF或<1% | ||
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30~540pF | 17~240pF | |
諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 | ||
自身殘余電感扣除功能 | 有 | ||
大電容值直接顯示功能 | 有 | ||
介質(zhì)損耗直讀功能 | 有 | ||
介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 | ||
介質(zhì)損耗測(cè)試范圍 | 0.0001-1 | ||
介電常數(shù)直讀功能 | 有 | ||
介電常數(shù)精度 | 千分之一 | ||
介電常數(shù)測(cè)試范圍 | 0-1000 | ||
LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,LT,CT,波段等 | ||
準(zhǔn)確度 | 150pF以下±1pF;150pF以上±1% | ||
Q合格預(yù)置范圍 | 5~1000聲光提示 | ||
環(huán)境溫度 | 0℃~+40℃ | ||
消耗功率 | 約25W | ||
電源 | 220V±22V,50Hz±2.5Hz | ||
極片尺寸 | 38mm/50mm(二選一) | ||
極片間距可調(diào)范圍 | ≥15mm | ||
材料測(cè)試厚度 | 0.1-10mm | ||
夾具插頭間距 | 25mm±0.01mm | ||
夾具損耗正切值 | ≤4×10-4 (1MHz) | ||
測(cè)微桿分辨率 | 0.001mm | ||
測(cè)試極片 | 材料測(cè)量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調(diào) ≥ 15mm |
膠粘劑介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn):
《JJG563-2004高壓電容電橋檢定規(guī)程》
《JB1811-92壓縮氣體標(biāo)準(zhǔn)電容器》
《GB1409-2016固體絕緣材料相對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》
《ASTM D150固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗(yàn)方法》
《IEC 60250測(cè)定電氣絕緣材料在工頻、音頻、射頻(包括米波長(zhǎng))下電容率和電介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》
介電損耗的形式
電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下,內(nèi)部通過的電流包括:
〔1〕電容電流:由樣品的幾何電容充電引起電流〔位移電流〕;
〔2〕吸收電流:由松弛極化引起,是介質(zhì)在交變電壓作用下引起介質(zhì)損耗的主要來源;
〔3〕漏電電流:由介質(zhì)電導(dǎo)引起,與自由電荷有關(guān),使介質(zhì)產(chǎn)生電導(dǎo)損耗。
電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下具體損耗的能量主要包括:
⑴極化損耗:在外電場(chǎng)中各種介質(zhì)極化的建立引起了電流,此電流與極化松弛等有關(guān),引起的損耗稱為極化損耗。
⑵電導(dǎo)損耗:在電場(chǎng)作用下,導(dǎo)電載流子做定向漂移,形成傳導(dǎo)電流,電流大小由介質(zhì)本身性質(zhì)決定,這局部傳導(dǎo)電流以熱的形式消耗掉,稱之為電導(dǎo)損耗。
⑶電離損耗和構(gòu)造損耗
介電性能的測(cè)量方法
依據(jù)所測(cè)量的根本原理可分為三大類①電橋法②諧振回路法③阻抗矢量法
電橋法
測(cè)量范圍:~150MHZ
測(cè)量原理:根據(jù)電橋平衡時(shí)兩對(duì)邊阻抗乘積相等,從而來確定被測(cè)電容器或介質(zhì)材料試樣的CX和tanX。
諧振回路法
測(cè)量范圍:40KHZ~200MHZ
測(cè)量原理:依據(jù)諧振回路的諧振特性進(jìn)展測(cè)量的。根據(jù)諧振時(shí)角頻率ω與回路的電感、電容之間的特定關(guān)系式,求得Cx和tanδX。
阻抗矢量法
測(cè)量范圍:~200MHZ
測(cè)量原理:通過矢量電壓一電流的比值的測(cè)量來確定復(fù)阻抗的,進(jìn)而獲得網(wǎng)絡(luò)、元件或材料的有關(guān)參數(shù)。
介電性能測(cè)試內(nèi)容主要包括
⑴絕緣電阻率
⑵相對(duì)介電常數(shù)
⑶介質(zhì)損耗角正切
⑷擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度
絕緣電阻率測(cè)試
絕緣電阻率測(cè)試通常采用三電極系統(tǒng),可以分別測(cè)出試樣的體積電阻率ρv和外表電阻率ρs,測(cè)量電路圖如以下圖所示。
體積電阻率測(cè)試線路圖
外表電阻測(cè)量線路圖
平板試樣
管狀試樣
電極材料可用粘貼鋁箔、導(dǎo)電橡皮、真空鍍鋁、膠體石墨等
相對(duì)介電常數(shù)〔εr〕測(cè)試
相對(duì)介電常數(shù)通常是通過測(cè)量試樣與電極組成的電容、試樣厚度和電極尺寸求得。
平板試樣
管狀試樣
介質(zhì)損耗角正切〔tanδ)的測(cè)定
通過測(cè)量試樣的等效參數(shù)經(jīng)計(jì)算求得,也可在儀器上直接讀取。
工頻、音頻下一般都采用電橋法測(cè)量,高電壓時(shí)采用西林電橋法。
西林電橋法
電橋平衡時(shí)
CN→標(biāo)準(zhǔn)電容
C4→可調(diào)電容
R4→固定電阻
R3→可調(diào)電阻
當(dāng)頻率為幾十千赫到幾百兆赫范圍時(shí),可用集總參數(shù)的諧振法進(jìn)展測(cè)量,如下圖